[發明專利]一種基于兩次雜波抑制的靜目標穩健識別方法

有效

• 申請號: 201811424825.0
• 申請日: 2018-11-27
• 公開（公告）號: CN109597045B
• 公開（公告）日: 2023-02-10
• 發明（設計）人: 郭鵬程;戴巧娜;邱林茂;任澤宇;倪寧
• 申請（專利權）人: 西安電子工程研究所
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41;G01S7/02
• 代理公司: 西安凱多思知識產權代理事務所(普通合伙) 61290
• 代理人: 劉新瓊

1.一種基于兩次雜波抑制的靜目標穩健識別方法，輸入為經過恒虛警率檢測CFAR后的回波的高分辨距離像HRRP各個散射點的幅度、距離、方位角誤差，記為(A_i，R_i，θ_i)，其中，A_i為目標第i個散射點的幅度，R_i為目標第i個散射點的距離，θ_i為目標第i個散射點的方位角誤差，i＝1...N，N為散射點的個數；其特征在于步驟如下：

步驟1：利用公式(1)計算每個散射點的方位向距離x_i2，從而得到了徑向距離-方位向距離二維平面，第i個散射點樣本記為x_i＝(x_i1；x_i2)，其中：

x_i1＝R_i

x_i2＝R_i·θ_i/57.3 i＝1,2,...,...N (1)

步驟2：利用公式(2)和(3)計算得到圓心位置c₀＝(c₁,c₂)：

步驟3：對每個散射點進行一次雜波判決，方法為利用公式(4)計算每個散射點與圓心的歐式距離dist_ed(x_i,c₀)；若dist_ed(x_i,c₀)＞r，則將此散射點判決為雜波點，否則，此散射點判決為非雜波點，其中r為預設值，為目標的物理尺寸：

對每個散射點，用label1的值0/1分別表征一次判決后的雜波點/非雜波點，即：

步驟4：將一次檢測中被判為非雜波點的i定義為集合W，二次雜波剔除的計算都在滿足i∈W的x_i中進行，方法是利用公式(5)(6)(7)計算每個散射點的局部異常因子LOF_k(x_i)，即：

RD_k(x_i,x_j)＝max(||x_i-x_i^(k)||₂,||x_i-x_j||₂) (5)

其中，x_i^(k)表示所有散射點中距離散射點x_i第k近的散射點，k＝4；

步驟5：對一次雜波判決中的非雜波散射點進行二次判決，準則為如果LOF_k(x_i)＞4，則此散射點判決為雜波點，否則此散射點為非雜波點；對每個散射點，label的值為0/1分別表征二次判決后該點為雜波點/目標散射點，即：

步驟6：特征提取，計算目標極化二階矩m2及徑向尺寸LEN：

先用公式(9)對經過二次雜波判決后的非雜波點進行歸一化，結果記作pdf，即：

pdf(i)＝label(i).*A_i/max(label(i).*A_i) (9)

再應用公式(10)計算極化二階矩：

其中max(*)為最大值，

用公式(11)計算目標的徑向尺寸LEN，即：

LEN＝max[label(i)*R_i]-min[label(i)*R_i],i＝1,2,...,N (11)

其中min(*)為最小值；

步驟7：目標分類識別

對步驟6中計算的m2和LEN按照公式(12)進行邏輯判斷：

(m₂≥1.2)(1≤LEN≤7.5) (12)

其中“”為邏輯與運算；

若結果為“1”，則目標為軍事目標，輸出1；

若結果為“0”，目標為非軍事目標，輸出0。