[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤的測試方法、裝置及計算機存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811475938.3
• 申請日: 2018-12-04
• 公開（公告）號: CN109599145A
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發(fā)明（設計）人: 畢延帥
• 申請（專利權(quán)）人: 鄭州云海信息技術有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 羅滿

1.一種固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，應用于固態(tài)硬盤出廠前，包括：

選取所述固態(tài)硬盤的一個數(shù)據(jù)塊；

判斷當前數(shù)據(jù)塊的第一頁和最后一頁的標識符是否均與預先設置的標識符相同；

如果不同，則標記當前數(shù)據(jù)塊為壞塊，并判斷所述固態(tài)硬盤中是否還有剩余數(shù)據(jù)塊；

如果相同，則判斷所述固態(tài)硬盤中是否還有剩余數(shù)據(jù)塊；

如果有，則返回所述選取所述固態(tài)硬盤的一個數(shù)據(jù)塊的步驟，如果沒有，則結(jié)束。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，還包括：

建立所述固態(tài)硬盤的壞塊標記表；

根據(jù)標記為壞塊的數(shù)據(jù)塊的信息更新所述壞塊標記表。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，在結(jié)束之前，還包括：

根據(jù)讀寫擦命令對所述固態(tài)硬盤中的非壞塊執(zhí)行讀寫擦測試以標記所述固態(tài)硬盤中新增壞塊；

其中，所述讀寫擦命令包括讀命令、寫命令和擦命令，所述讀寫擦測試包括讀測試、寫測試和擦測試。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，所述讀命令、所述寫命令和所述擦命令均為并行執(zhí)行命令。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，還包括：

當執(zhí)行完所述讀測試、所述寫測試和所述擦測試后分別記錄對應的數(shù)據(jù)塊的壞頁的地址，并統(tǒng)計壞塊率。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，還包括：

當所述壞塊率達到閾值時，報警提示。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的固態(tài)硬盤的測試方法，其特征在于，還包括：

統(tǒng)計多輪所述讀寫擦命令對應的測試結(jié)果；

通過升溫測試，記錄一輪所述讀寫擦命令能夠達到所述測試結(jié)果的測試溫度以簡化老化測試過程。

8.一種固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于，應用于固態(tài)硬盤出廠前，包括：

選取模塊，用于選取所述固態(tài)硬盤的一個數(shù)據(jù)塊；

第一判斷模塊，用于判斷當前數(shù)據(jù)塊的第一頁和最后一頁的標識符是否均與預先設置的標識符相同，如果不同，則觸發(fā)標記模塊和第二判斷模塊，否則觸發(fā)所述第二判斷模塊。

所述標記模塊，用于標記當前數(shù)據(jù)塊為壞塊；

所述第二判斷模塊，用于判斷所述固態(tài)硬盤中是否還有剩余數(shù)據(jù)塊，如果有，則觸發(fā)所述選取模塊，如果沒有，則結(jié)束。

9.一種固態(tài)硬盤的測試裝置，其特征在于，包括存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項所述的固態(tài)硬盤的測試方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項所述的固態(tài)硬盤的測試方法的步驟。