[發(fā)明專利]微距離的鏡頭檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811471801.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111277814A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 施維竣;朱誼桓;江宗謙 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 新巨科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04N17/00 | 分類號(hào): | H04N17/00 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴廣志 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣臺(tái)中*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 距離 鏡頭 檢測(cè) 裝置 | ||
本發(fā)明是一種微距離的鏡頭檢測(cè)裝置,適用于以微距離檢測(cè)具有表面的待測(cè)鏡頭,所述微距離的鏡頭檢測(cè)裝置包含依序設(shè)置的光源模組、擴(kuò)散片、圖樣測(cè)試卡、準(zhǔn)直儀單元以及取像模組,其中:待測(cè)鏡頭,設(shè)在圖樣測(cè)試卡與準(zhǔn)直儀單元之間,且待測(cè)鏡頭的表面與圖樣測(cè)試卡的出光面之間為微距離,所述微距離小于25毫米;據(jù)此,讓待測(cè)鏡頭與圖樣測(cè)試卡之間在微距離的條件下,可對(duì)待測(cè)鏡頭進(jìn)行光學(xué)解晰調(diào)變轉(zhuǎn)換函數(shù)(modulation transfer function,MTF)的檢測(cè),因此,所述鏡頭檢測(cè)裝置所需的設(shè)置空間需求小。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明與鏡頭的檢測(cè)裝置有關(guān),特別是涉及一種微距離的鏡頭檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)
目前鏡頭已大量地被應(yīng)用于可攜式的行動(dòng)裝置上,例如智能手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)等。制造過(guò)程中會(huì)因制程差異而改變鏡頭品質(zhì),因此,鏡頭在出廠前均需經(jīng)過(guò)檢測(cè),以確定制造完成的鏡頭符合原設(shè)計(jì)的規(guī)范,例如光學(xué)解晰調(diào)變轉(zhuǎn)換函數(shù)(modulation transferfunction,MTF)已為現(xiàn)今市面上評(píng)估一個(gè)鏡頭光學(xué)品質(zhì)的常用指標(biāo)。
如圖1所示,目前一般所采用的鏡頭檢測(cè)裝置,其主要由光源模組11、圖樣測(cè)試卡12及取像模組13組成。光源模組11發(fā)出的光透過(guò)圖樣測(cè)試卡12,用于提供待測(cè)鏡頭14所需要的測(cè)試圖樣。將待測(cè)鏡頭14放置在測(cè)試位處,用取像模組13獲取測(cè)試圖樣經(jīng)待測(cè)鏡頭14所成的影像并傳送至主機(jī)15,再利用主機(jī)15對(duì)被擷取到的影像進(jìn)行分析。
然而,由于物距與像距存在共軛關(guān)系,物距越遠(yuǎn),像距越近,相反,物距越近,像距越遠(yuǎn),因此,此種鏡頭檢測(cè)裝置都只能對(duì)物距(即待測(cè)鏡頭14表面及圖樣測(cè)試卡12之間的距離)在特定的范圍之間進(jìn)行檢測(cè),約為320毫米至500毫米之間,一旦待測(cè)鏡頭14及圖樣測(cè)試卡12之間的距離小于前述范圍時(shí),特別是在距離物距(即待測(cè)鏡頭14表面及圖樣測(cè)試卡12之間的距離)在25毫米以下的狀態(tài)下,取像模組13必須設(shè)置相對(duì)于待測(cè)鏡頭14在無(wú)窮遠(yuǎn)處,如此造成設(shè)備空間的需求極大,不利檢測(cè)裝置的設(shè)置。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種微距離的鏡頭檢測(cè)裝置,目的在于鏡頭檢測(cè)裝置在所需的設(shè)置空間小的條件下即可以微距離的方式對(duì)待測(cè)鏡頭進(jìn)行檢測(cè)。
為達(dá)前述目的,本發(fā)明提供一種微距離的鏡頭檢測(cè)裝置,適用于以微距離檢測(cè)具有表面的待測(cè)鏡頭,所述微距離的鏡頭檢測(cè)裝置包含依序設(shè)置的光源模組、擴(kuò)散片、圖樣測(cè)試卡、準(zhǔn)直儀單元以及取像模組,其中:
光源模組,提供光線;擴(kuò)散片,設(shè)在光線的路徑上,用以使經(jīng)過(guò)的光線更加均勻;圖樣測(cè)試卡,設(shè)在經(jīng)均勻后的光線的路徑上,并具有出光面,借由光線產(chǎn)生待測(cè)鏡頭所需要的測(cè)試圖樣光型;待測(cè)鏡頭,設(shè)在圖樣測(cè)試卡與準(zhǔn)直儀單元之間,且待測(cè)鏡頭的表面與圖樣測(cè)試卡的出光面之間為微距離,所述微距離小于25毫米;準(zhǔn)直儀單元,用以接收經(jīng)過(guò)待測(cè)鏡頭后的測(cè)試圖樣光型,并聚焦在取像模組;取像模組,用以接收準(zhǔn)直儀單元所聚焦的測(cè)試圖樣光型。
本發(fā)明的功效在于:借由所述光源模組、擴(kuò)散片、圖樣測(cè)試卡、準(zhǔn)直儀單元以及取像模組的依序配置,讓所述待測(cè)鏡頭與所述圖樣測(cè)試卡之間在微距離的條件下,可對(duì)所述待測(cè)鏡頭進(jìn)行光學(xué)解晰調(diào)變轉(zhuǎn)換函數(shù)(modulation transfer function,MTF)的檢測(cè),因此,所述鏡頭檢測(cè)裝置所需的設(shè)置空間需求小。另外,所述待測(cè)鏡頭與所述圖樣測(cè)試卡之間在微距離的條件下,于軸上、離軸皆可對(duì)待測(cè)鏡頭正確量測(cè)MTF,同時(shí)所述待測(cè)鏡頭不論其聚焦平面在鏡頭機(jī)構(gòu)內(nèi)部還是鏡頭機(jī)構(gòu)外部,皆可進(jìn)行MTF量測(cè)。
較佳地,其中所述待測(cè)鏡頭具有鏡筒及多個(gè)設(shè)在鏡筒內(nèi)的透鏡組,所述透鏡組產(chǎn)生聚焦平面,所述聚焦平面位于所述鏡筒內(nèi)部或所述鏡筒外部。
較佳地,其中所述微距離小于10毫米。
較佳地,其中所述圖樣測(cè)試卡的測(cè)試圖樣為條狀圖(Bar Chart)、邊緣圖(EdgeChart)、或狹縫圖(Slit Chart)。
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