[發明專利]一種極片加工檢測線

在審

• 申請號: 201811459324.6
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109622668A
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 張俊峰;葉長春;黃家富
• 申請（專利權）人: 廣州超音速自動化科技股份有限公司
• 主分類號: B21D1/02
• 分類號: B21D1/02;B21C51/00;B23P23/06;B08B1/02;B08B15/04;G01B11/24;G01N21/01;G01N21/86
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 楊艷;韓丹

本發明公開了一種極片加工檢測線，包括極耳成型機構、第一輸送機構、切斷機構、第二輸送機構、除塵機構、第一整平機構和第一檢測機構；極耳成型機構用于在極片帶上形成極耳；第一輸送機構用于將經極耳成型機構處理的極片帶往切斷機構的方向輸送；切斷機構用于接收極片帶，并將極片帶切斷以形成極片；第二輸送機構用于接收極片，并向第一整平機構的方向輸送；除塵機構用于清除第二輸送機構輸送的極片表面灰塵；第一整平機構用于接收第二輸送機構輸送的極片，并將極片整平；第一檢測機構用于檢測經第一整平機構整平的極片朝上表面外觀是否合格。本發明的一種極片加工檢測線，其能清除極片表面粉塵并整平極片，以確保后期檢測結果的可靠性。

技術領域

本發明涉及一種加工檢測線，尤其涉及一種極片加工檢測線。

背景技術

目前，由于對安全性、品質一致性的要求不斷的提高，不良產品的產生在所難免；故，極片的一般的加工檢測流程為：將極片帶加工成單片極片，之后對極片進行外觀質量進行拍攝檢測；但是，由于極片在輸送過程中其表面容易粘附灰塵，且易產生褶皺，而影響后期拍攝檢測的結果。

發明內容

為了克服現有技術的不足，本發明的目的在于提供一種極片加工檢測線，其能清除極片表面粉塵并整平極片，以確保后期檢測結果的可靠性。

本發明的目的采用如下技術方案實現：

一種極片加工檢測線，包括極耳成型機構、第一輸送機構、切斷機構、第二輸送機構、除塵機構、第一整平機構和第一檢測機構；所述極耳成型機構用于在極片帶上形成極耳；所述第一輸送機構用于將經所述極耳成型機構處理的極片帶往所述切斷機構的方向輸送；所述切斷機構用于接收所述極片帶，并將所述極片帶切斷以形成極片；所述第二輸送機構用于接收所述極片，并向所述第一整平機構的方向輸送；所述除塵機構包括第一支架、殼體、直線驅動結構、毛刷輥、抽氣機和第一旋轉驅動結構；所述殼體可升降地安裝在所述第一支架上，并具有腔體；所述抽氣機用于抽取所述腔體內的氣體；所述直線驅動結構用于帶動所述殼體運動；所述毛刷輥樞接在所述腔體內，并位于所述第二輸送機構正上方；所述第一旋轉驅動結構用于帶動所述毛刷輥旋轉；所述第一整平機構用于接收所述第二輸送機構輸送的極片，并將所述極片整平；所述第一檢測機構用于檢測經所述第一整平機構整平的所述極片朝上表面外觀是否合格。

進一步地，所述除塵機構還包括彈塵輥；所述彈塵輥樞接在所述腔體內并，且所述彈塵輥的外表面還所述毛刷輥的刷絲相接觸。

進一步地，所述第一整平機構包括第二支架、第一擠壓輥、第二擠壓輥和第二旋轉驅動結構；所述第一擠壓輥和所述第二擠壓輥分別樞接在所述第二支架上；所述第一擠壓輥和所述第二擠壓輥之間形成供所述極片通道的擠壓通道；所述第二旋轉驅動結構用于帶動所述第一擠壓輥旋轉。

進一步地，所述第一檢測機構包括光源組件、攝像機和計算機；所述光源組件用于給所述極片提供光源；所述攝像機用于攝取所述極片的外觀信息，并將所述外觀信息發送至所述計算機。

進一步地，所述切斷機構包括第三支架、極片切刀、第一動力單元和承托臺；所述極片切刀可升降地安裝在所述第三支架上；所述極片切刀用于與所述承托臺側壁相切，以切斷極片帶；所述第一動力單元用于帶動所述極片切刀相對所述承托臺的側壁上下運動。

進一步地，所述第一動力單元包括旋轉電機、第一傳動件和第二傳動件；所述第一傳動件的一端與所述極片切刀鉸接，另一端與所述第二傳動件的一端鉸接；所述第二傳動件的另一端與所述旋轉電機輸出軸固定連接，所述旋轉電機的機體固定在所述第三支架上。

進一步地，所述極耳成型機構包括第四支架、第一壓板、第二壓板、U型切刀和第二動力單元；所述第一壓板可升降地安裝在所述第四支架上；所述第二動力單元用于帶動所述第一壓板運動；所述第一壓板側邊形成有U型槽；所述第二壓板安裝在所述第四支架上，并位于所述第一壓板的正下方；所述U型切刀安裝在所述第四支架上，并用于與所述U型槽的槽壁相切。