[發明專利]分光反射測定器

有效

• 申請號: 201811429699.8
• 申請日: 2018-11-27
• 公開（公告）號: CN110018127B
• 公開（公告）日: 2023-06-30
• 發明（設計）人: 五味二夫
• 申請（專利權）人: 精工愛普生株式會社
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01J3/26
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 玉昌峰;吳孟秋

本申請提供從多個發光元件照射于被測定物的光的角度的精度優良的分光反射測定器。其具備：第一基板(7)；第一發光元件(3)和第二發光元件(4)，設置于第一基板(7)，第一發光部高度(3b)與第二發光部高度(4b)不同，該第一發光部高度(3b)是從第一基板(7)至第一發光元件(3)的第一發光部(3a)的高度，該第二發光部高度(4b)是從第一基板(7)至第二發光元件(4)的第二發光部(4a)的高度；以及受光器(25)，接收光(27)，第二發光部高度(4b)高的第二發光元件(4)與第一發光部高度(3b)低的第一發光元件(3)相比，設置在與受光器(25)接收的光(27)的光軸(21a)的距離更近的地方。

技術領域

本發明涉及分光反射測定器。

背景技術

對被測定物照射光并對反射光進行分析來測定分光光譜的分光反射測定器已得到靈活運用。此外，專利文獻1公開了分光反射測定器。根據該專利文獻1，分光反射測定器具備兩種發光元件。一種是射出可見光的第一發光元件，一種是射出波長小于400nm的光的第二發光元件。通過將多個頻率的光照射于被測定物，從而可以照射適合于分析的光。

分光反射測定器具備受光部。受光部具備受光元件及波長可變光濾波器。受光部具有示出受光靈敏度分布中的靈敏度高的方向的光軸，被測定物配置于光軸上。此外，連結第一發光元件和被測定物的線與光軸所成的角度為45度。第二發光元件向凹面鏡射出光。從第二發光元件射出的光在凹面鏡上反射并從多方向對被測定物照射光。

專利文獻1：日本專利特開2016-138749號公報

對被測定物照射如第一發光元件射出的光那樣以45度的角度與光軸交叉的光。此時，由于除了正反射之外的反射光行進到受光部，因此，可以獲得適合于檢測被測定物的反射光譜的良好的光。從第二發光元件射出的光將以不特定的角度與受光部的光軸交叉的光照射于被測定物。因此，反射在被測定物上的光的分布與第一發光元件射出的光呈不同的分布。這樣，每個發光元件的光的照射條件不同會使受光部檢測的光的光譜的測定精度降低。從多個發光元件照射光時，通過以相同的入射角照射到被測定物，從而可以抑制從各發光元件照射的光的影響。于是，期待照射從多個發光元件照射于被測定物的光的角度的精度好的光的分光反射測定器。

發明內容

本發明是為了解決上述問題而完成的發明，可以作為以下的方式或適用例來實現。

[適用例1]

本適用例所涉及的分光反射測定器其特征在于，具備：基板；多種發光元件，設置于所述基板，并且發光部高度不同，所述發光部高度是從所述基板至發光部的高度；以及受光器，接收光，所述發光部高度高的所述發光元件與所述發光部高度低的所述發光元件相比，設置在與所述受光器接收的光的光軸的距離更近的地方。

根據本適用例，分光反射測定器具備基板。此外，多種發光元件設置于基板。多種發光元件的從基板至發光部的高度、即發光部高度不同。進而，分光反射測定器具備受光器。對被測定物照射發光元件射出的光，受光器接收由被測定物所反射的光。

在受光器設定有接收的光的光軸。此外，受光器接收沿光軸射入的光。發光部高度高的發光元件與發光部高度低的發光元件相比，設置在與受光器接收的光的光軸的距離更近的地方。發光部高度高的發光元件的發光部離被測定物近。該發光元件離受光器的光軸近。此外，發光部高度低的發光元件的發光部離被測定物遠。該發光元件離受光器的光軸遠。這樣，在發光元件的發光部的高度不同的發光元件混在一起時，通過使各受光器的光軸與發光元件的發光部的距離不同，從而可以使連結各種發光元件的發光部和被測定物的直線與受光器的光軸所成的角度接近于相同的角度。其結果是，分光反射測定器可以照射從多個發光元件照射于被測定物的光的角度的精度良好的光。

[適用例2]

在上述適用例所涉及的分光反射測定器中，其特征在于，從多種所述發光元件的所述發光部向所述受光器接收的光的光軸上的被測定物行進的光與所述光軸所成的角度相同。