[發明專利]測試和測量探針耦合器

在審

• 申請號: 201811455368.1
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109870596A
• 公開（公告）日: 2019-06-11
• 發明（設計）人: J.A.巴特萊特
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/067
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鄒松青;譚祐祥

一種測試和測量探針耦合器，其可以包括基質、第一信號抽頭導體、第一信號觸點、第一接地抽頭導體和第一接地觸點。第一信號抽頭導體可以沿基質延伸第一長度。第一信號觸點可以電聯接到第一信號抽頭導體，并且第一接地抽頭導體可以沿基質延伸第二長度。第一接地抽頭導體可以大體平行于第一信號抽頭導體。第一接地抽頭導體可以沿遠離第一信號抽頭導體的第一橫向方向設置，并且第一接地觸點可以電聯接到第一接地抽頭導體。

相關申請的交叉引用

本專利申請要求2017年12月1日提交的臨時申請No.62/593,859的權益，該臨時申請通過引用被并入到該專利申請中。

技術領域

本公開涉及測試和測量系統，并且更具體地涉及用于測試和測量系統的探針。

背景技術

諸如示波器的測試和測量儀的用戶通常使用探針來將諸如電路板的被測器件（DUT）連接到測試和測量儀的輸入，以顯示DUT中出現的電信號以及執行DUT中出現的電信號的測量。通常，用戶通過實現在探針的導電尖端與導電測試點（例如鍍金墊，或電路板中的電鍍通孔）之間的物理接觸而建立探針與DUT上的測試點之間的電連接。然而，其他時候存在探測行進通過DUT的如下部分的信號的需求，DUT的該部分沒有可以觸及的導電測試點，該部分例如是被阻焊層覆蓋的電路板跡線。

所公開的系統和方法的實施例解決了現有技術中的缺陷。

附圖說明

圖1是示出根據實施例的測試和測量探針耦合器的頂部側或探針側的部分的軸測圖。

圖2是示出圖1的探針耦合器的底部側或DUT側的部分的軸測圖。

圖3是示出在示例性簡化的DUT的目標跡線上的圖1的探針耦合器的軸測圖。

圖4示出了在如圖3那樣布置的DUT和探針耦合器之間的耦合的示例。

圖5是示出根據實施例的測試和測量探針耦合器的底部側或DUT側的部分的軸測圖。

圖6是示出在示例性簡化的DUT的一對目標跡線上的圖4的探針耦合器的軸測圖。

圖7是示出根據實施例的測試和測量探針耦合器的頂部側或探針側的部分的軸測圖。

圖8是沿圖7中所示的線截取的截面圖。

圖9示出了連接到示例性測試和測量系統上的示例性測試和測量探針耦合器。

圖10示出了根據實施例的使用測試和測量探針耦合器的示例性方法。

具體實施方式

如本文所描述的，所公開的技術的實施例使得（例如通過探測）能夠捕獲沿被測器件（DUT）中的諸如印刷電路板（PCB）或混合集成電路的結構行進的高速信號，而不會物理地接觸或破壞信號路徑。為了這么做，所公開的技術的實施例包括探針耦合器，該探針耦合器可以用作定向耦合器的一半，另一半是DUT中的目標跡線。雖然一些傳統的系統利用定向耦合器來確定在傳輸通道中傳播的信號的電壓和電流，但是這些系統需要破壞信號路徑以插入耦合器、或將耦合器建造到DUT的通道內。此外，所公開的技術的實施例包括將DUT的目標跡線中的信號關聯或校準到探針耦合器中的信號的方法。

圖1是示出根據實施例的測試和測量探針耦合器的頂部側或探針側的部分的軸測圖。圖2是示出圖1的探針耦合器的底部側或DUT側的部分的軸測圖。如圖1和圖2中所示，探針耦合器100可以包括基質101、第一信號抽頭導體102、第一信號觸點103、第一接地抽頭導體104、第一接地觸點105、第二接地抽頭導體106和第二接地觸點107。探針耦合器100被構造成置于待測的DUT的跡線上方，如下文將描述的。