[發明專利]一種六軸機器人輔助目檢硅片裝置及輔助檢測方法在審
| 申請號: | 201811447717.5 | 申請日: | 2018-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN109411396A | 公開(公告)日: | 2019-03-01 |
| 發明(設計)人: | 張亞昆;張淳;齊風;戴超;李諾;劉琦;孫晨光 | 申請(專利權)人: | 天津中環領先材料技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;H01L21/66;G01N21/88 |
| 代理公司: | 天津濱海科緯知識產權代理有限公司 12211 | 代理人: | 劉瑩 |
| 地址: | 300384 天津市濱海新區*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 六軸機器人 目檢 輔助燈具 強光燈 光柵 輔助檢測 熒光燈 條形燈 硅片 測試效率 固定設置 硅片表面 硅片放置 人工參與 鼠標連接 豎直設置 框架頂 上底座 六軸 耗時 檢測 | ||
1.一種六軸機器人輔助目檢硅片裝置,其特征在于:包括框架(1)、六軸機器人(2)、輔助燈具和片籃(7),硅片放置在片籃(7)中,六軸機器人(2)、輔助燈具和片籃(7)均位于框架(1)內,輔助燈具包括熒光燈(3)、條形燈(4)、強光燈(5)和光柵(6),六軸機器人(2)與框架(1)上底座連接,熒光燈(3)和條形燈(4)設置在框架(1)頂上,且位于片籃(7)上方,強光燈(5)固定設置在片籃(7)上面,強光燈(5)的一側豎直設置有光柵(6),六軸機器人(2)與六軸鼠標(8)連接。
2.根據權利要求1所述的六軸機器人輔助目檢硅片裝置,其特征在于:強光燈(5)的燈頭傾斜向下,照射在從片籃(7)取出的硅片上。
3.根據權利要求2所述的六軸機器人輔助目檢硅片裝置,其特征在于:強光燈(5)的燈頭位置向下傾斜60°。
4.根據權利要求1所述的六軸機器人輔助目檢硅片裝置,其特征在于:六軸鼠標(8)包括陀螺儀和慣性計。
5.一種使用如權利要求1-4任一項所述的六軸機器人輔助目檢硅片裝置輔助目檢的方法,其特征在于:包括如下步驟:
步驟一:六軸機器人(2)由HOME位置運動至右側裝滿硅片的片籃(7)工位,吸取硅片;
步驟二:六軸機器人(2)跟隨六軸鼠標(8)隨動,不斷調節硅片的擺放位置,經過大量的學習,記錄硅片出現的高頻位置,便于人工不斷進行操作;
步驟三:然后將取到的硅片分別送到指定位置,擺放位置出現偏差時,六軸機器人(2)控制權交由人工六軸鼠標(8)操控并記錄,便于下次的自動控制;
步驟四:人工操控六軸機器人(2)完成檢測后系統操作權限交由六軸機器人(2)自動控制;人工按下合格或不合格按鈕;
步驟五:合格的產品放到合格籃,不合格的放置到不合格籃,如此循環。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





