[發明專利]分析儀器、方法和部件

在審

• 申請號: 201811476824.0
• 申請日: 2018-12-04
• 公開（公告）號: CN110007097A
• 公開（公告）日: 2019-07-12
• 發明（設計）人: 安健·瑞因德斯;威廉·貝克;喬希·多爾蒂;約瑟夫·埃弗斯;本·林肯霍克;盧克·馬里特森;詹姆森·莫特利;瑞恩·莫迪克
• 申請（專利權）人: 蒙大納儀器公司
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;F25D3/10
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 孫紀泉

提供了可變溫度分析儀器的部件，可變溫度分析儀器的部件可包括：導管，該導管構造成在具有不同壓力的兩個腔室之間延伸；和第一塊體，第一塊體圍繞導管的一個區段，第一塊體保持在第一溫度。還提供了可變溫度分析儀器，其可包括：樣品腔室，樣品腔室構造成通過一個或多個導管可操作地聯接到熱源或冷源；接口部件，所述接口部件被構造為使一個或多個導管與樣品腔室接合，該接口包括構造成在具有不同壓力的兩個腔室之間延伸的導管；和第一塊體，第一塊體圍繞導管的一個區段，第一塊體保持在第一溫度。還提供了維持可變溫度分析儀器內的溫度的方法。這些方法可包括在保持在儀器的兩個部件之間延伸的導管內的溫度的同時，將每個部件保持在不同壓力下。

相關申請的交叉引用

本申請要求2017年12月4日提交的名稱為“分析儀器、方法和部件”的美國臨時專利申請序列號62/594，427的優先權和權益，所述申請通過引用而被全部納入本文。

技術領域

本公開提供了分析儀器、方法和部件。在具體的實施例中，本公開提供了可用于低溫冷卻樣品并在那些低溫條件下分析樣品的分析儀器。

背景技術

已經使用分析儀器來低溫地冷卻樣品，然后在那些低溫條件下分析那些樣品。這些儀器為分析人員提供了許多好處，包括在低開爾文(K)溫度下分析樣品的能力。在這些溫度下，樣品及對樣品的解析可能受到許多實驗室影響，例如實驗室振動。此外，這種解析的目標始終是將樣品冷卻至越來越低的溫度。目前，樣品已降至低于10K的溫度。然而，甚至需要更低的溫度。本公開提供了分析儀器、方法和部件，分析儀器、方法和部件可用于將樣品低溫冷卻至例如低于2.8K或甚至低于0.8K。

發明內容

提供了可變溫度分析儀器的部件，可變溫度分析儀器的部件可包括：導管，該導管構造成在具有不同壓力的兩個腔室之間延伸；和第一塊體，所述第一塊體圍繞導管的一個區段，其中第一塊體保持在第一溫度。

提供了可變溫度分析儀器，可變溫度分析儀器可包括：樣品腔室，所述樣品腔室構造成通過一個或多個導管可操作地聯接到熱源或冷源；接口部件，所述接口部件被構造為使一個或多個導管與樣品腔室接合，該接口包括流體導管，該流體導管構造成在具有不同壓力的兩個腔室之間延伸；和第一塊體，所述第一塊體圍繞導管的一個區段，其中第一塊體保持在第一溫度。

還提供了維持可變溫度分析儀器內的溫度的方法。這些方法可包括在保持在儀器的兩個部件之間延伸的導管內的溫度的同時，將每個部件保持在不同壓力下。

附圖說明

下面參考以下附圖描述本公開的實施例。

圖1是根據本公開的實施例的分析儀器的框圖。

圖2是根據本公開另一實施例的分析儀器。

圖3是根據本公開的實施例的圖2的分析儀器的更詳細視圖。

圖4A是根據本公開的實施例的分析儀器的部件。

圖4B是根據本公開的實施例的分析儀器的部件。

圖4C是根據本公開的實施例的分析儀器的部件。

圖5是根據本公開的實施例的分析儀器的部件。

圖6是根據本公開的實施例的分析儀器的部件。

圖7是根據本公開的實施例的分析儀器的部件的一部分。

圖8是根據本公開的實施例的分析儀器的部件的兩種構造的視圖。

圖9是根據本公開的實施例的至少一種構造中的分析儀器的部件的視圖。

圖10是根據本公開的實施例的另一種構造中的分析儀器的部件的視圖。

圖11A是根據本公開的實施例的分析儀器的部件的視圖。