[發明專利]一種電子紙驅動波形自動調試方法

有效

• 申請號: 201811434557.0
• 申請日: 2018-11-28
• 公開（公告）號: CN109448615B
• 公開（公告）日: 2021-12-28
• 發明（設計）人: 劉麗平
• 申請（專利權）人: 江西興泰科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 寧波甬致專利代理有限公司 33228
• 代理人: 黃宗熊

本發明公開了一種電子紙驅動波形自動調試方法，提供一上位機和一主控板，上位機與主控板之間通過通信連接，調試方法包括如下步驟：S1、上位機在設置區域設置各項參數及波形庫地址，在波形庫地址中選擇波形；S2、主控板接收波形及目標參數；S3、根據其測試的電子紙膜片是黑白模組或三色模組，使用波形驅動電子紙模組進行對比度測試、殘影測試和侵蝕測試，并記錄相應數據；S4、主控板上傳測試到的光學值，上位機接收光學值數據進行存儲，并顯示在列表中；S5、判斷波形是否測試完畢，若是，則結束；若不是，則返回步驟S1。本發明通過單步測試、優選測試和自動測試等多種優化算法，提高調試出驅動波形的穩定性，提高品質。

技術領域

本發明涉及電子紙技術領域，特別涉及一種電子紙驅動波形自動調試方法。

背景技術

目前電子紙的驅動波形均由人工調試，由于一個完整的電子紙驅動波形受TFT基板的電特性(gate頻率、tft充電率、tft保持電壓、source及gate的阻抗及容抗)、電子紙膜片的批次、電子紙的容抗、電子紙的響應速度、驅動IC的驅動方式、驅動電壓及電流、電子紙模組的生產工藝(制程結束后電子紙的水分含量)等多因素影響，方法各異，效果無法統一，調試耗時長，浪費人力。

傳統的人工調試中，調試者很難把握所有因素，通過自動調試設備將這些因素都做成資源數據庫供算法調用，從而高效可靠的調試出穩定的波形。這種檢測方法，檢驗步驟繁多，經常發生部分要求不符合，需反工重測，效率低下，耗費人力資源。為達到相應效果，不同調試員會使用不同的波形結構去實現，導致調試出的波形一致性差，效果一般，無法完全實現目標要求。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種電子紙驅動波形自動調試方法，由電腦上位機控制光學測試設備，無人值守，以解決目前調試波形純人工，效率低，受調試人的因素影響，波形效果穩定性差等問題。

本發明解決上述問題所采用的技術方案為：一種電子紙驅動波形自動調試方法，提供一上位機和一主控板，所述上位機與主控板之間通過通信連接，所述調試方法包括如下步驟：

S1、所述上位機在設置區域設置各項參數及波形庫地址，在所述波形庫地址中選擇波形；

S2、所述主控板接收波形及目標參數；判斷其測試的電子紙膜片為黑白模組還是三色模組；

S3、根據黑白模組或三色模組，使用波形驅動電子紙模組進行對比度測試、殘影測試和侵蝕測試，并記錄相應數據；

S4、主控板上傳測試到的光學值，上位機接收光學值數據進行存儲，并顯示在列表中；

S5、判斷波形是否測試完畢，若是，則結束；若不是，則返回步驟S1。

優選的，若測試的電子紙膜片為黑白模組，其測試步驟S3如下：

S31、對比度測試：使用標準初始波形驅動電子紙模組至全黑，控制光學測試儀測試其光學值并記錄數據；再使用標準初始波形驅動電子紙模組至全白，控制光學測試儀測試其光學值并記錄數據；

S32、殘影測試，控制步進電機移動光學測試儀，使用標準初始波形驅動電子紙模組形成四個測試區，所述四個測試區為黑-黑、黑-白、白-黑、白-白，控制光學測試儀測試其光學值并記錄數據；

S33、侵蝕測試，使用標準初始波形驅動電子紙模組形成黑白相間測試區，控制光學測試儀測試其光學值并記錄數據。

優選的，若測試的電子紙膜片為三色模組，其測試步驟S3如下：

S34、對比度測試：使用標準初始波形驅動電子紙模組至全黑，控制光學測試儀測試其光學值，并記錄數據；再使用標準初始波形驅動電子紙模組至全白，控制光學測試儀測試其光學值，并記錄數據；再使用標準初始波形驅動電子紙模組至全紅，控制光學測試儀測試其光學值，并記錄數據；