[發(fā)明專利]顯示面板缺陷標(biāo)記工具有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811465619.4 | 申請日: | 2018-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN109580636B | 公開(公告)日: | 2021-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張艦 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/88 | 分類號: | G01N21/88;G01M11/00 |
| 代理公司: | 深圳翼盛智成知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300 | 代理人: | 黃威 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示 面板 缺陷 標(biāo)記 工具 | ||
一種顯示面板缺陷標(biāo)記工具,包括:一內(nèi)環(huán)、一外環(huán)、一十字卡扣以及一激光定位器;其中,所述內(nèi)環(huán)設(shè)置于整個顯示面板缺陷標(biāo)記工具的中心;所述外環(huán)設(shè)置于所述顯示面板缺陷標(biāo)記工具的最外側(cè);所述十字卡扣設(shè)置于所述內(nèi)環(huán)和所述外環(huán)之間;所述激光定位器設(shè)置在所述內(nèi)環(huán)中心軸線上,可結(jié)合光學(xué)顯微鏡尋找液晶面板上的缺陷;有益效果:通過采用內(nèi)環(huán)、外環(huán)和十字卡扣三種不同的結(jié)構(gòu)組合成的缺陷標(biāo)記工具,可針對顯示面板上出現(xiàn)的不同的缺陷變換出七種不同的標(biāo)記方式,用于改善現(xiàn)有技術(shù)中手動標(biāo)記速度慢的缺陷以及激光標(biāo)記投入成本高且不能就不同種類的缺陷問題進(jìn)行分類的問題。
技術(shù)內(nèi)容
本發(fā)明涉及顯示領(lǐng)域,特別是涉及一種顯示面板缺陷標(biāo)記工具。
背景技術(shù)
目前,關(guān)于顯示面板缺陷標(biāo)記(Defect mark)的方式主要有兩種,一種是手動標(biāo)記,即通過目視觀察找到顯示面板上的缺陷位置后,再用筆圈出相應(yīng)的缺陷位置;第二種是激光標(biāo)記,即先結(jié)合光學(xué)顯微鏡找到顯示面板上缺陷的位置,再用激光對缺陷位置進(jìn)行標(biāo)記。這兩種缺陷標(biāo)記方式中,第一種標(biāo)記方式投入成本低但是速度較慢;第二種標(biāo)記方式速度快,但是成本投入較高,標(biāo)記方式也比較單一,不能明顯的將不同種類的缺陷問題(如點(diǎn)缺陷、線缺陷及異物缺陷等)進(jìn)行區(qū)別標(biāo)記。
因此,現(xiàn)有的顯示面板缺陷標(biāo)記技術(shù)中,還存在手動標(biāo)記缺陷速度慢以及激光標(biāo)記投入成本高且不能針對不同種類的缺陷問題進(jìn)行分類的問題,急需改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及一種顯示面板缺陷標(biāo)記工具,用于改善現(xiàn)有技術(shù)中存在的手動標(biāo)記速度慢的缺陷以及激光標(biāo)記投入成本高且不能針對不同種類的缺陷問題進(jìn)行分類的問題。
為解決上述問題,本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下:
本發(fā)明提供的一種顯示面板缺陷標(biāo)記工具,包括:一內(nèi)環(huán)、一外環(huán)、一十字卡扣以及一激光定位器;其中,
所述內(nèi)環(huán)設(shè)置于整個顯示面板缺陷標(biāo)記工具的中心;
所述外環(huán)設(shè)置于所述顯示面板缺陷標(biāo)記工具的最外側(cè);
所述十字卡扣設(shè)置于所述內(nèi)環(huán)和所述外環(huán)之間;
所述激光定位器設(shè)置在所述內(nèi)環(huán)中心軸線上,可結(jié)合光學(xué)顯微鏡尋找液晶面板上的缺陷。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)和所述外環(huán)均為一中空圓柱體,所述十字卡扣為一中空的十字立方體。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述十字卡扣其中一段設(shè)置有中間環(huán)。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述中間環(huán)的外徑大于所述內(nèi)環(huán)的外徑,小于所述外環(huán)的內(nèi)徑;所述中間環(huán)的內(nèi)徑大于所述內(nèi)環(huán)的外徑,小于所述外環(huán)的內(nèi)徑。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)、所述外環(huán)以及所述十字卡扣的高度均相等;所述中間環(huán)的高度小于所述內(nèi)環(huán)的高度。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)、所述外環(huán)以及所述十字卡扣均包括第一端面、第二端面;所述內(nèi)環(huán)和所述外環(huán)還包括內(nèi)壁和外壁。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)、所述十字卡扣以及所述外環(huán)之間可通過螺紋連接或是凹槽連接。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)、所述外環(huán)和所述十字卡扣的第一端面、第二端面之間的相對位置高度可處于同一平面或是不同平面。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)外壁設(shè)置的螺紋為內(nèi)螺紋,所述外環(huán)內(nèi)壁設(shè)置的螺紋為外螺紋。
根據(jù)本發(fā)明提供的一優(yōu)選實(shí)施例,所述內(nèi)環(huán)外壁處和所述外環(huán)內(nèi)壁處設(shè)置有凹槽。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





