[發明專利]一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法及裝置

在審

• 申請號: 201811493380.1
• 申請日: 2018-12-07
• 公開（公告）號: CN111289572A
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發明（設計）人: 李紅英
• 申請（專利權）人: 中南大學
• 主分類號: G01N27/04
• 分類號: G01N27/04
• 代理公司: 長沙市融智專利事務所(普通合伙) 43114
• 代理人: 蔣太煒

1.一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：連續采集檢測材料的信息，根據連續采集的信息及計算出的電阻參數判定檢測材料的質量；所述信息包括但不限于電壓、電流、位置，所述信息是連續信息，所述連續信息是連續采集檢測材料不同位置的信息；所述電阻參數包括電阻和/或電阻率，由電壓或電流信息及檢測區域材料的尺寸信息計算得到；將所獲實際電阻參數與標樣電阻參數進行比對，當|實際電阻參數-標樣電阻參數|/標樣電阻參數大于等于缺陷判斷閾值時，判定所獲實際電阻參數對應區域存在缺陷，當|實際電阻參數-標樣電阻參數|/標樣電阻參數小于缺陷判斷閾值時，則判定所獲實際電阻參數對應區域質量合格；檢測時，檢測裝置和檢測材料有相對運動。

2.根據權利要求1所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：所述缺陷判斷閾值用R_r表示，所述R_r的取值大于等于0.0001，優選為0.0001～0.1，進一步優選為0.0001～0.01，更進一步優選為0.0001～0.001。

3.根據權利要求1或2所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：當|實際電阻參數-標樣電阻參數|/標樣電阻參數大于等于R_r時，判定所測區域的材料至少包括1種或1個缺陷，計算R_y，所述R_y＝(Y_m-Y_s)÷Y_s，所述Y_s為標樣電阻參數，所述Y_m為實際電阻參數的最大值或最小值，所述R_y為缺陷判定因子；R_y＞0時，缺陷種類包括但不限于劃痕、凹陷、尺寸偏小、撕裂、裂紋、腐蝕、夾渣、氣泡、壓痕，R_y＜0時，缺陷種類包括但不限于凸起、耳子、彎折、尺寸偏大。

4.根據權利要求1所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：所述標樣電阻參數為標樣的電阻參數；所述標樣可以根據標準確定，所述標準為國家標準、行業標準或企業標準。

5.根據權利要求1所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：所述標樣電阻參數還可以由用戶確定，或根據用戶確定的標樣檢測和/或計算獲得。

6.根據權利要求4或5所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：通過檢測獲取標樣電阻參數時，檢測環境與實際檢測環境相同，所述檢測環境包括但不限于溫度、壓強、濕度、噪音。

7.根據權利要求1所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：所述電壓或電流信息的采集方法包括但不限于直流四點法、單電橋法、雙電橋法。

8.根據權利要求7所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法；檢測裝置通過接觸端與檢測材料接觸，接觸方式包括但不限于點接觸、陣列接觸、線接觸、面接觸；所述接觸端與檢測材料的接觸面積小于等于100mm²，優選為小于等于25mm²，進一步優選為小于等于1mm²，更進一步優選為小于等于0.01mm²。

9.根據權利要求8所述的一種基于電阻參數無損檢測導電材料質量的方法，其特征在于：在所述接觸端中，用于信息采集接觸端的間距小于等于3000mm，優選為小于等于1000mm，進一步優選為小于等于500mm，更進一步優選為小于等于100mm，還可進一步優選為小于等于50mm或小于等于25mm。