[發明專利]復合電離源及其使用方法

有效

• 申請號: 201811486565.X
• 申請日: 2018-12-06
• 公開（公告）號: CN111293030B
• 公開（公告）日: 2023-01-10
• 發明（設計）人: 陳偉章;范榮榮;洪義;譚國斌;張業榮;黃豆;曹迅
• 申請（專利權）人: 廣州禾信儀器股份有限公司;昆山禾信質譜技術有限公司
• 主分類號: H01J49/16
• 分類號: H01J49/16
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 曾銀鳳

1.一種復合電離源，其特征在于，包括電離室、紫外光源、光電子發生極、離子光學透鏡組以及離子門；

所述電離室具有電離腔以及連通所述電離腔的用于樣品引入的樣品引入窗口、用于光子引入的光子引入窗口、用于電子引入的電子引入窗口以及用于離子引出的離子引出窗口，所述樣品引入窗口與所述離子引出窗口相對設置，所述光子引入窗口與所述電子引入窗口相對設置；

所述紫外光源設在所述電離室外且與所述光子引入窗口相對設置；

所述光電子發生極設在所述電離室外且與所述電子引入窗口相對設置；

所述離子光學透鏡組具有透鏡通孔，所述離子門具有出射通孔，所述電離室、所述離子光學透鏡組以及所述離子門依次順序設置，且所述離子引出窗口、所述透鏡通孔以及所述出射通孔均相對設置；復合電離源在工作時，電離室、光電子發生極、離子光學透鏡組以及離子門施加直流電壓；所述電離室為一端封閉且另一端開口的筒形，所述電離室的封閉端形成引入端面，所述引入端面上具有所述樣品引入窗口，所述電離室的開口端形成所述離子引出窗口；所述引入端面上的所述樣品引入窗口的數量為多個。

2.根據權利要求1所述的復合電離源，其特征在于，所述光子引入窗口的數量為多個，多個所述光子引入窗口均勻分布。

3.根據權利要求1所述的復合電離源，其特征在于，所述紫外光源包括氣體真空紫外燈。

4.根據權利要求3所述的復合電離源，其特征在于，所述氣體真空紫外燈出射光子最大能量包括8.6eV、10.6eV、10.8eV、11.8eV，所述氣體真空紫外燈內工作氣體包括氪氣、氦氣、氘氣。

5.根據權利要求1所述的復合電離源，其特征在于，所述紫外光源包括產生紫外光的發光二極管器件。

6.根據權利要求1所述的復合電離源，其特征在于，所述紫外光源包括氣體真空紫外燈和產生紫外光的發光二極管器件。

7.根據權利要求1-6任意一項所述的復合電離源，其特征在于，所述離子光學透鏡包括多個離子光學透鏡，多個所述離子光學透鏡均平行設置，各個所述離子光學透鏡的軸線共線。

8.根據權利要求7所述的復合電離源，其特征在于，相鄰的兩個所述離子光學透鏡之間的間距相等。

9.根據權利要求1-6任意一項所述的復合電離源，其特征在于，所述光電子發生極為平板結構或帶有曲率的弧面結構，所述光電子發生極的內弧面朝向所述電子引入窗口。

10.一種權利要求1-9任意一項所述的復合電離源的使用方法，其特征在于，包括如下步驟：

開啟所述復合電離源的紫外光源，對所述復合電離源的電離室、光電子發生極、離子光學透鏡組以及離子門均施加電壓，且對所述電離室、所述光電子發生極、所述離子光學透鏡組以及所述離子門所施加的電壓均不同，對所述電離室和所述離子門加載不同的正電壓，且對所述電離室加載的電壓幅值不小于對所述離子門加載的電壓幅值；所述離子光學透鏡組加載電壓后，各個離子光學透鏡的電勢不大于所述電離室和所述離子門處的電勢；

通過所述電離室的樣品引入窗口引入樣品；

當所述復合電離源處于光電離模式時，對所述光電子發生極加載非負的電壓；

當所述復合電離源處于光電子電離模式時，對所述光電子發生極加載負電壓；

當所述復合電離源處于碰撞誘導解離電離模式時，對所述光電子發生極加載負電壓或非負電壓，所述電離室中產生的離子在通過所述電離室、所述離子光學透鏡組以及所述離子門的過程中被加速獲得能量，以增加離子和離子、離子和分子之間的碰撞概率，使離子內的化學鍵斷裂，產生碎片離子，以供分析器系統捕獲。