[發明專利]一種音圈馬達壽命測試系統

有效

• 申請號: 201811491981.9
• 申請日: 2018-12-07
• 公開（公告）號: CN109495737B
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 李廷飛;章平;趙軍;盧江
• 申請（專利權）人: 重慶市天實精工科技有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00;G03B43/00
• 代理公司: 重慶華科專利事務所 50123
• 代理人: 康海燕

1.一種音圈馬達壽命測試系統，其特征在于，包括：控制器，以及依次連接的測試主板（2）、測試板（3）和用于對待測試音圈馬達進行鎖定的安裝裝置（4）；

所述測試板（3）上設有可輸出不同大小的電流的驅動芯片；

所述安裝裝置（4）上具有導通或斷開所述驅動芯片和所述待測試音圈馬達的導電機構（41）；

其中，所述測試主板（2）用于對所述測試板（3）上的驅動芯片進行供電以及將所述控制器發送的壽命測試命令轉換為所述測試板（3）上的驅動芯片可識別的指令，所述驅動芯片用于根據所述指令輸出特定大小的電流，并通過所述導電機構（41）傳遞給所述待測試音圈馬達，以對所述待測試音圈馬達進行壽命測試；所述驅動芯片包括中置驅動芯片（31）和底置驅動芯片（32），所述中置驅動芯片（31）和所述底置驅動芯片（32）通過撥動開關（33）連接所述測試主板（2），通過撥動所述撥動開關（33），使所述測試主板（2）對所述中置驅動芯片（31）或所述底置驅動芯片（32）進行供電。

2.根據權利要求1所述的音圈馬達壽命測試系統，其特征在于，所述測試主板（2）具有供電引腳、接地引腳、SCL引腳和SDA引腳，所述中置驅動芯片（31）具有第一供電引腳、第一接地引腳、第一SCL引腳和第一SDA引腳，所述底置驅動芯片（32）具有第二供電引腳、第二接地引腳、第二SCL引腳和第二SDA引腳，所述供電引腳通過所述撥動開關（33）與所述第一供電引腳或所述第二供電引腳連通，所述接地引腳分別和所述第一接地引腳和所述第二接地引腳連通，所述SCL引腳分別和所述第一SCL引腳和所述第二SCL引腳連通，所述SDA引腳分別和所述第一SDA引腳和所述第二SDA引腳連通，所述供電引腳和所述接地引腳連通。

3.根據權利要求2所述的音圈馬達壽命測試系統，其特征在于，所述安裝裝置（4）還包括：

底框（42）；

固定在所述底框（42）上的限位框（43），所述限位框（43）具有用于供所述待測試音圈馬達水平放置的限位空間；

可轉動地安裝在所述底框（42）上的蓋板（44），所述蓋板（44）用于在豎直方向上對水平放置于所述限位空間中的待測試音圈馬達進行壓緊，所述蓋板（44）上固定有推動機構（45）；

所述導電機構（41）可滑動地設置在所述底框（42）的一側，通過所述蓋板（44）朝向所述待測試音圈馬達的方向轉動，帶動所述推動機構（45）推動所述導電機構（41）朝向所述待測試音圈馬達的方向移動，以導通所述驅動芯片和所述待測試音圈馬達。

4.根據權利要求3所述的音圈馬達壽命測試系統，其特征在于，所述安裝裝置（4）還包括：

支撐板（46），所述底框（42）固定在所述支撐板（46）上；

固定在所述支撐板（46）上的擋塊（47），所述導電機構（41）設置在所述擋塊（47）和所述底框（42）之間，且所述導電機構（41）與所述測試板（3）上的驅動芯片連接；

其中，所述導電機構（41）朝向所述底框（42）的端面上設有第一彈性結構（417），在所述推動機構（45）推動所述導電機構（41）滑動至與所述待測試音圈馬達接觸的位置處時，所述第一彈性結構（417）被壓縮至所述底框（42）和所述導電機構（41）之間；在所述導電機構（41）未被所述推動機構（45）推動時，通過被壓縮的所述第一彈性結構（417）反彈時所產生的反彈力帶動所述導電機構（41）滑動至與所述待測試音圈馬達分離的位置處。

5.根據權利要求3或4所述的音圈馬達壽命測試系統，其特征在于，所述蓋板（44）包括：

可轉動地安裝在所述底框（42）上的上蓋（441），所述上蓋（441）上設有第一開口（4411）；

用于對待測試音圈馬達的部分邊緣進行壓緊的壓塊（442），所述壓塊（442）固定在所述上蓋（441）上，所述壓塊（442）上設有與所述第一開口（4411）相對設置的第二開口（4421），通過所述第一開口（4411）和所述第二開口（4421），使水平放置在所述限位框（43）的限位空間中的待測試音圈馬達可被觀測；

用于與所述底框（42）相卡接的手扣（443），所述手扣（443）可轉動地安裝在所述上蓋（441）上。