[發明專利]輔助質檢方法、裝置、計算機設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201811431397.4
• 申請日: 2018-11-26
• 公開（公告）號: CN109584230A
• 公開（公告）日: 2019-04-05
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 深圳龍圖騰創新設計有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06Q10/06
• 代理公司: 深圳龍圖騰專利代理有限公司 44541
• 代理人: 王春穎

1.一種輔助質檢方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

獲取待檢產品的圖像；

將所述待檢產品的圖像與預存的標準產品的圖像進行對比，在所述待檢產品的圖像中確定待檢產品瑕疵的位置信息；

根據所述待檢產品瑕疵的位置信息，控制投影設備將不良信息標識投射在所述待檢產品的表面。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述待檢產品瑕疵的位置信息，控制投影設備將不良信息標識投射在所述待檢產品的表面的步驟，具體包括：

獲取所述待檢產品瑕疵的位置信息；

獲取所述投影設備相對于產品的位置關系；

根據所述待檢產品瑕疵的位置信息以及所述投影設備相對于產品的位置關系，控制投影設備將不良信息標識投射在所述待檢產品的表面。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述輔助質檢方法的步驟，還包括：

控制投影設備將所述預存的標準產品的圖像投射在所述待檢產品周邊區域。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述將所述待檢產品的圖像與預存的標準產品的圖像進行對比，在所述待檢產品的圖像中確定待檢產品瑕疵的位置信息的步驟，具體包括：

將所述待檢產品的圖像與預存的標準產品的圖像進行對比，在所述待檢產品的圖像中確定待檢產品瑕疵的位置信息、大小信息以及形狀信息；

根據所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形狀信息確定所述待檢產品瑕疵的類型；

所述根據所述待檢產品瑕疵的位置信息，控制投影設備將不良信息標識投射在所述待檢產品的表面的步驟，具體包括：

根據所述待檢產品瑕疵的位置信息以及所述待檢產品瑕疵的類型，控制投影設備將與待檢產品瑕疵的類型對應的不良信息標識投射在所述待檢產品的表面。

5.一種輔助質檢裝置，其特征在于，所述輔助質檢裝置包括：

待檢產品圖像獲取單元，用于獲取待檢產品的圖像；

對比單元，用于將所述待檢產品的圖像與預存的標準產品的圖像進行對比，在所述待檢產品的圖像中確定待檢產品瑕疵的位置信息；以及

不良信息標識投影控制單元，用于根據所述待檢產品瑕疵的位置信息，控制投影設備將不良信息標識投射在所述待檢產品的表面。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述不良信息標識投影控制單元具體包括：

瑕疵位置信息獲取模塊，用于獲取所述待檢產品瑕疵的位置信息；

投影設備位置信息獲取模塊，用于獲取所述投影設備相對于產品的位置關系；以及

不良信息標識投影控制模塊，用于根據所述待檢產品瑕疵的位置信息以及所述投影設備相對于產品的位置關系，控制投影設備將不良信息標識投射在所述待檢產品的表面。

7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述輔助質檢裝置還包括：

標準產品圖像投影控制單元，用于控制投影設備將所述預存的標準產品的圖像投射在所述待檢產品周邊區域。

8.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述對比單元具體包括：

對比模塊，用于將所述待檢產品的圖像與預存的標準產品的圖像進行對比，在所述待檢產品的圖像中確定待檢產品瑕疵的位置信息、大小信息以及形狀信息；以及

瑕疵類型確定模塊，用于根據所述瑕疵的位置信息、大小信息以及形狀信息確定所述待檢產品瑕疵的類型；

所述不良信息標識投影控制單元具體包括：

不良信息標識投影控制模塊，用于根據所述待檢產品瑕疵的位置信息以及所述待檢產品瑕疵的類型，控制投影設備將與待檢產品瑕疵的類型對應的不良信息標識投射在所述待檢產品的表面。

9.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，其特征在于所述存儲器中存儲有計算機程序，所述計算機程序被所述處理器執行時，使得所述處理器執行權利要求1至4中任一項權利要求所述輔助質檢方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時，使得所述處理器執行權利要求1至4中任一項權利要求所述輔助質檢方法的步驟。