[發明專利]一種徑向摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法

在審

• 申請號: 201811455062.6
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109507295A
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 陳大軍;李忠盛;吳護林;張隆平;代野;戴明輝;黃安慰;付揚帆
• 申請（專利權）人: 中國兵器工業第五九研究所
• 主分類號: G01N29/06
• 分類號: G01N29/06;G01N29/22
• 代理公司: 重慶晶智匯知識產權代理事務所(普通合伙) 50229
• 代理人: 李靖

1.一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，它是利用水浸超聲C掃描設備，分別經過待測工件的放置、探頭選擇及安裝、探頭與工件水距調節、超聲波參數設置、掃描參數設置、自動檢測、檢測完畢取出工件等步驟實現。

2.如權利要求1所述的一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，所述工件放置是根據待檢測工件的外徑尺寸，調整水浸超聲C掃描設備旋轉軸R軸的主動輪和從動輪間距為65mm~145mm，并將待檢測工件放置在設備R軸上，工件兩端進行限位固定，確保待檢測工件旋轉過程的同軸度和平行度；所述工件的外觀尺寸為φ30mm~φ170mm；壁厚為3mm~15mm。

3.如權利要求2所述的一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，所述探頭選擇及安裝是針對待檢測工件焊縫的壁厚，選擇高頻率聚焦探頭，并在水浸超聲C掃描設備Z軸上安裝，調節聚焦探頭角度及位置使聚焦探頭與待檢測工件焊縫指定表面垂直；所述聚焦探頭的頻率為15MHZ~25MHZ。

4.如權利要求3所述的一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，所述探頭與工件水距調節首先需打開A掃描界面，并調節安裝在Z軸上的探頭的上下位置，使工件表面發射波波峰達到滿幅的90%以上和底波波峰達到滿幅的75%~85%；所述探頭與工件水距為20mm~60mm。

5.如權利要求4所述的一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，所述超聲波參數設置是設置采樣頻率為100MHZ~250MHZ、檢測門檻為1%~10%、增益值為10dB~30dB，調整門檻位置，并根據對比試塊無損檢測結果進行微調，保證清晰檢測出預制缺陷。

6.如權利要求5所述的一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，所述掃描參數設置是根據待檢測工件外徑以及焊縫寬度尺寸，設置掃查長度為10mm~500mm；X軸、Y軸掃查靈敏度為0.1~0.9，掃查速度為50mm/s~250mm/s，R軸掃查靈敏度0.1~0.9，掃查速度30~60°/s，確保焊縫100%掃描。

7.如權利要求6所述的一種表征環/軸類構件摩擦焊接頭弱連接缺陷的無損檢測方法，其特征在于，所述自動檢測是對工件進行水浸超聲C掃描檢測，并調出界面波掃描圖譜，分析焊接缺陷面積、形狀、位置。