[發明專利]一種準直器孔徑及探測器位置的自適應調節方法

在審

• 申請號: 201811444789.4
• 申請日: 2018-11-29
• 公開（公告）號: CN109765600A
• 公開（公告）日: 2019-05-17
• 發明（設計）人: 牛德青;李進;彭建龍;楊素;韓強;張銳;劉洋
• 申請（專利權）人: 綿陽市維博電子有限責任公司
• 主分類號: G01T1/167
• 分類號: G01T1/167;G01T1/178
• 代理公司: 成都行之專利代理事務所(普通合伙) 51220
• 代理人: 戴勇靈

1.一種準直器孔徑及探測器位置的自適應調節方法，其特征在于，所述方法包括如下步驟：

S1：廢物桶通過桶傳送裝置傳送到測量轉臺，并精準定位在測量轉臺上；

S2：探測裝置對廢物桶位置進行檢測，所述探測裝置內設置有準直器和探測器；

S3：探測裝置到達預設位置后，開啟透射源裝置，進行預透射測量；

S4：隨后關閉透射源裝置，進行預發射測量，根據預透射測量和預發射測量結果，調節探測裝置中探測器與廢物桶之間距離，并同時調節準直器孔徑；

S5：調節完畢后，重新開啟透射源裝置，進行正常透射測量和發射測量。

2.根據權利要求1所述的一種準直器孔徑及探測器位置的自適應調節方法，其特征在于，開啟透射源裝置進行預透射的測量時間為30s，關閉預透射裝置進行預發射的測量時間為30s。

3.根據權利要求2所述的一種準直器孔徑及探測器位置的自適應調節方法，其特征在于，當預透射和預發射的探測死時間小于或等于20％時，直接進行正常透射量和發射量檢測；當預透射的探測死時間大于20％且預發射的探測死時間小于20％時，將準直器孔徑調整為D₁，探測器相對于廢物桶的位置調整為L₁后進行正常透射量和發射量的檢測；當預透射的探測死時間小于20％且預發射的探測死時間大于20％時，將準直器孔徑調整為D₂，探測器位置調整為L₂后進行正常透射量和發射量的檢測；當預透射和預發射的探測死時間均大于20％時，將準直器孔徑調整為D₃，探測器相對于廢物桶的位置調整為L₃，再進行正常透射量和發射量的檢測。

4.根據權利要求3所述的一種準直器孔徑及探測器位置的自適應調節方法，其特征在于，準直器孔徑D₃<D₂<D₁，所述探測器相對于廢物桶的位置L₁<L₂<L₃。

5.根據權利要求1所述的一種準直器孔徑及探測器位置的自適應調節方法，其特征在于，在步驟S5進行正常透射測量后，計算透射衰減函數并同時計算測量單元的線性衰減系數，得到效率刻度函數，在正常發射測量完成后，調用效率刻度函數測量單元內放射性核素活度。