[發(fā)明專利]具有光纖的多自由度樣品桿有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201811450191.6 | 申請日: | 2018-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN111261478B | 公開(公告)日: | 2021-10-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王宏濤;張奕志 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué) |
| 主分類號: | H01J37/20 | 分類號: | H01J37/20;H01J37/244 |
| 代理公司: | 杭州橙知果專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33261 | 代理人: | 杜放 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 光纖 自由度 樣品 | ||
本發(fā)明公開了具有光纖的多自由度樣品桿,包括骨架,骨架開有光纖槽。在骨架側(cè)面開設(shè)有用于光纖通過的光纖槽,不僅能夠避免光纖的磨損和纏繞,走線美觀;而且光纖槽與前端電路板銜接,前端電路板具有導(dǎo)引光纖的作用,光纖頭部經(jīng)過前端電路板,光纖頭部具有較小的彎曲幅度,光波不會發(fā)生衰減。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子顯微鏡、透射電鏡下使用的樣品桿。
背景技術(shù)
透射電子顯微鏡(TEM)可以看到在普通光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2μm的細(xì)微結(jié)構(gòu),這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡,目前TEM的分辨力可達(dá)0.2nm。
原位觀察技術(shù)在透射電子顯微學(xué)研究中有著悠久的歷史。通過在樣品上施加各種物理作用,利用透射電子顯微鏡(透射電鏡)來觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)狀態(tài)的變化,可以直觀地研究材料或器件在實際使用過程中的性能表現(xiàn),對于材料性能的研究有著重要的實際意義。透射電鏡中的原位技術(shù)其難度在于不但要將物理作用準(zhǔn)確地施加在樣品上,同時還要滿足一系列苛刻的條件,比如要維持電鏡系統(tǒng)的超高真空度,保證樣品臺極高的穩(wěn)定度,且不能干擾成像光路,整個結(jié)構(gòu)必須緊湊以適用于透射電鏡狹小的樣品室等。因此,原位電鏡技術(shù)的難點(diǎn)主要體現(xiàn)在原位樣品桿的研究和制作上。
瑞典K.Svensson等人在2003年發(fā)表的文章《Compact design of a transmissionelectron microscope-scanning tunneling microscope holder with three-dimensional coarse motion》公開了一種三維壓電探針,這種三維壓電探針是透射電鏡樣品桿的一部分,壓電探針包括一根壓電陶瓷管和一顆小球,小球固定于壓電陶瓷管末端,小球上裝有通過柔性絲爪抓住小球的樣品夾持器,壓電陶瓷管控制小球作“緩慢移動、快速撤回”的微小幅度(壓電陶瓷管軸向方向2.5微米以下、其余兩個方向30微米以下)的循環(huán)運(yùn)動。柔性絲爪通過摩擦力抓緊小球,壓電陶瓷管作循環(huán)運(yùn)動,樣品夾持器通過柔性絲爪與小球之間的摩擦力被一步步甩動,由此產(chǎn)生行程較大、步長較大的位移控制(粗調(diào))。結(jié)合壓電陶瓷管本身產(chǎn)生的行程較小、連續(xù)可調(diào)的位移控制(精調(diào)),可以在狹小空間內(nèi)累積實現(xiàn)三個自由度(軸向平移一個自由度、以及繞小球旋轉(zhuǎn)兩個自由度)的較大行程(約3mm)的精確的位移控制。這種三維壓電探針己運(yùn)用于美國FEl公司的NanoEx 3D STM/EP系統(tǒng)和NanoEx3D lndentor系統(tǒng),實現(xiàn)透射電子顯微鏡下的原位STM、原位壓痕和電氣探查。
這種三維探針的缺點(diǎn)在于:1、柔性絲爪易變形,為了保持它與小球之間的摩擦力,需要經(jīng)常調(diào)整柔性絲爪的形狀,但柔性絲爪有多根,無法保證每根柔性絲爪的一致性,從而造成三維探針隨著使用的時間和次數(shù),其可靠性和精度越來越低。2、柔性絲爪的長度使樣品夾持器與小球之間有間隙,小球循環(huán)運(yùn)動時,使樣品夾持器順著絲爪遠(yuǎn)離小球或者靠近小球,從而實現(xiàn)樣品的軸向位移,但樣品夾持器通過柔性絲爪懸掛在小球上,樣品夾持器及其上的樣品受重力作用會向下墜,位置精度不高。而透射電鏡中的觀測視野范圍是納米和微米級,樣品受重力作用的位置偏差很可能導(dǎo)致樣品上的待觀察區(qū)域偏離電鏡的觀測視野范圍而無法觀察;并且位置偏差的存在導(dǎo)致很難將樣品的待觀測區(qū)域調(diào)整到適合觀察的位置和角度。3、探針夾持裝置沿壓電陶瓷管軸向方向前后運(yùn)動時,柔性絲爪的形狀與上述摩擦力之間的關(guān)系復(fù)雜,調(diào)整其形狀難以保證該摩擦力始終合適。加上探針夾持裝置受重力的影響,使得在粗調(diào)時容易產(chǎn)生耦合運(yùn)動,難以準(zhǔn)確控制探針;甚至由于柔性絲爪的形狀調(diào)整不當(dāng),不能抓住小球,可能使探針夾持裝置掉落到設(shè)備內(nèi)部,造成設(shè)備損壞。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種具有X/Y/Z三方向平移和X軸轉(zhuǎn)動驅(qū)動能力的,且在重復(fù)使用中性能穩(wěn)定的多自由度樣品桿。
多自由度樣品桿,樣品桿上設(shè)有納米定位器,納米定位器包括驅(qū)動件、關(guān)節(jié)球和壓件組件,關(guān)節(jié)球與驅(qū)動件固定,壓件組件包括至少兩個壓件和彈性連接組件,彈性連接組件連接相鄰的壓件,壓件抱住關(guān)節(jié)球,壓件與關(guān)節(jié)球之間具有預(yù)緊力。比如壓電陶瓷管作為驅(qū)動件。
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