[發明專利]增強型斷層掃描儀

在審

• 申請號: 201811492748.2
• 申請日: 2018-12-07
• 公開（公告）號: CN109596645A
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 張恩杰;胡麗明
• 申請（專利權）人: 寧波耀通管閥科技有限公司
• 主分類號: G01N23/046
• 分類號: G01N23/046
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種增強型斷層掃描儀，所述掃描儀包括：

X球管，包括陽極、陰極、真空管、外殼和保護罩，所述真空管、所述陽極和所述陰極都位于所述外殼內。

2.如權利要求1所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

在所述X球管內，所述陽極和所述陰極相對設置，所述保護罩設置在所述外殼之外。

3.如權利要求2所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

在所述X球管內，所述外殼由金屬陶瓷材料鑄造而成，用于保證電子在真空管內的自由加速。

4.如權利要求3所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于，所述掃描儀還包括：

數量設定設備，用于接收當前結構類型，并確定與所述當前結構類型對應的連續掃描次數；

閉運算處理設備，用于接收掃描成像圖像，并對所述掃描成像圖像執行圖像閉運算處理，以獲得閉運算處理圖像；

內容檢測設備，與所述閉運算處理設備連接，用于檢測所述閉運算處理圖像中的最大目標，將所述最大目標在所述閉運算處理圖像中占據的區域作為所述閉運算處理圖像對應的目標圖像區域，對所述目標圖像區域執行灰度分布分散度等級分析，以獲得對應的即時分散度等級，并輸出所述即時分散度等級；

信號辨別設備，與所述內容檢測設備連接，用于接收所述即時分散度等級，并在所述即時分散度等級未超過預設等級閾值時，發出第一控制信號，以及在所述即時分散度等級超過預設等級閾值時，發出第二控制信號；

分散度處理設備，分別與所述信號辨別設備和所述內容檢測設備連接，用于在接收到第一控制信號時，對所述閉運算處理圖像執行循環式的直方圖均衡處理，直到獲取的處理后的圖像的即時分散度等級超過預設等級閾值，并將獲取的處理后的圖像作為分散度處理圖像輸出；

結構采集設備，分別與所述幀數設定設備和所述分散度處理設備連接，用于對所述分散度處理圖像中的掃描結構進行輪廓識別，以確定對應的當前結構類型，并輸出所述當前結構類型；

其中，所述內容檢測設備包括內容接收子設備、目標分割子設備、等級分析子設備和數據輸出子設備；

其中，在所述內容檢測設備中，所述內容接收子設備用于接收所述閉運算處理圖像，所述目標分割子設備與所述內容接收子設備連接，用于將所述最大目標在所述閉運算處理圖像中占據的區域作為所述閉運算處理圖像對應的目標圖像區域。

5.如權利要求4所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

在所述內容檢測設備中，所述等級分析子設備分別與所述目標分割子設備和所述數據輸出子設備連接，用于對所述目標圖像區域執行灰度分布分散度等級分析，以獲得對應的即時分散度等級。

6.如權利要求5所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

所述分散度處理設備還用于在接收到第二控制信號時，將所述閉運算處理圖像作為分散度處理圖像輸出。

7.如權利要求6所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于，所述掃描儀還包括：

第一解析設備和第二解析設備，位于所述分散度處理設備和所述結構采集設備之間。

8.如權利要求7所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

所述第一解析設備與所述分散度處理設備連接，用于接收所述分散度處理圖像，識別所述分散度處理圖像中的各個對象，對所述各個對象占據所述分散度處理圖像的各個面積比例進行從小到大排序，將面積比例靠后的多個對象抓取并輸出。

9.如權利要求8所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

所述第二解析設備分別與所述結構采集設備和所述第一解析設備連接，用于對每一個對象所在圖像區域的熵值進行分析；

其中，所述第二解析設備還用于將熵值最小的圖像區域作為高價值圖像區域以替換所述分散度處理圖像輸出給所述結構采集設備；

其中，所述第一解析設備包括對象識別子設備、面積分析子設備和排序輸出子設備。

10.如權利要求9所述的增強型斷層掃描儀，其特征在于：

在所述第一解析設備中，所述分散度處理圖像的噪聲類型越多，抓取的面積比例靠后的多個對象的數量越多；

其中，所述第二解析設備為一MCU芯片，用于對每一個對象所在圖像區域的熵值進行分析。