[發明專利]一種大地電磁測深曲線的定量優選方法

在審

• 申請號: 201811449764.3
• 申請日: 2018-11-30
• 公開（公告）號: CN109541703A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 張剛;王緒本;陳興長;孟凡松;趙學欽;王富東;汪建中
• 申請（專利權）人: 西南科技大學
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38
• 代理公司: 成都點睛專利代理事務所(普通合伙) 51232
• 代理人: 葛啟函

1.一種大地電磁測深曲線的定量優選方法，其特征在于，采用N臺大地電磁測深儀分別對N個測深點進行分量數據采集，包括以下步驟：

A.每個測深點利用常規單點張量阻抗估算處理方式、遠參考處理方式、基于磁場相關遠參考處理方式、磁場共用處理方式中的至少兩種進行分布式數據處理，得到每種處理方式后的測深曲線，并記錄每一組測深曲線的頻點個數；

B.計算任意兩組測深曲線中視電阻率相互之間的離散弗雷歇距離以及抗相位相互之間的離散弗雷歇距離，

離散弗雷歇距離按照下式計算：設兩條測深曲線P和Q，其頻點個數分別為m和n，則P和Q的離散弗雷歇距離為：

其中P:[0:m]→V，P是從集合[0:m]＝{0,1,...,m}到空間V的一個映射，α:[1:m+n]→[0,m]，α是從集合[1:m+n]＝{1,2,...,m+n}到集合[0:m]＝{0,1,...,m}的一個映射，α(k),k＝1,2,...m+n表示映射α在自變量取k時的映射值；Q:[0:n]→V，Q是從集合[0:n]＝{0,1,...,n}到空間V的一個映射，β:[1:m+n]→[0,n]，β是從集合[1:m+n]＝{1,2,...,m+n}到集合[0:n]＝{0,1,...,n}的一個映射，β(k),k＝1,2,...m+n表示映射β在自變量取k時的映射值，表示算子的復合運算，||·||₂表示歐幾里得距離；

ψ_m,n＝Mon([1:m+n],[0:m])×Mon([1:m+n],[0:n]) (2)

ψ_m,n是由兩個連續、不減且滿射算子構成的所有可能組合，式(2)中，Mon(X,Y)是由集合X到集合Y中連續、不減且滿射的算子所構成，[1:m+n]＝{1,2,…,m+n}，[0:m]＝{0,1,…,m}，[0:n]＝{0,1,…,n}；

按照上述計算過程計算本地站B和其他采集站R_j的視電阻率弗雷歇距離和阻抗相位的弗雷歇距離其中，i表示xy或者yx方向，j＝1,…,N，N為測深曲線組數；

C.將離散弗雷歇距離計算結果加權，得到本地站和其他采集站測深曲線的離散弗雷歇距離：

其中，i表示xy或者yx方向，j＝1,…,N，N為測深曲線組數，l和d為加權因子；

D.篩選出δ_F(B,R_j)最小者，即得到最優的測深曲線并輸出。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述分量數據采集包括5分量采集與4分量采集，其中，5分量包括電場2分量，磁場3分量；4分量包括電場2分量，磁場2分量。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟A中常規單點張量阻抗估算處理方式利用本地站的電場數據和磁場數據進行處理得到1組處理結果，遠參考處理、基于磁場相關遠參考處理利用其它N-1個采集站的磁場數據和本地站的電磁場數據進行處理分別得到N-1組處理結果；磁場共用處理方式利用本地電場數據和其它N-1個采集站的磁場數據來進行處理，得到N-1組處理結果。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，l和d的范圍分別為[0,1]。