[發明專利]散射光信號強度獲取方法和裝置

有效

• 申請號: 201811465741.1
• 申請日: 2018-12-03
• 公開（公告）號: CN111256816B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 張達;王繼軍;江學舟
• 申請（專利權）人: 北京世紀朝陽科技發展有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01M11/02
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本公開涉及一種散射光信號強度獲取方法和裝置。該方法應用于廣角光散射設備，該方法包括：在旋轉臂處于散射角度θ₁下時，控制圖像采集部件采集被測樣品對應的散射光圖像；確定散射光圖像的初始光信號強度；根據初始光信號強度，確定消除雜散光信號強度之后的有效光信號強度；根據有效光信號強度，確定在設定狹縫寬度下被測樣品對應的散射光信號強度。本公開能夠確定設定狹縫寬度下被測樣品對應的散射光信號強度，從而可以得到設定狹縫寬度滿足測量需求時的最優測量效果。

技術領域

本公開涉及光學散射技術領域，尤其涉及一種散射光信號強度獲取方法和裝置。

背景技術

廣角靜態光散射是一種通過在多個散射角度處測量散射光信號強度來確定樣品中相關參數的技術。例如，通過廣角靜態光散射，可以確定樣品中微粒的平均分子量。

圖1示出相關技術中廣角靜態光散射設備的結構示意圖。如圖1所示，激光器出射的激光被透鏡(L1)會聚到樣品池中央放置的被測樣品，在透鏡前后有各有一個小孔光闌(S1和S2)。以θ角出射的散射光依次通過偏振分析器(P)、小孔光闌(S3)、透鏡(L2)、狹縫(SLIT)、可調小孔(AW)和可調濾光片(FW)，最終被光電倍增管(PMT)接收并轉換為電信號，進而確定散射光信號強度。從偏振分析器開始，到光電倍增管為止的器件被統一地安裝在旋轉臂上。旋轉臂可以圍繞樣品池的中心旋轉。

在廣角光散射測量過程中，散射光信號強度是影響測量結果的重要參數，而通過改變狹縫寬度可以調整散射光信號強度。但是，在現有的廣角光散射設備中，狹縫的寬度是已經預先調節好的，無法實現在獲取散射光信號強度時進行改變，導致無法獲得最優的散射光信號強度。

發明內容

有鑒于此，本公開提出了一種散射光信號強度獲取方法和裝置，能夠確定設定狹縫寬度下被測樣品對應的散射光信號強度，從而實現最優的測量效果。

根據本公開的第一方面，提供了一種散射光信號強度獲取方法，所述方法應用于廣角光散射設備，所述廣角光散射設備包括激光源、旋轉臂、圖像采集部件及樣品倉，所述樣品倉處于靠近所述旋轉臂的旋轉中心的一端，所述圖像采集部件安裝在所述旋轉臂上遠離所述旋轉中心的一端，所述樣品倉中放置有被測樣品，其中，所述激光源發出的入射光束照射到所述被測樣品上并被所述被測樣品散射；所述方法包括：在所述旋轉臂處于散射角度θ₁下時，控制所述圖像采集部件采集所述被測樣品對應的散射光圖像；確定所述散射光圖像的初始光信號強度；根據所述初始光信號強度，確定消除雜散光信號強度之后的有效光信號強度；根據所述有效光信號強度，確定在設定狹縫寬度下所述被測樣品對應的散射光信號強度。

在一種可能的實現方式中，根據所述有效光信號強度，確定在設定狹縫寬度下所述被測樣品對應的散射光信號強度，包括：根據所述有效光信號強度，判斷是否存在干擾信號；當不存在干擾信號時，確定在設定狹縫寬度下所述被測樣品對應的散射光信號強度。

在一種可能的實現方式中，所述設定狹縫寬度包括多個模擬狹縫寬度，其中，根據所述有效光信號強度，確定在設定狹縫寬度下所述被測樣品對應的散射光信號強度，包括：根據所述有效光信號強度，在所述散射角度θ₁和每個模擬狹縫寬度下，分別確定所述被測樣品對應的散射光信號強度。

在一種可能的實現方式中，所述設定狹縫寬度包括多個模擬狹縫寬度，其中，根據所述有效光信號強度，確定在設定狹縫寬度下所述被測樣品對應散射光信號強度，包括：根據所述有效光信號強度，在散射角度θ₂和每個模擬狹縫寬度下，分別確定所述被測樣品對應的散射光信號強度，其中，所述散射角度θ₂與所述散射角度θ₁不同。