[發明專利]一種復雜試驗現場溫度校準系統及方法在審
| 申請號: | 201811457657.5 | 申請日: | 2018-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN109632148A | 公開(公告)日: | 2019-04-16 |
| 發明(設計)人: | 常瑩;張永攀;趙華;馬車;白偉;楊建 | 申請(專利權)人: | 西安航天計量測試研究所 |
| 主分類號: | G01K15/00 | 分類號: | G01K15/00 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標代理有限公司 61211 | 代理人: | 汪海艷 |
| 地址: | 710100 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 多波長 比色 測溫裝置 紅外熱像 溫度場 溫度校準系統 測量系統 復雜試驗 恒溫熱源 現場校準 測點 試車 測量 溫度場測量系統 圖像處理系統 發動機試驗 紅外熱像儀 計算機連接 測量原理 測溫系統 實時校準 溫度測點 溫度數據 校準系數 校準系統 準確測量 間接法 熱源 比對 兩組 上傳 發動機 計算機 | ||
1.一種復雜試驗現場溫度校準系統,包括紅外熱像測量系統(1),其特征在于:還包括恒溫熱源(2)、比色及多波長測溫裝置(3)與計算機(4);所述紅外熱像測量系統(1)、比色及多波長測溫裝置(3)與計算機(4)連接;
所述紅外熱像測量系統(1)、恒溫熱源(2)及比色及多波長測溫裝置(3)均位于被測目標所在的溫場中;
所述紅外熱像測量系統(1)用于測量被測目標及恒溫熱源(2)的溫度,并將數據傳輸至計算機(4);
所述比色及多波長測溫裝置(3)用于測量恒溫熱源(2)的溫度,并將數據傳輸至計算機(4);
計算機(4)內存儲校準程序,校準程序在處理器中運行時,進行以下步驟:
1)、對比比色及多波長測溫裝置(3)所測恒溫熱源(2)的溫度與紅外熱像測量系統(1)所測恒溫熱源(2)的溫度,獲得紅外熱像測量系統(1)溫度偏差;
2)、將步驟1)獲取的溫度偏差反饋至紅外熱像測量系統(1)實現校準。
2.根據權利要求1所述的復雜試驗現場溫度校準系統,其特征在于:比色及多波長測溫裝置(3)與紅外熱像測量系統(1)距恒溫熱源(2)的距離及被測目標的距離相同。
3.根據權利要求1所述的復雜試驗現場溫度校準系統,其特征在于:所述恒溫熱源(2)包括恒溫熱源主體(21)及包裹在恒溫熱源主體(21)外部的防護層;
所述防護層包括防水層、減震層及防爆層。
4.根據權利要求3所述的復雜試驗現場溫度校準系統,其特征在于:還包括設置在恒溫熱源主體(21)底部的隔震墊(29)。
5.根據權利要求3所述的復雜試驗現場溫度校準系統,其特征在于:所述防水層包括PVC塑料紙層(22);所述減震層包括珍珠棉層(23)、石棉布層(24)及減震海綿層(25);所述防爆層包括防水防爆外殼(26)。
6.根據權利要求3所述的復雜試驗現場溫度校準系統,其特征在于:所述恒溫熱源主體(21)包括機箱(30)、黑體頭及設置在機箱(30)內部的散熱片(32)、加熱及測溫裝置(33)與半導體片(34);所述散熱片(32)通過固定機構(35)固定,散熱片(32)與機箱(30)內壁之間設置有減震彈簧(36);所述加熱及測溫裝置(33)與半導體片(34)周圍填充保溫隔震材料(37);所述黑體頭通過法蘭固定在機箱(30)外部,黑體頭的一側與半導體片輻射面(31)接觸,用于傳導的半導體片(34)的溫度。
7.根據權利要求6所述的復雜試驗現場溫度校準系統,其特征在于:所述加熱及測溫裝置(33)為控溫鉑電阻;所述法蘭為聚甲醛法蘭(38)。
8.利用權利要求1-7任一所述的復雜試驗現場溫度校準系統實現校準的方法,其特征在于,包括以下步驟:
S1:在被測目標起動瞬間,同時觸發比色及多波長測溫裝置(3)與紅外熱像測量系統(1);
S2:對比比色及多波長測溫裝置(3)所測恒溫熱源(2)溫度與紅外熱像測量系統(1)所測恒溫熱源(2)的溫度,獲得紅外熱像測量系統(1)溫度偏差;
S3:根據步驟S2獲取的溫度偏差,校準紅外熱像測量系統(1)對紅外熱像測量系統(1)的示值誤差進行修正。
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