[發(fā)明專利]一種搜索算法的測(cè)試方法及服務(wù)器在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811482832.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN109614326A | 公開(公告)日: | 2019-04-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張貴洲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東小天才科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06F11/36 | 分類號(hào): | G06F11/36;G06F16/24;G06F16/25 |
| 代理公司: | 廣州德科知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44381 | 代理人: | 萬振雄;楊中強(qiáng) |
| 地址: | 528850 廣東省東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 搜索算法 預(yù)設(shè) 素材標(biāo)識(shí) 素材 服務(wù)器 測(cè)試指令 素材庫(kù) 準(zhǔn)確率 比對(duì) 搜索 檢測(cè) | ||
本發(fā)明實(shí)施例公開一種搜索算法的測(cè)試方法及服務(wù)器,該方法包括:當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),從測(cè)試素材庫(kù)中獲取待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí),以及利用預(yù)設(shè)搜索算法對(duì)待測(cè)試素材進(jìn)行搜索得到待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的測(cè)試原素材標(biāo)識(shí);比對(duì)預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)和測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)得到預(yù)設(shè)搜索算法的搜題準(zhǔn)確率。實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例,能夠?qū)崿F(xiàn)預(yù)設(shè)搜索算法的高效測(cè)試。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種搜索算法的測(cè)試方法及服務(wù)器。
背景技術(shù)
隨著教育行業(yè)的迅速發(fā)展,市面上的輔助學(xué)習(xí)應(yīng)用程序如搜題應(yīng)用程序?qū)映霾桓F。其中,搜題應(yīng)用程序的搜題準(zhǔn)確率通常直接影響其用戶粘稠度,所以搜題準(zhǔn)確率就成為了各種搜題應(yīng)用程序的競(jìng)爭(zhēng)關(guān)鍵點(diǎn)。
實(shí)踐中發(fā)現(xiàn),搜題準(zhǔn)確率的高低取決于搜索算法的性能,而搜索算法的性能需要在不斷的測(cè)試中進(jìn)行優(yōu)化,傳統(tǒng)測(cè)試方法是人工篩選已經(jīng)入庫(kù)的書本,拍照并框選書本題目圖片上傳到至后臺(tái),以使后臺(tái)通過當(dāng)前搜索算法對(duì)所框選的每一書本題目圖片進(jìn)行搜索得到搜索結(jié)果,人工記錄每一本題目圖片的搜索結(jié)果進(jìn)行匯總得到測(cè)試報(bào)告。可見,傳統(tǒng)測(cè)試方法往往需要投入大量的人工成本,而且所得到的測(cè)試結(jié)果通常存在較大偏差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例公開一種搜索算法的測(cè)試方法及服務(wù)器,能夠?qū)崿F(xiàn)預(yù)設(shè)搜索算法的高效測(cè)試。
本發(fā)明實(shí)施例第一方面公開一種搜索算法的測(cè)試方法,包括:
當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),從測(cè)試素材庫(kù)中獲取待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí);
利用預(yù)設(shè)搜索算法對(duì)所述待測(cè)試素材進(jìn)行搜索得到所述待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的測(cè)試原素材標(biāo)識(shí);
比對(duì)所述預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)和所述測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)得到所述預(yù)設(shè)搜索算法的搜題準(zhǔn)確率。
作為一種可選的實(shí)施方式,在本發(fā)明實(shí)施例第一方面中,當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),從測(cè)試素材庫(kù)中獲取待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)之前,所述方法還包括:
根據(jù)題庫(kù)量確定待測(cè)試素材量;
將所述待測(cè)試素材量發(fā)送至客戶端,以使所述待測(cè)試素材量在所述客戶端輸出供用戶在輸入所述測(cè)試指令時(shí)參考。
作為一種可選的實(shí)施方式,在本發(fā)明實(shí)施例第一方面中,所述測(cè)試指令包含所述待測(cè)試素材量,所述當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),從測(cè)試素材庫(kù)中獲取待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí),包括:
當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),依據(jù)所述待測(cè)試素材量和預(yù)設(shè)規(guī)則確定待測(cè)試素材的名稱;
依據(jù)所述待測(cè)試素材的名稱從測(cè)試素材庫(kù)中獲取所述待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)。
作為一種可選的實(shí)施方式,在本發(fā)明實(shí)施例第一方面中,所述比對(duì)所述預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)和所述測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)得到所述預(yù)設(shè)搜索算法的搜題準(zhǔn)確率,包括:
比對(duì)所述預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)和所述測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)得到第一數(shù)目,所述第一數(shù)目為與所述預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)相同的所述測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)的數(shù)目;
將所述第一數(shù)目與所述測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)的總數(shù)目的比值作為所述預(yù)設(shè)搜索算法的搜題準(zhǔn)確率。
作為一種可選的實(shí)施方式,在本發(fā)明實(shí)施例第一方面中,所述比對(duì)所述預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí)和所述測(cè)試原素材標(biāo)識(shí)得到所述預(yù)設(shè)搜索算法的搜題準(zhǔn)確率之后,所述方法還包括:
將所述搜題準(zhǔn)確率發(fā)送至客戶端,以使所述客戶端根據(jù)所述搜題準(zhǔn)確率生成測(cè)試報(bào)告并輸出。
本發(fā)明實(shí)施例第二方面公開一種服務(wù)器,包括:
獲取單元,用于當(dāng)檢測(cè)到測(cè)試指令時(shí),從測(cè)試素材庫(kù)中獲取待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)原素材標(biāo)識(shí);
搜索單元,用于利用預(yù)設(shè)搜索算法對(duì)所述待測(cè)試素材進(jìn)行搜索得到所述待測(cè)試素材對(duì)應(yīng)的測(cè)試原素材標(biāo)識(shí);
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于廣東小天才科技有限公司,未經(jīng)廣東小天才科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G06F 電數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理
G06F11-00 錯(cuò)誤檢測(cè);錯(cuò)誤校正;監(jiān)控
G06F11-07 .響應(yīng)錯(cuò)誤的產(chǎn)生,例如,容錯(cuò)
G06F11-22 .在準(zhǔn)備運(yùn)算或者在空閑時(shí)間期間內(nèi),通過測(cè)試作故障硬件的檢測(cè)或定位
G06F11-28 .借助于檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)程序或通過處理作錯(cuò)誤檢測(cè)、錯(cuò)誤校正或監(jiān)控
G06F11-30 .監(jiān)控
G06F11-36 .通過軟件的測(cè)試或調(diào)試防止錯(cuò)誤
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
- Android設(shè)備的測(cè)試方法及系統(tǒng)
- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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