[發明專利]液晶介電常數測試裝置

在審

• 申請號: 201811491631.2
• 申請日: 2018-12-07
• 公開（公告）號: CN109387706A
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發明（設計）人: 段猛;唐成;韓雪濤
• 申請（專利權）人: 深圳市微特自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 東莞市十方專利代理事務所(普通合伙) 44391
• 代理人: 羅偉平

本發明適用于液晶測試設備技術領域，提供了一種液晶介電常數測試裝置，包括機架和安裝在機架上的頂升單元、移動單元、第一載板、第二載板、厚度測試單元和介電常數測試單元，厚度測試單元位于第一載板的上方，介電常數測試單元位于第二載板處，第一載板的端部和第二載板的端部接觸，移動單元設置在第一載板和第二載板的兩側，頂升單元設置在第一載板遠離第二載板的端部，移動單元、第一載板和第二載板上均設有吸氣孔，頂升單元用于控制液晶板的垂直高度，移動單元用于運送液晶板，厚度測試單元用于測試液晶板的厚度，介電常數測試單元用于測試液晶板的介電常數。裝置本體結構簡單，具有造價成本低的特點。

技術領域

本發明屬于液晶測試設備技術領域，尤其涉及一種液晶介電常數測試裝置。

背景技術

隨著電子技術不斷的發展進步，對液晶材料在微波頻段的介電常數進行精確測量是進行液晶微波器件設計與分析的關鍵。現有的對液晶材料在微波頻段的介電常數的測量方法主要有三類：第一是微擾法，第二是諧振法，第三是移相器法。其中，微擾法的測量精度比較高，但測量裝置結構復雜、造價高；移相器法的測量裝置的結構比微擾法的測量裝置的結構簡單，但移相器法對結構件加工的精密度要求很高，同時需要配合強靜磁場對液晶材料施加偏置磁場，因此結構仍然較為復雜，而且存在造價高的問題。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例提供了一種液晶介電常數測試裝置，以解決現有技術中液晶測試設備復雜、造價高的問題。

為解決上述技術問題，本發明所采取的技術方案是：一種液晶介電常數測試裝置，包括機架和安裝在機架上的移動單元、第一載板、第二載板、厚度測試單元和介電常數測試單元，所述厚度測試單元位于所述第一載板的上方，所述介電常數測試單元位于所述第二載板處，所述第一載板的端部和所述第二載板的端部接觸，所述移動單元設置在所述第一載板和所述第二載板的兩側，所述移動單元、所述第一載板和所述第二載板上均設有吸氣孔，所述移動單元用于運送液晶板，所述第一載板和所述第二載板均用于放置液晶板，所述厚度測試單元用于測試液晶板的厚度，所述介電常數測試單元用于測試液晶板的介電常數。

進一步地，所述移動單元第一承重板、第二承重板、橫板、氣動滑軌、導軌和頂升氣缸，所述氣動滑軌和所述導軌平行設置在所述第一載板和所述第二載板的兩側，所述橫板的一端連接所述氣動滑軌的滑塊上，所述橫板的另一端和所述導軌滑動連接，所述第一承重板和所述第二承重板平行設置在所述第一載板和所述第二載板的兩側，所述第一承重板和所述第二承重板的頂部均設有帶有吸氣孔的凸臺定位結構，所述頂升氣缸安裝在所述第一載板和第二載板下方的平行板的下方。

進一步地，所述厚度測試單元包括設置在所述第一載板上方第一滑動器、第二滑動器和激光測距傳感器，所述第二滑動器連接所述第一滑動器的滑塊上，所述激光測距傳感器固定在所述第二滑動器的滑塊上，所述第一滑動器長度方向的軸線和所述第二滑動器長度方向的軸線相互垂直。

進一步地，所述介電常數測試單元包括：

相對設置的第一基板和第二基板；

依次設置于所述第一基板朝向所述第二基板一面上的導電層和第一配向膜，所述導電層配置為接收第一電壓信號；

依次設置于所述第二基板朝向所述第一基板一面上的諧振結構層和第二配向膜，所述諧振結構層配置為接收第二電壓信號，且配置為傳輸微波信號；

設置于所述第一基板和所述第二基板之間的邊框，所述邊框配合所述第一基板和所述第二基板形成用于容納待測量的液晶的空腔。

進一步地，所述諧振結構層包括：

復合諧振結構，包括間隔設置的主諧振結構和從諧振結構，所述主諧振結構的品質因數小于所述從諧振結構的品質因數；

分別設置于所述主諧振結構兩端的第一信號線和第二信號線，所述第一信號線用于接收微波信號，所述第二信號線用于輸出微波信號；