[發(fā)明專利]用于母粒檢測的設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811465048.4
• 申請日: 2018-12-03
• 公開（公告）號: CN109596777B
• 公開（公告）日: 2021-08-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張春琦;凌健
• 申請（專利權(quán)）人: 寧波優(yōu)禾新材料科技有限公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 北京君恒知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11466
• 代理人: 鄭黎明

1.用于母粒檢測的設(shè)備,包括金屬檢測分離模塊（1），水分檢測模塊（2）和母粒篩選烘干模塊（3），其特征在于：

所述金屬檢測分離模塊（1）包括物料投入筒（11），所述物料投入筒（11）底部連接有金屬分離器（12），所述金屬分離器（12）底部設(shè)置有第一物料傳輸通道（13）和第二物料傳輸通道（14），所述第二物料傳輸通道（14）通向第二物料箱（15），所述第二物料箱（15）用于存放金屬雜質(zhì)，所述第一物料傳輸通道（13）通向第一物料箱（16），所述第一物料箱（16）用于存放無金屬雜質(zhì)的物料，所述第一物料箱（16）底部設(shè)有出口；所述金屬分離器（12）表面設(shè)置有金屬屏蔽層，所述金屬屏蔽層接地；金屬分離器內(nèi)部設(shè)置有一個出風(fēng)口，母粒從物料投入筒內(nèi)放入，由于重力往下墜落進(jìn)入L型傳輸通道，出風(fēng)口從左往右出風(fēng)，將密度小、質(zhì)量輕的母粒吹進(jìn)所述第一物料傳輸通道至第一物料箱，而密度大、質(zhì)量重的金屬雜質(zhì)則進(jìn)入所述第二物料傳輸通道至第二物料箱，完成金屬與母粒的分離；

所述水分檢測模塊（2）包括物料取樣裝置（21），所述物料取樣裝置（21）從第一物料箱（16）內(nèi)取樣，所述物料取樣裝置（21）連接有水分檢測儀（22），所述水分檢測儀（22）將水分檢測結(jié)果信息傳導(dǎo)給處理器（23）；

所述母粒篩選烘干模塊（3）包括第三物料箱（31），所述第三物料箱（31）內(nèi)壁上設(shè)置有滑軌，所述滑軌上設(shè)置有推平桿（35），所述第三物料箱（31）與所述第一物料箱（16）出口相連接，所述第三物料箱（31）內(nèi)部設(shè)置有過濾層（32），所述第三物料箱（31）底部設(shè)置有加熱裝置（33），所述加熱裝置（33）設(shè)置有向上出風(fēng)口（34），所述處理器（23）根據(jù)所述水分檢測儀（22）的水分檢測結(jié)果控制所述加熱裝置（33）溫度、所述出風(fēng)口（34）的風(fēng)力和所述推平桿（35）滑動速率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于母粒檢測的設(shè)備，其特征在于，所述物料投入筒（11）為倒置圓錐狀。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于母粒檢測的設(shè)備，其特征在于，所述第一物料箱（16），第二物料箱（15）和第三物料箱（31）表面設(shè)置有防腐防磨涂層。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于母粒檢測的設(shè)備，其特征在于，所述第三物料箱（31）箱壁上設(shè)置有氣孔，所述第三物料箱（31）為圓筒形。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于母粒檢測的設(shè)備，其特征在于，所述推平桿（35）底部設(shè)置有若干個凸起。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于母粒檢測的設(shè)備，其特征在于，所述過濾層（32）過濾孔直徑在4-6mm。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于母粒檢測的設(shè)備，其特征在于，所述推平桿（35）與第三物料箱（31）內(nèi)壁存在一定角度，角度在30-50°之間。