[發明專利]一種磨樣裝置

在審

• 申請號: 201811452625.6
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109352480A
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發明（設計）人: 劉毅;徐楊;蘇曉磊;賀辛亥;徐潔;屈銀虎;王俊勃;付翀;王彥龍
• 申請（專利權）人: 西安工程大學
• 主分類號: B24B19/22
• 分類號: B24B19/22;B24B41/02;B24B41/06;B24B47/12;G01N1/28
• 代理公司: 西安睿通知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 61218
• 代理人: 惠文軒

本發明公開了一種磨樣裝置，包括兩個H形支架和磨盤，兩個H形支架上端設有兩個橫梁，兩個橫梁之間架設有滑動部件，滑動部件左右移動；滑動部件上設有下壓部件；下壓部件下端設有彈性夾持件，彈性夾持件內是待磨試樣；兩個H形支架之間前后分別水平設置有第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿和第四滑動桿，第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿、第四滑動桿與待磨試樣之間水平設置有連接件；磨盤設于待磨試樣下方，磨盤上裝設有磨樣件。本發明解決了手工磨樣過程中出現的過磨或磨斜的問題，提高了介電參數測試的準確性；實現了結構疏松的待測試樣介電參數測試試樣制樣過程的標準化、規范化，避免了磨樣過程中對試樣的損壞。

技術領域

本發明涉及電磁屏蔽材料技術領域，尤其涉及一種磨樣裝置。

背景技術

隨著電子產品快速走進人們的生活，隨之而來的是電磁波污染，因此電磁屏蔽材料的研發就顯得尤為重要。介電性能是指在電場作用下，表現出對靜電能的儲蓄和損耗的性質，通常用介電常數和介質損耗來表示，材料的介電性能直接表征了材料的電磁屏蔽性能，因此，對材料介電性能的研究是解決電磁屏蔽問題的關鍵。

介電性能是指物質分子中的束縛電荷對外加電場的響應特性，通常主要由相對介電常數ε_r'、相對介質損耗因數ε_r〃、介質損耗角正切tanδ等參數來表征。在實驗研究過程中，材料的相對介電常數ε_r'和相對介質損耗因數ε_r〃是可以通過矢量網絡分析儀測試出來的，而在測試的過程中對樣品的的尺寸要求很嚴格，要求是規整的長方體，因此，一般燒結或噴涂所制備出來的試樣都需要經過磨樣以達到測試所要求的尺寸。

目前，實驗室均是采用手動人工用砂紙打磨來制備尺寸合適的試樣，而人工操作過程中會出現過磨或將試樣的邊磨成斜邊的現象，這樣的試樣無法完成介電參數的測試，需要進行重新制樣；即使勉強進行測試，測試結果的誤差很大準確率也會非常低。而傳統的鑲樣再磨樣的制樣過程，在試樣磨好后需要將整個鑲制樣砸碎，取出待測試樣，此過程會對待測試樣帶來一定程度的破壞，特別是在待測試樣為結構疏松、較脆的涂層時，該過程直接會導致試樣的破碎；且在夾持件的夾持力較大時，較脆的材料中極易出現微裂紋，微裂紋會導致介電參數測試結果誤差進一步加大。

發明內容

為了解決上述問題，本發明的目的是提出一種磨樣裝置，解決了手工磨樣過程中出現的過磨或磨斜的問題，實現了介電參數測試試樣尺寸的精準控制，進而大大的提高介電參數測試的準確性；同時實現了待測試樣為結構疏松、較脆的涂層時，介電參數測試試樣制樣過程的標準化、規范化，避免了磨樣過程中對試樣的損壞。

為了達到上述目的，本發明采用以下技術方案予以解決。

一種磨樣裝置，包括兩個H形支架和磨盤，兩個H形支架分別對稱設置于所述磨盤的左側和右側，兩個H形支架的上端設置有兩個橫梁，兩個橫梁之間架設有滑動部件，所述滑動部件沿橫梁左右移動；所述滑動部件上設置有下壓部件，所述下壓部件上下移動；所述下壓部件的下端設置有彈性夾持件，所述彈性夾持件內是待磨試樣；

兩個H形支架上前后分別水平設置有第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿和第四滑動桿，所述第一滑動桿與第二滑動桿位于同一水平面，所述第三滑動桿與第四滑動桿位于同一水平面，且所述第三滑動桿與第四滑動桿設置于所述第一滑動桿和第二滑動桿的上方，所述第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿和第四滑動桿分別左右移動；所述第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿、第四滑動桿與待磨試樣之間水平設置有連接件；所述第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿、第四滑動桿分別與連接件鉸接，且連接件繞對應的滑動桿在豎直面上逆時針轉動；

所述磨盤設置于待磨試樣下方，所述磨盤上裝設有磨樣件。

另外，本發明提供的磨樣裝置還可以具有以下附加技術特征：

優選的，還包括驅動部件，所述第一滑動桿、第二滑動桿、第三滑動桿和第四滑動桿分別與驅動部件連接。