[發(fā)明專利]一種基于光電效應(yīng)的電路板過孔質(zhì)量的檢測方法

有效

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• 申請日: 2018-11-27
• 公開（公告）號: CN109490315B
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 童雷;童炳武;童大望;潘世丹
• 申請（專利權(quán)）人: 江門市利諾達(dá)電路科技有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 顏希文;郝傳鑫

1.一種基于光電效應(yīng)的電路板過孔質(zhì)量的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1：將標(biāo)準(zhǔn)電路板放入工作臺中并用夾具將其固定，通過移動裝置將檢測棒依次移動到與標(biāo)準(zhǔn)電路板中各個標(biāo)準(zhǔn)孔相對的位置，通過移動裝置的電機(jī)編碼器將各個位置的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)數(shù)據(jù)發(fā)送至數(shù)據(jù)儲存模塊中；同時，數(shù)據(jù)采集模塊采集光電傳感器檢測光源經(jīng)過各個標(biāo)準(zhǔn)孔后的光照強(qiáng)度，并轉(zhuǎn)化為電信號發(fā)送至數(shù)據(jù)儲存模塊中，其中，所述光電傳感器的采集端通過光纖引至所述檢測棒的下端；

S2：將待檢測電路板放入工作臺中，移動裝置根據(jù)步驟S1得到的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)數(shù)據(jù)將檢測棒移動到與該標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)數(shù)據(jù)所對應(yīng)的位置，通過數(shù)據(jù)采集模塊采集光電傳感器檢測光源經(jīng)過待檢測電路板中待測孔后的光照強(qiáng)度，并轉(zhuǎn)化為電信號發(fā)送至數(shù)據(jù)對比模塊中，由數(shù)據(jù)對比模塊比較待檢測電路板中待測孔的光照強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)電路板中標(biāo)準(zhǔn)孔的光照強(qiáng)度的偏差值；

當(dāng)待檢測電路板中待測孔的光照強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)電路板中相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔的光照強(qiáng)度的偏差值不在檢驗標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時，下降檢測棒使其端部插入待測孔中；

若檢測棒的端部不能插入待測孔中，則待檢測電路板視為不合格產(chǎn)品；

若檢測棒的端部能插入待測孔中，檢測棒復(fù)位，當(dāng)光電傳感器檢測到待檢測電路板中待測孔的光照強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)電路板中相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔的光照強(qiáng)度的偏差值仍然不在檢驗標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時，則待檢測電路板視為不合格產(chǎn)品；

若檢測棒的端部能插入待測孔中，檢測棒復(fù)位，當(dāng)光電傳感器檢測到待檢測電路板中待測孔的光照強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)電路板中相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔的光照強(qiáng)度在檢驗標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)時，則待檢測電路板視為合格；

S3：重復(fù)步驟S2對其它待測孔進(jìn)行檢測，完成待檢測電路板中所有待測孔的檢測；

S4：若待檢測電路板為合格產(chǎn)品，通過數(shù)據(jù)對比模塊向數(shù)據(jù)輸出模塊發(fā)送所述待檢 測電路板通過檢驗信息；若待檢測電路板為不合格產(chǎn)品，通過數(shù)據(jù)對比模塊向數(shù)據(jù)輸出模塊發(fā)送所述待測電路板通過未檢驗信息。

2.如權(quán)利要求1所述的基于光電效應(yīng)的電路板過孔質(zhì)量的檢測方法，其特征在于，所述檢測棒的檢測頭為錐形。

3.如權(quán)利要求1所述的基于光電效應(yīng)的電路板過孔質(zhì)量的檢測方法，所述檢測棒的檢測頭長度方向上設(shè)有直徑刻度。