[發明專利]用于CIS行業的正性厚膜光刻膠有效
| 申請號: | 201811451678.6 | 申請日: | 2018-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN109270793B | 公開(公告)日: | 2022-01-14 |
| 發明(設計)人: | 向文勝;張兵;趙建龍;朱坤;陸蘭 | 申請(專利權)人: | 江蘇艾森半導體材料股份有限公司 |
| 主分類號: | G03F7/039 | 分類號: | G03F7/039 |
| 代理公司: | 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 cis 行業 正性厚膜 光刻 | ||
本發明屬于半導體加工技術領域,涉及一種用于CIS行業的正性厚膜光刻膠,配方包括20?35wt%改性酚醛樹脂、3?5wt%光敏劑、100?500ppm的流平劑、1?3wt%疏松劑和余量的乳酸乙酯。本發明正性厚膜光刻膠涂布超過50um厚度時涂布均一性能夠控制在5%以下,剖面角度能達到87~90°的范圍,使分辨率保持較高水平。
技術領域
本發明涉及半導體加工技術領域,特別涉及一種用于CIS行業的正性厚膜光刻膠。
背景技術
正性光刻膠是一種圖形化轉移工具,光刻膠是一種由樹脂、感光化合物、添加劑、溶劑組成的組合物,它受紫外光曝光后,曝光區域和非曝光區域在堿性溶劑液中產生了明顯的差異,顯影液溶去可溶解的部分,得到所需圖形。
在半導體制造過程中,狹義的電子封裝是指半導體制造工藝的后工程(即“后道”)中的工序,廣義的封裝也包括了后工程和后續的電子組裝。而如今的先進封裝則難以區分前、后道和組裝的界限。先進封裝技術的部分策略是把前道晶圓制造技術應用到后道加工;包括晶圓級封裝、凸塊工藝、重布線層、扇出型晶圓級封裝以及硅通孔等。先進封裝不但直接影響著電路本身的電性能,而且在很大程度上決定著電子整機系統的小型化、多功能化、可靠性和成本。
觀察全球封測產業,隨著全球產業整合及競爭加劇,中國企業可選擇的并購目標大幅減少,使得2017年中國資本進行海外并購難度增加。因此,中國IC封測業者將發展焦點從藉由海外并購取得高端封裝技術及市占率,轉而著力在開發Fan-Out及SiP等先進封裝技術,并積極通過客戶認證向市場宣示自身技術來維持競爭力。封測廠商在高端封裝技術(Flip Chip、Bumping等)及先進封裝(Fan-In、Fan-Out、2.5D IC、SiP等)的產能持續開出,以及因企業并購帶來的營收認列帶動下,包含長電科技、天水華天、通富微電等廠商2017年的年營收多維持雙位數成長表現,表現優于全球IC封測產業水平。
現有市場端所用光刻膠多為AZ4620,25微米的膜厚條件下,其分辨率可以到達10um,涂布均一性在10%左右,滿足現有工藝條件沒有問題,隨著CIS的發展,對線條的要求越來越高,需要提高銅厚度,對于光刻膠的膜厚也要提高到40-50微米,同時分辨率要維持不變,對于圖形角度要求陡直,對現有光刻膠提出了更加苛刻的要求。目前光刻膠的難點在于在銅電鍍液的浸泡下,高膜厚的正性光刻膠要么發生剝落,要么發生膠型的坍塌,無法維持陡直的角度。
發明內容
本發明的主要目的在于提供一種用于CIS行業的正性厚膜光刻膠,使涂布厚度的均一性更高,且提升光刻膠剖面角度。
本發明通過如下技術方案實現上述目的:一種用于CIS行業的正性厚膜光刻膠,配方包括20-35wt%改性酚醛樹脂、3-5wt%光敏劑、100-500ppm的流平劑、1-3wt%疏松劑和余量的乳酸乙酯,所述改性酚醛樹脂具有如下結構,
分子量在8000~15000之間。
具體的,所述光敏劑為2,3,4-三羥基二苯甲酮-1,2-萘醌重氮-5-磺酸酯。
具體的,所述疏松劑為2,3,4-三羥基二苯甲酮。
具體的,所述流平劑為全氟烷基聚醚表面活性劑。
采用上述技術方案,本發明技術方案的有益效果是:
本發明正性厚膜光刻膠涂布超過50um厚度時涂布均一性能夠控制在5%以下,剖面角度能達到87~90°的范圍,使分辨率保持較高水平。
具體實施方式
下面結合具體實施例對本發明作進一步詳細說明。
實施例1~4:
按照表1所示比例將原料混勻,其中改性酚醛樹脂為分子量在8000~15000之間的如下結構的酚醛樹脂,影響涂布和曝光性能。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于江蘇艾森半導體材料股份有限公司,未經江蘇艾森半導體材料股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811451678.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





