[發(fā)明專利]模型掃描裝置及其校正方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811453610.1 | 申請日： | 2018-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN111258056B | 公開（公告）日： | 2022-05-31 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 林庚達(dá);蔡元勛;胡博期 | 申請（專利權(quán)）人： | 財團(tuán)法人金屬工業(yè)研究發(fā)展中心 |
| 主分類號： | G02B26/10 | 分類號： | G02B26/10 |
| 代理公司： | 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205 | 代理人： | 吳志紅;臧建明 |
| 地址： | 中國臺灣高雄*** | 國省代碼： | 臺灣;71 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 模型 掃描 裝置 及其 校正 方法 | ||
1.一種模型掃描裝置，其特征在于，包括：
承載模組，設(shè)置在所述模型掃描裝置的裝置主體；
投影模組，設(shè)置在所述模型掃描裝置的所述裝置主體，并且位于所述承載模組上方；以及
取樣模組，可調(diào)整地設(shè)置在所述模型掃描裝置的延伸臂的定位架上，以傾斜地朝向所述承載模組，其中所述取樣模組通過夾角治具來定位取樣角度并通過對焦治具來進(jìn)行對焦，以依據(jù)所述取樣模組的取樣焦距來動態(tài)地調(diào)整所述取樣模組在所述定位架上的取樣位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模型掃描裝置，其中所述夾角治具設(shè)置于所述定位架上，并且位于所述取樣模組以及所述延伸臂之間，
其中所述夾角治具的第一側(cè)以及第二側(cè)分別頂靠所述取樣模組以及所述延伸臂，并且所述取樣模組的取樣路徑對準(zhǔn)于所述承載模組，
其中所述夾角治具的所述第一側(cè)相對于所述第二側(cè)，并且所述夾角治具的所述第一側(cè)不平行于所述第二側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的模型掃描裝置，其中所述取樣角度為所述投影模組至所述承載模組之間的投影路徑以及所述取樣模組至所述承載模組之間的所述取樣路徑之間的角度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的模型掃描裝置，其中所述對焦治具設(shè)置于所述承載模組上，以使所述投影路徑垂直于所述對焦治具的第一參考面，并且所述取樣路徑垂直于所述對焦治具的第二參考面，
其中所述對焦治具的所述第一參考面相鄰于所述第二參考面。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的模型掃描裝置，其中所述夾角治具的所述第一側(cè)與所述第二側(cè)之間具有第一角度，并且所述對焦治具的所述第一參考面與所述第二參考面之間具有第二角度，
其中所述第一角度等于所述取樣角度，并且所述第一角度與所述第二角度為互補(bǔ)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的模型掃描裝置，還包括：
處理器，耦接所述承載模組、所述投影模組以及所述取樣模組，并且用以控制所述承載模組、所述投影模組以及所述取樣模組，
其中當(dāng)所述模型掃描裝置執(zhí)行校正操作時，所述處理器通過所述投影模組投射校正圖形圖像至所述對焦治具的所述第一參考面以及所述第二參考面，以使所述取樣模組在所述定位架上的所述設(shè)置位置依據(jù)投射在所述第二參考面的所述校正圖形圖像來決定。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的模型掃描裝置，其中所述投影模組的投影焦距依據(jù)投射在所述第一參考面的所述校正圖形圖像來決定。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模型掃描裝置，其中所述取樣模組包括定焦鏡頭。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的模型掃描裝置，其中所述承載模組包括平面旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)以及垂直旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，當(dāng)所述模型掃描裝置執(zhí)行模型掃描操作時，所述承載模組的所述平面旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)以及所述垂直旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)用以旋轉(zhuǎn)，以使所述取樣模組多角度地取樣設(shè)置在所述承載模組上的模型物件。
10.一種校正方法，適用于模型掃描裝置，所述模型掃描裝置包括承載模組、投影模組以及取樣模組，其中所述投影模組設(shè)置于所述承載模組上方，并且所述取樣模組設(shè)置于所述模型掃描裝置的延伸臂的定位架上，以傾斜地朝向所述承載模組，其特征在于，所述校正方法包括：
將夾角治具設(shè)置于所述定位架上，并且位于所述取樣模組以及所述延伸臂之間，以通過所述夾角治具來定位所述取樣模組的取樣角度；
將所述夾角治具的第一側(cè)以及第二側(cè)分別頂靠所述取樣模組以及所述延伸臂，以使所述取樣模組的取樣路徑對準(zhǔn)于所述承載模組；以及
依據(jù)所述取樣模組的取樣焦距來決定所述取樣模組在所述定位架上的設(shè)置位置。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的校正方法，其中所述夾角治具的所述第一側(cè)相對于所述第二側(cè)，并且所述夾角治具的所述第一側(cè)不平行于所述第二側(cè)。
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