[發(fā)明專利]一陣列模組光軸檢測(cè)系統(tǒng)及其方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201811465389.1
• 申請(qǐng)日: 2018-12-03
• 公開（公告）號(hào): CN111256953B
• 公開（公告）日: 2022-03-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張勝;黃宇;廖海龍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 寧波舜宇光電信息有限公司
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02
• 代理公司: 上海聯(lián)益知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 31427
• 代理人: 尹飛宇

1.一陣列模組光軸檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：

藉由一陣列模組對(duì)同一具有多個(gè)目標(biāo)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)象拍攝獲取的至少兩個(gè)圖像，處理得到相互對(duì)應(yīng)的一第一標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)和一第二標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)；

將所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)轉(zhuǎn)化在同一坐標(biāo)系中；

基于經(jīng)轉(zhuǎn)化后的所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)，在一標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系中構(gòu)建一差異圖形；以及

基于所述差異圖形，獲得所述陣列模組的光軸相對(duì)傾斜度是否滿足要求的結(jié)果；其中所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像包括一第一固定參考區(qū)域和一第一差異值區(qū)域，其中所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像包括一第二固定參考區(qū)域和一第二差異值區(qū)域，其中，在將所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)轉(zhuǎn)化在同一坐標(biāo)系中的步驟中，包括：

以所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像的所述第一固定參考區(qū)域的目標(biāo)點(diǎn)坐標(biāo)為固定參考點(diǎn)，以所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像的所述第二固定參考區(qū)域的目標(biāo)點(diǎn)坐標(biāo)所在的坐標(biāo)系為轉(zhuǎn)化坐標(biāo)系，通過平移縮放將所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)轉(zhuǎn)化在同一坐標(biāo)系中；

其中在基于經(jīng)轉(zhuǎn)化后的所述第一標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的所述第二標(biāo)點(diǎn)圖像的各目標(biāo)點(diǎn)的坐標(biāo)，在一標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系中構(gòu)建一差異圖形的步驟中，包括：

基于經(jīng)轉(zhuǎn)化后的各所述第一差異值區(qū)域的目標(biāo)點(diǎn)坐標(biāo)與對(duì)應(yīng)的各所述第二差異值區(qū)域的目標(biāo)點(diǎn)坐標(biāo)，獲得一組坐標(biāo)差異值；和

藉由在所述標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系中設(shè)置具有固定間距的一組固定點(diǎn)，根據(jù)各所述固定點(diǎn)的坐標(biāo)值與各所述坐標(biāo)差異值，獲得一組頂點(diǎn)坐標(biāo)以構(gòu)建所述差異圖形；

其中在獲得所述陣列模組的光軸相對(duì)傾斜度是否滿足要求的結(jié)果的步驟中，包括：

分別獲得所述差異圖形的各邊的斜率差；和

根據(jù)所述差異圖形的各邊的斜率差與被預(yù)設(shè)的至少一閾值的對(duì)比，獲得所述陣列模組的光軸相對(duì)傾斜度是否滿足要求的結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的陣列模組光軸檢測(cè)方法，其中在獲得一組坐標(biāo)差異值的步驟中包括：

計(jì)算經(jīng)轉(zhuǎn)化后的兩所述標(biāo)點(diǎn)圖像的對(duì)應(yīng)的各所述差異值區(qū)域的對(duì)應(yīng)的各所述目標(biāo)點(diǎn)之間的分別在X軸方向和Y軸方向的坐標(biāo)差值；和

計(jì)算每對(duì)應(yīng)的所述差異值區(qū)域內(nèi)的對(duì)應(yīng)的各所述目標(biāo)點(diǎn)之間的一組坐標(biāo)差值分別在X軸的坐標(biāo)差值的平均值和Y軸的坐標(biāo)差值的平均值，并得到分別對(duì)應(yīng)各所述差異值區(qū)域位置的一組所述坐標(biāo)差異值。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的陣列模組光軸檢測(cè)方法，其中在所述獲得一組頂點(diǎn)坐標(biāo)的步驟中包括：

在所述標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系中以一個(gè)在X軸方向長(zhǎng)度為A，在Y軸方向長(zhǎng)度為B的長(zhǎng)方形或者正方形的四個(gè)頂點(diǎn)的坐標(biāo)作為各所述固定點(diǎn)的坐標(biāo)；和

根據(jù)各所述固定點(diǎn)的坐標(biāo)值分別與各所述坐標(biāo)差異值的坐標(biāo)算數(shù)值，獲得四個(gè)所述頂點(diǎn)坐標(biāo)的坐標(biāo)值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的陣列模組光軸檢測(cè)方法，其中在獲得所述陣列模組的光軸相對(duì)傾斜度是否滿足要求的結(jié)果的步驟中包括：

分別獲得所述差異圖形的左右邊斜率的第一斜率差與上下邊斜率的第二斜率差；和

根據(jù)所述第一斜率差與被預(yù)設(shè)的一第一閾值的對(duì)比和所述第二斜率差與被預(yù)設(shè)的一第二閾值的對(duì)比，獲得所述陣列模組的光軸相對(duì)傾斜度是否滿足要求的結(jié)果。

5.根據(jù)權(quán)利要求1或者4所述的陣列模組光軸檢測(cè)方法，其中基于不同的所述陣列模組的規(guī)格型號(hào)，預(yù)設(shè)各所述閾值。