[發明專利]一種測量離子推力器放電室壁面電荷動態特性的裝置

有效

• 申請號: 201811486347.6
• 申請日: 2018-12-06
• 公開（公告）號: CN109752601B
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: 顧左;宋瑩瑩;王蒙;賴承祺;郭偉龍;吳辰宸
• 申請（專利權）人: 蘭州空間技術物理研究所
• 主分類號: G01R29/12
• 分類號: G01R29/12;G01R29/24;G01R29/00
• 代理公司: 北京理工大學專利中心 11120
• 代理人: 溫子云;仇蕾安

1.一種測量離子推力器放電室壁面電荷動態特性的裝置，其特征在于，包括：朗繆爾平面探針(2)、探針掃描電源(13)和數據采集系統(14)；

朗繆爾平面探針(2)布置在磁極極靴附近壁面的選定探測位置；朗繆爾平面探針由平面探針(15)、平頭螺釘(19)、陶瓷筒(16)、平墊(17)和螺母(18)組成；平面探針(15)焊接在平頭螺釘(19)的頭部，平頭螺釘(19)的螺桿通過設置在選定探測位置處、貫穿陽極壁面(6)和屏柵筒(7)的陶瓷筒(16)伸出放電室的屏柵筒(7)外部，并通過螺母(18)固定；平頭螺釘(19)的螺桿與陶瓷筒(16)之間留有間隙；平頭螺釘的頭部與陶瓷筒(16)之間以及螺母(18)與陶瓷筒之間均設有平墊(17)；平面探針(15)與陽極壁面(6)不直接接觸，它們之間通過陶瓷筒(16)絕緣；

所述陶瓷筒(16)由兩部分組成，第一部分為具有一個臺階的兩段式筒型結構，第二部分為一個圓筒；第一部分的大端端面面向平面探針，但是具有一定的間隙，從而保持空氣上的隔離；第一部分的小端穿過陽極壁面(6)和屏柵筒(7)后，與第二部分配合連接，從而將陶瓷筒固定在探測位置；第一部分外表面的臺階面接觸陽極壁面(6)，內表面的臺階面接觸位于放電室內部的平墊；第二部分的圓筒套在第一部分小端的外部，圓筒一端面接觸屏柵筒(7)，另一端面接觸位于放電室外部的平墊；

屏柵筒外部的螺桿接探針掃描電源(13)和數據采集系統(14)的信號線。

2.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述陶瓷筒(16)的兩部分之間、陶瓷筒(16)與陽極壁面(6)之間以及陶瓷筒(16)與屏柵筒(7)之間均處用陶瓷膠膠封。

3.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述平面探針(15)的直徑與厚度之比大于100。

4.如權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述選定探測位置選定在陰極極靴(3)與中間極靴(4)之間以及中間極靴(4)與屏柵極靴(5)之間，并位于靠近極靴處。