[發明專利]一種隔膜走帶布局方法及其結構

在審

• 申請號: 201811484490.1
• 申請日: 2018-12-06
• 公開（公告）號: CN109742454A
• 公開（公告）日: 2019-05-10
• 發明（設計）人: 李志軍;李想
• 申請（專利權）人: 東莞泓宇智能裝備有限公司
• 主分類號: H01M10/0587
• 分類號: H01M10/0587
• 代理公司: 東莞市說文知識產權代理事務所(普通合伙) 44330
• 代理人: 孫樹棠

1.一種隔膜走帶布局方法，其特征在于：包括以下步驟，

①放卷，隔膜卷料放置在掛軸上放卷成為片狀的隔膜料；

②糾偏，糾偏邊緣檢測機構檢測隔膜料邊緣是否偏位，偏位則反饋信號到糾偏組件，糾偏組件糾正隔膜料位置；

③不良檢測，不良檢測機構檢測隔膜料品質是否合格；

④靜電除塵，離子風除塵靜電機構利用離子風進行靜電除塵；

⑤張力調整，張力控制及檢測機構檢測隔膜料張力后根據檢測結果控制張力大小；

⑥磁棒除塵，磁棒除塵機構利用磁棒吸附金屬粉塵進行磁棒除塵；

⑦防隔膜錯位，大包角機構防止隔膜料和過輥脫離時隔膜料邊緣錯位；

⑧隔膜入料進入卷繞工位。

2.根據權利要求1所述的一種隔膜走帶布局方法，其特征在于：在步驟⑥的磁棒除塵后，隔膜料進入中間糾偏機構，入料邊緣檢測機構檢測隔膜料邊緣是否偏位，偏位則反饋信號到中間糾偏機構，中間糾偏機構糾正隔膜料邊緣位置方便入料。

3.一種隔膜走帶布局結構，包括橫安裝板、掛軸及糾偏組件和大包角機構，橫安裝板前方左側安裝掛軸及糾偏組件，橫安裝板前方右側安裝大包角機構，其特征在于：所述掛軸及糾偏組件與大包角機構之間按照隔膜的走料方向依次從左向右安裝不良檢測機構、糾偏邊緣檢測機構、壓帶過輥、離子風除塵靜電機構、張力控制及檢測機構、中間糾偏機構、磁棒除塵機構、入料邊緣檢測機構，掛軸將隔膜卷料放卷成為片狀的隔膜料，隔膜料進入不良檢測機構檢測隔膜料品質是否合格，糾偏邊緣檢測機構檢測隔膜料邊緣是否偏位并反饋信號到糾偏組件，壓帶過輥壓住極片防止換卷時斷帶，離子風除塵靜電機構利用離子風對隔膜料進行靜電除塵，張力控制及檢測機構檢測并控制張力，入料邊緣檢測機構檢測入料前隔膜料邊緣是否偏位并反饋信號到中間糾偏機構，磁棒除塵機構通過磁棒吸附金屬粉塵進行磁棒除塵，大包角機構防止隔膜料和過輥脫離時隔膜料邊緣錯位準確入料。

4.一種隔膜走帶布局結構，包括豎安裝板、掛軸及糾偏組件和帶料過輥，豎安裝板前方上側安裝掛軸及糾偏組件，豎安裝板前方下側安裝帶料過輥，其特征在于：所述掛軸及糾偏組件與帶料過輥之間按照隔膜的走料方向從上向下依次安裝不良檢測機構、糾偏邊緣檢測機構、壓帶過輥、離子風除塵靜電機構、張力控制及檢測機構、大包角機構、中間糾偏機構、磁棒除塵機構、入料邊緣檢測機構，掛軸將隔膜卷料放卷成為片狀的隔膜料，隔膜料進入不良檢測機構檢測隔膜料品質是否合格，糾偏邊緣檢測機構檢測隔膜料邊緣是否偏位并反饋信號到糾偏組件，壓帶過輥壓住極片防止換卷時斷帶，離子風除塵靜電機構利用離子風對隔膜料進行靜電除塵，張力控制及檢測機構檢測并控制張力，大包角機構防止隔膜料和過輥脫離時隔膜料邊緣錯位準確入料，磁棒除塵機構通過磁棒吸附金屬粉塵進行磁棒除塵，入料邊緣檢測機構檢測入料前隔膜料邊緣是否偏位并反饋信號到中間糾偏機構糾偏。

5.根據權利要求3或4所述的一種隔膜走帶布局結構，其特征在于：所述張力控制及檢測機構包括張力傳感器和張力控制氣缸，張力傳感器檢測隔膜料的張力大小，張力控制氣缸根據檢測值控制卷輥的移動來控制張力。

6.根據權利要求3或4所述的一種隔膜走帶布局結構，其特征在于：所述糾偏邊緣檢測機構、入料邊緣檢測機構通過傳感器檢測隔膜料邊緣是否偏位。

7.根據權利要求3所述的一種隔膜走帶布局結構，其特征在于：所述橫安裝板前方安裝有備料掛軸，備料掛軸位于掛軸及糾偏組件左側。

8.根據權利要求7所述的一種隔膜走帶布局結構，其特征在于：所述掛軸及糾偏組件上方安裝掛軸按鈕控制盒，掛軸按鈕控制盒控制掛軸及糾偏組件、備料掛軸。

9.根據權利要求4所述的一種隔膜走帶布局結構，其特征在于：所述掛軸及糾偏組件右側安裝有掛軸按鈕控制盒，掛軸按鈕控制盒控制掛軸及糾偏組件。