[發明專利]一種基于特征點追蹤的橋梁非接觸式變形測量方法有效
| 申請號： | 201811452458.5 | 申請日： | 2018-11-30 |
| 公開（公告）號： | CN109559348B | 公開（公告）日： | 2021-09-28 |
| 發明（設計）人： | 張建;于姍姍;朱程鵬 | 申請（專利權）人： | 東南大學 |
| 主分類號： | G06T7/73 | 分類號： | G06T7/73;G06T7/33 |
| 代理公司： | 南京經緯專利商標代理有限公司 32200 | 代理人： | 藍霞 |
| 地址： | 210096 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 特征 追蹤 橋梁 接觸 變形 測量方法 | ||
1.一種基于特征點追蹤的橋梁非接觸式變形測量方法，其特征在于，包括以下步驟：
(1)圖像采集：加載前，將相機架設于橋面測點位置，調整相機鏡頭聚焦至豎向變形可忽略的結構位置，并采集初始參考圖；正式加載后，相機繼續采集圖像，作為變形圖；
(2)預估結構的最大絕對像素位移A；
(3)標定尺度參數s：采用激光測距儀測量相機CCD靶面距離聚焦位置的距離多次測量取均值，求尺度參數s1；通過結構已知物理尺寸在圖像中的像素距離，標定尺度參數s2，得s＝(s1+s2)/2；s1的公式如下：
式中，L是測點到相機光心的距離，lps是相機的像元尺寸，f為鏡頭焦距，(x，y)是測點像素坐標，(xc，yc)是圖像中心的像素坐標；
(4)在參考圖中框選計算區域，采用經典的SURF檢測器，對參考圖和變形圖進行特征點檢測，對最終確定的穩定特征點求解亞像素坐標；
(5)設定搜索半徑R＝A，根據參考圖中的待匹配特征點坐標，在變形圖中篩選出與待匹配特征點的像素坐標距離不超過R的目標特征點；
(6)基于BRISK描述器求解待匹配特征點和目標特征點的梯度和主方向，進而得到二進制描述符；
(7)基于描述符進行特征點匹配：求解待匹配特征點和各目標特征點之間的Hamming距離，以該距離最小作為原則，完成特征點匹配；
(8)對特征點在變形前后圖像中的亞像素縱坐標作差，得到亞像素位移d；
(9)通過尺度參數將亞像素位移轉換成物理位移D，得到不動基點相對測點的豎向位移。
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