[發明專利]攝像頭解析度測試系統及方法

在審

• 申請號: 201811470780.0
• 申請日: 2018-12-04
• 公開（公告）號: CN111277813A
• 公開（公告）日: 2020-06-12
• 發明（設計）人: 覃開宇;孫立華
• 申請（專利權）人: 深圳市航盛電子股份有限公司
• 主分類號: H04N17/00
• 分類號: H04N17/00
• 代理公司: 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385
• 代理人: 汪琳琳

1.一種攝像頭解析度測試系統，其特征在于，包括：攝像頭、第一支架、第二支架、導軌和測試卡；

所述攝像頭固定在所述第一支架上；

所述第二支架具有一垂直于所述導軌的平面并與所述導軌的平面相接的轉動軸，所述導軌通過所述轉動軸裝設在所述第二支架上；所述測試卡平行于所述導軌的平面裝設在所述導軌上，并與所述攝像頭的位置相對，且所述測試卡可沿所述導軌的延伸方向在所述導軌的平面上滑動；

所述第二支架用于驅動所述導軌以所述攝像頭的中心點為圓心作圓周運動；所述轉動軸與所述導軌的平面具有一連接點，所述連接點到所述攝像頭的中心點的連線作為所述圓周運動的半徑；所述第二支架驅動所述導軌作圓周運動的過程中保持所述導軌的平面與所述連線垂直；所述第二支架還用于驅動所述導軌以所述轉動軸為軸心轉動。

2.根據權利要求1所述的攝像頭解析度測試系統，其特征在于，所述轉動軸與所述導軌的平面相接處為所述導軌的中心位置，所述連接點位于所述導軌的中心位置。

3.根據權利要求1所述的攝像頭解析度測試系統，其特征在于，還包括至少一個光箱；

所述測試卡位于所述光箱的光照范圍內，所述光箱用于根據測試的需求向所述測試卡提供光照條件。

4.根據權利要求3所述的攝像頭解析度測試系統，其特征在于，還包括擋板；

所述擋板設置在所述光箱和所述攝像頭之間，用于防止所述光箱的光線直射到所述攝像頭上。

5.根據權利要求1所述的攝像頭解析度測試系統，其特征在于，還包括智能處理設備；

所述智能處理設備與所述攝像頭電性連接，用于根據所述攝像頭獲取的所述測試卡的圖像分析出所述攝像頭的解析度。

6.一種攝像頭解析度測試方法，其特征在于，應用于權利要求1-5任意一項所述的攝像頭解析度測試系統，所述方法包括：

調整所述攝像頭與所述導軌之間的距離；

將所述測試卡沿所述導軌移動到所述攝像頭的視場內，并靠近所述視場中當前測試的視場角度；

沿所述導軌的延伸方向微調所述測試卡的位置，直至恰好能從所述攝像頭中分辨出的當前測試的視場角度在所述測試卡上對應的測試線；

根據所述攝像頭當前顯示的測試線圖像獲取當前測試的視場角度的解析度；

驅動所述導軌做所述圓周運動，以測試所述攝像頭視場內其他視場角度的解析度。

7.根據權利要求6所述的攝像頭解析度測試方法，調整所述攝像頭與所述導軌之間的距離時，其特征在于，使所述圓周運動的半徑與所述攝像頭的對焦距離相等。

8.根據權利要求6所述的攝像頭解析度測試方法，將所述測試卡沿所述導軌移動到所述攝像頭的視場內時，其特征在于，使所述測試卡覆蓋住所述轉動軸與所述導軌平面之間的所述連接點。

9.根據權利要求6所述的攝像頭解析度測試方法，其特征在于，所述方法還包括：向所述測試卡提供測試所需的光照條件。

10.根據權利要求6所述的攝像頭解析度測試方法，其特征在于，獲取當前測試的視場角度的解析度時，所述方法包括：

以所述轉動軸為軸心轉動所述導軌，測試所述攝像頭當前視場角度下任意角度的解析度；

所述任意角度的解析度包括：所述攝像頭當前同一視場角度下的水平解析度、垂直解析度以及水平方向和垂直方向之間的任意方向的解析度。