[發明專利]一種太赫茲時域光譜檢測裝置

在審

• 申請號: 201811457948.4
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109507146A
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 楊正華;祁春超;譚信輝
• 申請（專利權）人: 深圳市華訊方舟太赫茲科技有限公司;華訊方舟科技有限公司
• 主分類號: G01N21/3586
• 分類號: G01N21/3586
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

本申請提出了一種太赫茲時域光譜檢測裝置。太赫茲時域光譜檢測裝置包括：激勵源；第一光纖耦合器，與激勵源耦接，用于將輸出光束分為第一輸出光束和第二輸出光束；至少一個第二光纖耦合器，與第一光纖耦合器耦接，用于將第一輸出光束分為第一發射光束和第二發射光束；發射電路，與第二光纖耦合器耦接，用于產生并發射第一太赫茲發射信號至第一樣品表面，產生并發射第二太赫茲發射信號發射至第二樣品表面；至少一個第三光纖耦合器，與第一光纖耦合器耦接；接收電路，與第三光纖耦合器耦接，用于接收第一太赫茲發射信號和第二太赫茲發射信號。本申請的太赫茲時域光譜檢測裝置通過一個激勵源能夠同時檢測兩組被測樣品的時域光譜。

技術領域

本申請涉及光譜技術相關領域，具體涉及一種太赫茲時域光譜檢測裝置。

背景技術

現有的太赫茲時域光譜儀一般采用單一激光器，因此只能輸出一組太赫茲信號，從而檢測單組的被測樣品。當需要檢測多組被測樣品，只能分步檢測，無法同時檢測多組被測樣品。

發明內容

本申請提供一種太赫茲時域光譜檢測裝置，以解決現有技術中太赫茲時域光譜儀無法同時檢測多組被測樣品的問題。

為解決上述技術問題，本申請提供了一種太赫茲時域光譜檢測裝置，所述太赫茲時域光譜檢測裝置包括：

激勵源，用于產生輸出光束；

第一光纖耦合器，與所述激勵源耦接，用于將所述輸出光束分為第一輸出光束和第二輸出光束；

至少一個第二光纖耦合器，與所述第一光纖耦合器耦接，用于接收所述第一太赫茲信號，并將所述第一輸出光束分為第一發射光束和第二發射光束；

發射電路，與所述第二光纖耦合器耦接，用于從所述第二光纖耦合器接收到所述第一發射光束和第二發射光束，根據所述第一發射光束產生所述第一太赫茲發射信號，并發射至第一樣品表面；根據所述第二發射光束產生所述第一太赫茲發射信號，并發射至第二樣品表面；

至少一個第三光纖耦合器，與所述第一光纖耦合器耦接，用于接收所述第二輸出光束，并將第二輸出光束分為第一接收光束和第二接收光束；

接收電路，與所述第三光纖耦合器耦接，用于接收通過所述第一樣品表面的第一太赫茲發射信號和通過所述第二樣品表面的第二太赫茲發射信號。

在本申請中，太赫茲時域光譜檢測裝置包括：激勵源，用于產生輸出光束；第一光纖耦合器，與激勵源耦接，用于將輸出光束分為第一輸出光束和第二輸出光束；至少一個第二光纖耦合器，與第一光纖耦合器耦接，用于接收第一太赫茲信號，并將第一輸出光束分為第一發射光束和第二發射光束；發射電路，與第二光纖耦合器耦接，用于從第二光纖耦合器接收到第一發射光束和第二發射光束，根據第一發射光束產生第一太赫茲發射信號，并發射至第一樣品表面；根據第二發射光束產生第一太赫茲發射信號，并發射至第二樣品表面；至少一個第三光纖耦合器，與第一光纖耦合器耦接，用于接收第二輸出光束，并將第二輸出光束分為第一接收光束和第二接收光束；接收電路，與第三光纖耦合器耦接，用于接收通過第一樣品表面的第一太赫茲發射信號和通過第二樣品表面的第二太赫茲發射信號。通過該太赫茲時域光譜檢測裝置可以獲得兩組太赫茲發射信號和兩組太赫茲接收信號，從而同時檢測第一樣品和第二樣品。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。其中：

圖1是本申請太赫茲時域光譜檢測裝置一實施例的結構示意圖；

圖2是本申請太赫茲時域光譜檢測裝置另一實施例的結構示意圖；

圖3是本申請寬頻可調諧太赫茲檢測裝置一實施例的結構示意圖；