[發明專利]轉換均勻或非均勻采樣干涉圖產生光譜數據的方法和設備

有效

• 申請號: 201811476928.1
• 申請日: 2018-12-04
• 公開（公告）號: CN109990899B
• 公開（公告）日: 2022-01-14
• 發明（設計）人: A·黑格伊
• 申請（專利權）人: 帕洛阿爾托研究中心公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/45;G01J3/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 張濤;閆小龍

1.一種方法，包括：

確定干涉儀的一組參考延遲；

確定對應于高光譜數據立方體的光譜切片的一組波長；

形成包括周期函數的行的重建矩陣，其中所述重建矩陣的每一行對應于所述一組波長中的選定波長，并且所述重建矩陣的每一列對應于所述參考延遲中的選定延遲，其中所述周期函數具有對應行的所述選定波長作為參數，并以對應列中的每一列的所述選定延遲進行采樣；

獲得包括一個或多個同時測量的干涉圖的陣列的干涉圖數據立方體，其中所述干涉圖數據立方體的每一行對應于所述選定延遲中的一個，并且所述干涉圖數據立方體的每一列對應于與所述同時測量的干涉圖不同的干涉圖；以及

形成針對所述干涉圖中的每一個的一組矩陣向量積，所述矩陣向量積中的每一個包括所述重建矩陣與所述干涉圖數據立方體的列的矩陣乘法，所述一組矩陣向量積形成所述高光譜數據立方體。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述干涉圖對應于所述干涉儀內的不同圖像點。

3.根據權利要求1所述的方法，其中所述同時測量的干涉圖是相對于光路延時不均勻地采樣的。

4.根據權利要求1所述的方法，其中所述干涉儀包括偏振干涉儀。

5.根據權利要求4所述的方法，其中所述偏振干涉儀包括液晶可變延遲器，并且其中每一行中的所述周期函數的相對振蕩速率基于所述液晶可變延遲器的作為波長和溫度中的至少一個的函數的液晶雙折射率。

6.根據權利要求1所述的方法，其中計算發生在圖形處理單元上。

7.根據權利要求1所述的方法，其中為所述干涉儀的至少兩個空間區域構建不同的矩陣。

8.根據權利要求1所述的方法，其中所述周期函數是余弦函數。

9.根據權利要求1所述的方法，其中所述周期函數中的每一個針對所述選定波長中的每一個是相移的，使得0相位大致對應于所述干涉儀在所述選定波長中的每一個處的零延遲點。

10.根據權利要求9所述的方法，其中所述相移取決于所述干涉儀的溫度。

11.根據權利要求1所述的方法，還包括將所述重建矩陣的每一行乘以波長相關的函數，以減少由不對稱測量的干涉圖引起的偽像。

12.根據權利要求1所述的方法，其中所述重建矩陣的每一行乘以波長相關的窗口或切趾函數。

13.根據權利要求1所述的方法，其中所述重建矩陣乘以對角化矩陣以得到，其中A是所述重建矩陣，B是系統響應矩陣，所述系統響應矩陣的列是在對應于A的所述行的每一行的波長處由對所述干涉儀的單位波長刺激生成的預期原始干涉圖。

14.根據權利要求13所述的方法，其中應用正則化技術以防止所述對角化矩陣發散。