[發(fā)明專利]一種類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件及其制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811469105.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-03 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109585650B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊玉超;程彩蝶;黃如 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L45/00 | 分類號(hào): | H01L45/00 |
| 代理公司: | 北京萬(wàn)象新悅知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11360 | 代理人: | 李稚婷 |
| 地址: | 100871*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 種類 膠質(zhì) 細(xì)胞 神經(jīng) 形態(tài) 器件 及其 制備 方法 | ||
1.一種類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,包括絕緣襯底和位于襯底上的底電極、阻變層、介質(zhì)層和頂電極,其中,所述底電極位于絕緣襯底之上,所述介質(zhì)層位于底電極之上,該介質(zhì)層中經(jīng)圖形化刻蝕出孔結(jié)構(gòu),孔的底部暴露出底電極;所述阻變層覆蓋在該孔底部和側(cè)壁,以及包裹在該孔周圍的介質(zhì)層上;所述頂電極位于阻變層上;所述阻變層和介質(zhì)層皆為半導(dǎo)體材料,但阻變層中的離子遷移率或離子濃度與介質(zhì)層不同,且介質(zhì)層的厚度大于阻變層,使器件的阻變發(fā)生在阻變層中。
2.如權(quán)利要求1所述的類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,其特征在于,所述介質(zhì)層比阻變層厚20nm以上。
3.如權(quán)利要求1所述的類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,其特征在于,所述孔結(jié)構(gòu)的底面積在100μm2以下。
4.如權(quán)利要求1所述的類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,其特征在于,所述阻變層采用金屬氧化物材料,厚度為5nm~100nm;或者采用有機(jī)材料,厚度為30nm~500nm。
5.如權(quán)利要求1所述的類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,其特征在于,所述介質(zhì)層采用氧化物材料,厚度為30~200nm。
6.如權(quán)利要求1所述的類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,其特征在于,所述阻變層材料選自下列化合物中的一種或多種:TaOx、HfOx、NbOx、TiOx和HfZrxOy,其中x、y代表氧化物中相應(yīng)元素的占比。
7.如權(quán)利要求1所述的類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件,其特征在于,所述介質(zhì)層材料選自下列化合物中的一種或多種:SiO2、TiO2、Al2O3、HfO2、Ta2O5和ZrO2。
8.權(quán)利要求1~7任一所述類膠質(zhì)細(xì)胞神經(jīng)形態(tài)器件的制備方法,包括以下步驟:
1)在絕緣襯底上光刻定義底電極的圖形,制備底電極;
2)在絕緣襯底和底電極上淀積介質(zhì)層材料,制備介質(zhì)層;
3)在介質(zhì)層上光刻定義阻變層圖形,刻蝕介質(zhì)層,刻蝕截至層為底電極,去除光刻膠,在介質(zhì)層上形成孔結(jié)構(gòu);
4)淀積阻變層,覆蓋步驟3)形成的孔結(jié)構(gòu)的底面和側(cè)壁,以及孔周圍的介質(zhì)層;
5)在阻變層上光刻定義頂電極圖形,制備頂電極;
6)光刻定義底電極引出孔的圖形,刻蝕阻變層和介質(zhì)層,刻蝕截至層為底電極,去除光刻膠,形成底電極引出孔。
9.如權(quán)利要求8所述的制備方法,其特征在于,步驟1)制備底電極和步驟5)制備頂電極的方法是物理氣相沉積。
10.如權(quán)利要求8所述的制備方法,其特征在于,步驟2)制備介質(zhì)層的方法是磁控濺射、等離子體增強(qiáng)化學(xué)氣相沉積法或原子層沉積;步驟4)制備阻變層的方法是反應(yīng)濺射、磁控濺射或原子層沉積。
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