[發明專利]二維以及三維快速自旋回波成像方法

有效

• 申請號: 201811488300.3
• 申請日: 2018-12-06
• 公開（公告）號: CN109596659B
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 杜一平
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01N24/08
• 分類號: G01N24/08
• 代理公司: 上海一平知識產權代理有限公司 31266
• 代理人: 唐雪嬌;徐迅

1.一種二維快速自旋回波成像方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

a.提供射頻脈沖，激發一個層面；

b.對所述層面連續施加選層的多個重聚焦射頻脈沖和損毀梯度；

其中，在每組所述重聚焦射頻脈沖結束后施加相位編碼梯度，利用所述相位編碼梯度的作用面積確定每個回波對應的相位編碼步Ky，相位編碼反繞梯度在下一個所述重聚焦射頻脈沖開始前結束；

頻率編碼梯度以一個預補償梯度Gx,p開始，后續都是一連串同向的頻率編碼梯度；

每個所述重聚焦射頻脈沖對應的右損毀梯度結束后所述頻率編碼梯度到達平臺期，并在下一個所述重聚焦射頻脈沖對應的左損毀梯度開始前平臺期結束；以及

在頻率編碼梯度平臺期內數據采集窗口與所述相位編碼梯度以及所述相位編碼反繞梯度部分重疊，形成K空間軌跡，所述K空間軌跡為非笛卡爾采樣；

c.在所述頻率編碼梯度平臺期的持續時間內采集信號；

d.相位誤差校正，對序列增加參考掃描，多采集一個零相位編碼的TR，從而得到多個零相位編碼的回波；每個所述回波的相位誤差可由所述回波的數據通過線性擬合得到，再將所述相位誤差用于校正后面采得的回波；以及

e.二維快速自旋回波圖像非笛卡爾重建，利用施加梯度的積分計算或由其他K-空間軌跡測量方法測量得到所述K-空間軌跡的信息。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位編碼梯度的實施可采取如下步驟：保持所有所述回波的所述相位編碼梯度的作用時間和所述相位編碼反繞梯度的作用時間恒定不變，且上坡時間、持續時間以及下降時間均一致，不同回波相位編碼步之間線性增加的面積就由線性增加的梯度強度實現。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述相位編碼梯度的實施可采取如下步驟：保持所有所述回波的所述相位編碼梯度和相位編碼反繞梯度強度不變，隨著相位編碼步Ky增加，所述相位編碼梯度和所述相位編碼反繞梯度的作用時間增加。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述頻率編碼梯度平臺期內，在不增加回波間隙的條件下，通過延長讀出窗口的時間，增大K-空間Kx的最大值。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述頻率編碼梯度平臺期內，在縮短回波間隙的條件下，保持K-空間Kx的最大值不變。

6.一種三維快速自旋回波成像方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：

a.提供射頻脈沖，激發一個塊層；

b.連續施加選塊的多個重聚焦射頻脈沖和損毀梯度；

其中，每個所述重聚焦射頻脈沖對應的右損毀梯度結束后施加選片編碼梯度，選片編碼反繞梯度在下一個所述重聚焦射頻脈沖對應的左損毀梯度開始前結束；

每個所述重聚焦射頻脈沖結束后施加相位編碼梯度，所述相位編碼反繞梯度在下一個所述重聚焦射頻脈沖開始前結束；

每個所述重聚焦射頻脈沖對應的右損毀梯度結束后頻率編碼梯度到達平臺期，并在下一個所述重聚焦射頻脈沖對應的左損毀梯度開始前平臺期結束；

所述頻率編碼梯度以一個預補償梯度Gx,p開始，后續都是連續同向的頻率編碼梯度；

每個所述重聚焦射頻脈沖對應的右損毀梯度結束后頻率編碼梯度到達平臺期，并在下一個所述重聚焦射頻脈沖對應的左損毀梯度開始前平臺期結束；以及

在頻率編碼梯度平臺期內數據采集窗口與所述選片編碼梯度、相位編碼梯度、選片編碼反繞梯度以及相位編碼反繞梯度部分重疊，形成K-空間軌跡，所述K-空間軌跡為非笛卡爾采樣；

c.在頻率編碼梯度平臺期的持續時間內采集信號；

d.相位誤差校正，對序列增加參考掃描，多采集一個零相位編碼的TR，從而得到多個零相位編碼的回波；每個所述回波的相位誤差可由這些回波的數據通過線性擬合得到，再將這個相位誤差用于校正后面采得的回波；以及

e.三維快速自旋回波圖像非笛卡爾重建，利用施加梯度的積分計算或其他K-空間軌跡測量方法測量得到所述K-空間軌跡的信息。