[發明專利]一種多晶硅還原爐內硅棒生長速率預估模型有效
| 申請號: | 201811454413.1 | 申請日: | 2018-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN109543916B | 公開(公告)日: | 2022-04-08 |
| 發明(設計)人: | 龍時雨;楊海東;徐康康;朱成就 | 申請(專利權)人: | 廣東工業大學 |
| 主分類號: | G06Q10/04 | 分類號: | G06Q10/04;G06Q50/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 廣東廣信君達律師事務所 44329 | 代理人: | 楊曉松 |
| 地址: | 510062 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多晶 還原 爐內硅棒 生長 速率 預估 模型 | ||
1.一種多晶硅還原爐內硅棒生長速率預估裝置,其特征在于,包括以下模塊:
數據采集及預處理模塊,用于通過傳感器采集與硅棒生長速率相關的數據,構建數據集,并對采集的數據進行數據清洗;所述與硅棒生長速率相關的數據,包括:爐內壓力,進氣速度,進料的氫氣量與三氯氫硅的量,硅棒表面溫度,進氣溫度,硅棒的直徑,歷史生長速率,硅棒對數,爐內壁溫度;
數據集篩選模塊,用于對數據采集模塊經過數據采集、數據清洗后的數據集進行篩選,得到訓練集和測試集;
訓練和評估模塊,用于對梯度提升決策樹模型進行訓練,利用平均相對誤差以及合格率對模型進行評估,具體包括:
(1)輸入訓練集,訓練集中樣本數為M;設置迭代次數T和損失函數L;所述的損失函數采用平方誤差損失函數,其中y表示樣本的真實值,y′(x)表示預測值;
(2)初始化弱學習器;
尋找使損失函數最小化的常數值c:
上式中,f0(X)為弱學習器,L(·)表示損失函數,yi表示第i個樣本的真實輸出值;
(3)開始迭代,總共迭代T次;
(3-1)計算負梯度;
計算每次迭代時損失函數的負梯度:rti=yi-ft-1(Xi);t=1,2...T,i=1,2...M,ft-1(Xi)表示第t-1次迭代得到的強學習器對樣本Xi的預測值;
(3-2)利用(Xi,rti)擬合弱回歸樹,得到第t棵弱回歸樹;其對應的葉結點區域為Rtj,其中j=1,2...J,J為第t棵弱回歸樹的葉子節點數,t=1,2,...T;
(3-3)針對葉節點區域Rtj,找到擬合葉子節點最好的輸出值ctj:
(3-4)更新強學習器:
其中,ft-1(X)為第t-1次迭代時的強學習器,ft(X)為更新后的強學習器,v的取值范圍是0<v≤1,I表示指示函數,當Xi∈Rtj時,其值為1,否則為0;
(4)迭代結束得到最終強學習器:
其中,fT(X)為經過T次迭代后得到的強學習器;
(5)利用測試集對強學習器進行評估,得到預測模型;
待預測模塊,用于輸入待預測特征向量;
預測結果模塊,用于將所述的待預測特征向量輸入到預測模型中,輸出預測結果。
2.如權利要求1所述的多晶硅還原爐內硅棒生長速率預估裝置,其特征在于,所述的對采集的數據進行數據清洗,包括:
記總共采集的樣本數量為m,對于數據集中的每一個樣本,如樣本中存在缺失數據,則將該缺失數據采用前一個生產周期、后一個生產周期中對應數據的平均值代替,以進行缺失值處理;對于異常值處理,利用統計學方法,從數據集中篩選出每一類數據的異常值,然后將該異常值作為缺失值進行處理,或用所有其他同類型數據的平均值來修正。
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