[發明專利]反饋式斷層掃描平臺

在審

• 申請號: 201811477316.4
• 申請日: 2018-12-05
• 公開（公告）號: CN109567846A
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 張恩杰;謝春
• 申請（專利權）人: 寧波耀通管閥科技有限公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種反饋式斷層掃描平臺，所述平臺包括：

斷層掃描結構，包括X線高壓發生器、控制器、圖像重建設備、A/D轉換器和圖像存儲器，所述控制器與所述X線高壓發生器連接，用于對所述X線高壓發生器進行控制，所述圖像重建設備分別與所述A/D轉換器和所述控制器連接，用于接收來自所述A/D轉換器的數字信號，以進行斷層掃描圖像的重建操作，所述圖像存儲器分別與所述控制器和所述圖像重建設備連接，用于接收并存儲所述斷層掃描圖像；

自動設置設備，分別與控制器和組織辨別設備連接，用于接收人體組織類型，確定與所述人體組織類型對應的后續掃描時長，并將所述后續掃描時長發送給所述控制器；

平滑處理設備，與所述圖像存儲器連接，用于接收所述斷層掃描圖像，并對所述斷層掃描圖像執行平滑處理，以獲得平滑處理圖像；

內容檢測設備，與所述平滑處理設備連接，用于檢測所述平滑處理圖像中的最大目標，將所述最大目標在所述平滑處理圖像中占據的區域作為所述平滑處理圖像對應的目標圖像區域，對所述目標圖像區域執行平滑度等級分析，以獲得對應的即時平滑度等級，并輸出所述即時平滑度等級；

信號辨別設備，與所述內容檢測設備連接，用于接收所述即時平滑度等級，并在所述即時平滑度等級未超過預設等級閾值時，發出第一控制信號，以及在所述即時平滑度等級超過預設等級閾值時，發出第二控制信號；

現場解析設備，分別與所述信號辨別設備和所述內容檢測設備連接，用于在接收到第一控制信號時，對所述平滑處理圖像執行循環式的圖像閉操作處理，直到獲取的處理后的圖像的即時平滑度等級超過預設等級閾值，并將獲取的處理后的圖像作為現場解析圖像輸出；

組織辨別設備，與所述現場解析設備連接，用于接收所述現場解析圖案，并對所述現場解析圖案執行特征分析，以確定所述現場解析圖案中的人體組織類型；

其中，所述內容檢測設備包括內容接收子設備、目標分割子設備、等級分析子設備和數據輸出子設備；

其中，在所述內容檢測設備中，所述內容接收子設備用于接收所述平滑處理圖像，所述目標分割子設備與所述內容接收子設備連接，用于將所述最大目標在所述平滑處理圖像中占據的區域作為所述平滑處理圖像對應的目標圖像區域。

2.如權利要求1所述的反饋式斷層掃描平臺，其特征在于：

在所述內容檢測設備中，所述等級分析子設備分別與所述目標分割子設備和所述數據輸出子設備連接，用于對所述目標圖像區域執行平滑度等級分析，以獲得對應的即時平滑度等級。

3.如權利要求2所述的反饋式斷層掃描平臺，其特征在于：

所述現場解析設備還用于在接收到第二控制信號時，將所述平滑處理圖像作為現場解析圖像輸出。

4.如權利要求3所述的反饋式斷層掃描平臺，其特征在于，所述平臺還包括：

形態學處理設備、孤點檢測設備、向量采集設備和分塊識別設備，位于所述圖像存儲器和所述平滑處理設備之間。

5.如權利要求4所述的反饋式斷層掃描平臺，其特征在于：

所述形態學處理設備與所述圖像存儲器連接，用于對所述斷層掃描圖像執行腐蝕處理，以獲得腐蝕化圖像，并對所述腐蝕化圖像執行膨脹處理，以獲得膨脹處理圖像，并輸出所述膨脹處理圖像。

6.如權利要求5所述的反饋式斷層掃描平臺，其特征在于：

所述孤點檢測設備與所述形態學處理設備連接，用于接收所述膨脹處理圖像，檢測所述膨脹處理圖像中的孤點數量，并在所述孤點數量超過限量時，發出再次處理命令。

7.如權利要求6所述的反饋式斷層掃描平臺，其特征在于：

所述形態學處理設備還用于在接收到所述再次處理命令后，對所述膨脹處理圖像再次執行先腐蝕后膨脹的處理，以獲得再次處理圖像。