[發明專利]密封圈試驗夾具

有效

• 申請號: 201811451695.X
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN110186619B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 郭婧宜;張麗
• 申請（專利權）人: 中航光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01M3/00
• 分類號: G01M3/00;G01M13/005
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 李天龍

本發明涉及檢測裝置，尤其涉及一種密封圈試驗夾具。密封圈試驗夾具，包括夾具體和設置在夾具體上用于容納密封圈的環槽，環槽的開口朝向環槽的徑向，密封圈試驗夾具還包括對處于環槽內的密封圈施加徑向壓力的施壓件，施壓件具有沿環槽的軸線延伸方向延伸的施壓面。本發明的密封圈試驗夾具上設有用于容納密封圈的環槽，施壓件對環槽內的密封圈施加徑向力，使密封圈徑向壓縮，檢測密封圈在徑向壓縮后的性能，因密封圈在使用時也是徑向受力，所以本發明的密封圈試驗夾具能夠減小檢測結果與實際使用性能之間的誤差。

技術領域

本發明涉及密封圈檢測裝置，尤其涉及一種密封圈試驗夾具。

背景技術

O型密封圈是密封組件中的一個重要零件，對于O型密封圈來說，它的密封性能非常重要，O型密封圈的密封性能是否合格直接影響密封組件的密封性能。現有技術通過檢測O型密封圈的壓縮永久變形率來檢測O型密封圈的密封性能。

授權公告號為CN204374004U，授權公告日為2015.06.03的中國實用新型專利公開了一種浮封O型密封圈壓縮永久變形率的檢測裝置，該裝置包括檢測試樣、檢測夾具、檢測設備，檢測夾具包括圓形壓板、限位塊和緊固件；圓形壓板平面作三定位孔，用以穿入緊固件，限位塊為套裝在緊固件上的圓環件，室溫下測初始試樣的截面直徑，將試樣平放圓形壓板上、緊固件穿入各壓板孔并套上限位塊，鎖緊檢測夾具后放120℃烘箱內，保溫72h，取出試樣恢復30min，再測截面直徑，計算壓縮永久變形率。該浮封O型密封圈壓縮永久變形率的檢測裝置結構簡單、檢測簡便、成效顯著。

但是該浮封O型密封圈壓縮永久變形率的檢測裝置用于檢測O型密封圈的軸向密封性能，一些情況下，O型密封圈在使用時其密封作用通過其徑向的密封性能實現，而使用上述浮封O型密封圈壓縮永久變形率的檢測裝置檢測出的O型密封圈的密封性能的結果相對于實際O型密封圈的密封性能誤差大。

發明內容

本發明的目的在于提供一種能夠對密封圈進行徑向壓縮試驗的密封圈試驗夾具。

為實現上述目的，本發明的密封圈試驗夾具的技術方案是：密封圈試驗夾具，包括夾具體和設置在夾具體上用于容納密封圈的環槽，環槽的開口朝向環槽的徑向，密封圈試驗夾具還包括對處于環槽內的密封圈施加徑向壓力的施壓件，施壓件具有沿環槽的軸線延伸方向延伸的施壓面。

本發明的有益效果是：本發明的密封圈試驗夾具上設有用于容納密封圈的環槽，施壓件對環槽內的密封圈施加徑向力，使密封圈徑向壓縮，檢測密封圈在徑向壓縮后的性能，因密封圈在使用時也是徑向受力，所以本發明的密封圈試驗夾具能夠減小檢測結果與實際使用性能之間的誤差。

進一步的，所述夾具體包括至少兩個層疊設置的基板和用于將各基板固定的固定件，環槽由相鄰基板圍成。其有益之處在于，方便密封圈的安裝和拆卸。

進一步的，所述環槽的槽口背向環槽的中心，施壓件為圍設在基板外圍用于對密封圈施加徑向作用力的壓縮套。其有益之處在于，方便環槽的加工。

進一步的，所述壓縮套為多個且壓縮套與環槽一一對應。其有益之處在于，減小密封圈與壓縮套的阻力，方便拆裝。

進一步的，相鄰所述壓縮套之間相互抵接定位。其有益之處在于，結構簡單，方便拆裝。

進一步的，至少一個基板上設有用于與壓縮套端面定位配合的定位面。其有益之處在于，防止壓縮套相對基板軸向滑動。

進一步的，處于外側的基板上設有所述定位面，相鄰壓縮套之間通過端面定位配合。其有益之處在于，便于基板和壓縮套的安裝。

進一步的，所述相鄰基板中一個基板上設有環形臺階，另一個基板設有與環形臺階圍成環槽的壓裝平面。其有益之處在于，使夾具體結構簡單，方便加工。