[發明專利]鉆孔巖石裂隙發育程度及區域巖石裂隙發育規律的方法

有效

• 申請號: 201811433767.8
• 申請日: 2018-11-28
• 公開（公告）號: CN109598049B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 耿浩;劉瑞雪
• 申請（專利權）人: 中化地質礦山總局地質研究院
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;G06T11/20
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;吳歡燕

本發明涉及地質勘探技術領域，公開了一種鉆孔巖石裂隙發育程度及區域巖石裂隙發育規律的方法，包括收集鉆孔編錄資料；統計所有鉆孔各個回次的RQD值；根據巖石質量分類表進行巖石質量等級劃分并判定各個回次的巖石質量等級；根據整個鉆孔的巖石裂隙發育程度方程來求得每個完整鉆孔的巖石裂隙發育程度；將所有鉆孔巖石裂隙發育程度計算的結果進行統計，并利用內插法由繪圖軟件生成等值線圖；根據鉆孔巖石裂隙程度分類表進行每個鉆孔巖石裂隙發育程度的分析；基于繪制出的等值線圖和對每個鉆孔巖石裂隙發育程度的分析，來進行區域巖石裂隙發育規律的分析。該方法具有能準確分析出整個鉆孔的巖石裂隙發育程度以及區域巖石裂隙發育規律的優點。

技術領域

本發明涉及地質勘探技術領域，特別是涉及一種鉆孔巖石裂隙發育程度及區域巖石裂隙發育規律的方法。

背景技術

RQD是一種標示巖石質量好壞的指標，能間接地反映每一鉆進回次中巖石裂隙的發育程度：裂隙發育越好，巖石質量等級越低、RQD值就越小。但RQD值只能反映每一鉆進回次中的裂隙發育程度，而每個鉆孔的鉆進回次數量往往很多，它體現不出整個鉆孔的裂隙發育程度以及區域的裂隙發育規律，并且目前尚未有利用回次RQD值來計算整個鉆孔的巖石裂隙發育程度的方法以及利用RQD值來分析區域巖石裂隙發育規律的方法。

發明內容

(一)要解決的技術問題

本發明的目的是提供一種鉆孔巖石裂隙發育程度及區域巖石裂隙發育規律的方法，以解決現有技術中的方法無法基于回次RQD值來準確地計算整個鉆孔的裂隙發育程度以及區域的裂隙發育規律的技術問題。

(二)技術方案

為了解決上述技術問題，本發明提供一種鉆孔巖石裂隙發育程度及區域巖石裂隙發育規律的方法，包括：步驟S1，收集鉆孔編錄資料；步驟S2，統計所有鉆孔各個回次的RQD值；步驟S3，根據巖石質量分類表進行巖石質量等級劃分，初步判定各個回次的巖石質量等級；步驟S4，根據整個鉆孔的巖石裂隙發育程度方程來求得每個完整鉆孔的巖石裂隙發育程度；步驟S5，將所有鉆孔巖石裂隙發育程度計算的結果進行統計，將整個鉆孔的巖石裂隙發育程度值按各自鉆孔的實際坐標位置投到繪圖軟件中，利用內插法由繪圖軟件生成等值線圖；步驟S6，根據鉆孔巖石裂隙程度分類表進行每個鉆孔巖石裂隙發育程度的分析；步驟S7，基于繪制出的等值線圖和對每個鉆孔巖石裂隙發育程度的分析，來進行區域巖石裂隙發育規律的分析。

其中，所述步驟S4包括：整個鉆孔的所述巖石裂隙發育程度方程為：

其中，P_f為整個鉆孔的巖石裂隙發育程度(％)；RQD_i為鉆孔基巖部分中第i個回次的RQD值(％)；L_i為鉆孔基巖部分中第i個回次的進尺長度；L_s為整個鉆孔基巖部分的進尺總長度；n為整個鉆孔的基巖部分回次總數量。

其中，在所述步驟S1中，所述收集鉆孔編錄資料包括：鉆探原始班報表、地質鉆探鉆孔編錄表、水文地質鉆孔編錄表、鉆孔質量驗收表以及鉆孔分布資料。

其中，所述步驟S2還包括：獲取每個鉆孔基巖部分中的每個回次鉆進所取巖芯中的所有長度大于10cm的巖芯段累積的長度之和與該回次整體進尺長度的比值，所述比值以百分比表示。

其中，在所述步驟S4中，鉆孔基巖部分中各個回次的RQD值是反映各回次巖石完整程度的，RQD值越高，巖石質量越好，P_f的值越低。

其中，在所述步驟S4中，整個鉆孔基巖部分中巖石質量等級相對較低的回次的進尺長度(L_i)和整個鉆孔基巖部分的進尺總長度(L_s)的比值與p_f呈正比例關系，比值越大，p_f的值越高。