[發明專利]一種具有電磁測試特性的載體

有效

• 申請號: 201811462505.4
• 申請日: 2018-12-03
• 公開（公告）號: CN109633286B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 周萍;徐伊達;黃坤山;許云飛
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 成都君合集專利代理事務所(普通合伙) 51228
• 代理人: 張鳴潔

本發明公開了一種具有電磁測試特性的載體，包括外表面和包絡曲面，所述外表面與包絡曲面共邊線形成載體，所述外表面上設置有機艙腔體，所述機艙腔體內設置有天線安裝腔體；所述外表面包括兩個尖點、上輪廓線以及下輪廓線，兩個所述尖點為上輪廓線與下輪廓線的交點，兩個所述尖點位于機艙腔體相對的兩側；所述上輪廓線上任意一點的切線與兩個尖點的連線的夾角小于四十五度，所述下輪廓線上任意一點的切線與兩個尖點的連線的夾角小于四十五度；所述外表面與包絡曲面共邊線形成的載體呈橄欖狀；所述機艙腔體為梯形凹腔，兩個所述尖點分別位于梯形凹腔的兩腰外側，解決了天線在裝機條件下受周圍結構的影響，難以準確測試其電磁散射特性的問題。

技術領域

本發明涉及電磁測試特性領域，具體的說，是一種具有電磁測試特性的載體。

背景技術

隨著航空電子技術及現代科學技術的發展，隱身技術在軍事以及民用的重要性越來越顯著。世界各國在這方面做了許多工作，并成功地將隱身技術應用于航空、航天等領域。隱身技術包括雷達波、紅外、可見光及聲隱身等，由于雷達探測系統的迅猛發展及其探測目標的可靠性，因此當前重點發展的是雷達波隱身技術。雷達隱身技術是通過減弱、抑制、吸收、偏轉目標的雷達波，降低其雷達散射截面（Radar Cross Section），使其在一定范圍內難以被敵方雷達識別和發現的技術。

當電磁波照射到物體上，它的能量會向各個方向發生散射，入射場和散射場共同形成了空間總場；從射線的方面來說，其中物體外表面的反射和不連續性導致的繞射等形成了散射場；從感應電流的方面來說，散射場主要來自于物體外表面的感應電磁流和電磁荷的二次輻射。而用于定量表征目標散射強弱的物理量稱為目標對入射雷達波的有效散射截面積，通常稱作目標的雷達散射截面或雷達截面，該截面是指雷達目標反射或散射能量時所通過的一個有效接收面積的口徑。

近年我國航空航天領域發展迅猛，內埋天線的應用逐漸普及，對其裝機條件下的電磁散射特性測試是一項非常重要的工作。受內埋裝機條件的影響，天線在裝機條件下受周圍結構的影響，難以準確測試其電磁散射特性。

發明內容

本發明的目的在于提供一種具有電磁測試特性的載體，該載體的外表面和包絡曲面將安裝天線的機艙腔體包覆，而機艙腔體內安裝天線，利用曲面能濾除電磁波的特性，設定特定曲面度的曲面將影響天線工作的特定頻段的電磁波濾除，解決天線在裝機條件下受周圍結構的影響，難以準確測試其電磁散射特性的問題。

本發明通過下述技術方案實現：

一種具有電磁測試特性的載體，包括外表面和包絡曲面，所述外表面與包絡曲面共邊線形成載體，所述外表面上設置有機艙腔體，所述機艙腔體內設置有天線安裝腔體。

優選地，所述外表面包括兩個尖點、上輪廓線以及下輪廓線，兩個所述尖點為上輪廓線與下輪廓線的交點，兩個所述尖點位于機艙腔體相對的兩側。

優選地，所述上輪廓線與下輪廓線均為二階曲線。

優選地，所述上輪廓線上任意一點的切線與兩個尖點的連線的夾角小于四十五度，所述下輪廓線上任意一點的切線與兩個尖點的連線的夾角小于四十五度。

優選地，所述外表面與包絡曲面共邊線形成的載體呈橄欖狀。

優選地，所述機艙腔體為梯形凹腔，兩個所述尖點分別位于梯形凹腔的兩腰外側。

優選地，所述包絡曲面由人工電磁材料制成。

優選地，所述天線安裝腔體位于機艙腔體的底部，所述天線安裝腔體內設置有安裝接口。

優選地，所述安裝接口數量為四個。

工作原理及安裝方法：