[發(fā)明專利]一種電插鎖測(cè)試裝置及測(cè)試方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811424821.2 | 申請(qǐng)日： | 2018-11-27 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN109490669A | 公開(kāi)（公告）日： | 2019-03-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 孟令欣;張克俊;薛愛(ài)平;李保恩;王林;田文文;曹健;宋強(qiáng);周海亮;張征 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 中電裝備山東電子有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/00 | 分類號(hào)： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 濟(jì)南誠(chéng)智商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司 37105 | 代理人： | 黃曉燕 |
| 地址： | 250109 山東省濟(jì)*** | 國(guó)省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電插鎖 測(cè)試裝置 處理器單元 輸入單元 信號(hào)輸入模塊 電源單元 檢測(cè)模塊 啟動(dòng)單元 測(cè)試 連接顯示單元 輸入單元控制 連接處理器 測(cè)試過(guò)程 測(cè)試效率 供電 | ||
1.一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，包括處理器單元、顯示單元、輸入單元、啟動(dòng)單元和電源單元，所述電源單元為測(cè)試裝置供電，所述處理器單元分別連接顯示單元、輸入單元和啟動(dòng)單元；所述輸入單元包括電插鎖信號(hào)輸入模塊和電插鎖檢測(cè)模塊，電插鎖依次通過(guò)電插鎖信號(hào)輸入模塊和電插鎖檢測(cè)模塊連接處理器單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，所述啟動(dòng)單元包括啟動(dòng)開(kāi)關(guān)，所述啟動(dòng)開(kāi)關(guān)的一端分別連接處理器單元和電阻R13的一端，電阻R13的另一端接電源VDD，啟動(dòng)開(kāi)關(guān)的另一端接地。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，所述啟動(dòng)單元包括通訊電路，所述通訊電路通過(guò)處理器單元與上位機(jī)通訊。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，所述電插鎖檢測(cè)模塊包括門鎖控制電路、門磁狀態(tài)檢測(cè)電路和鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路，所述門磁狀態(tài)檢測(cè)電路和鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路的信號(hào)輸入端均連接電插鎖信號(hào)輸入模塊，信號(hào)輸出端均連接處理器單元，所述門鎖控制電路的信號(hào)輸入端連接處理器單元，信號(hào)輸出端連接電插鎖信號(hào)輸入模塊。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，所述門鎖控制電路包括光耦U15，光耦U15的1管腳通過(guò)電阻R30連接電源VDD，2管腳連接處理器單元，4管腳通過(guò)電阻R36連接直流電源，3管腳分別連接電容C21的一端、電阻R39的一端和三極管Q5的基極，電容C21的另一端、電阻R39的另一端和三極管Q5的發(fā)射極均接地，三極管Q5的集電極分別連接二極管D5的正極和繼電器JDQ5線圈的一端，繼電器JDQ5線圈的另一端分別連接二極管D5的負(fù)極和電容C19的一端，電容C19的一端接直流電源，另一端接地，繼電器JDQ5觸點(diǎn)端分別連接電插鎖信號(hào)輸入模塊和地。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，所述門磁狀態(tài)檢測(cè)電路包括光耦U14，所述光耦U14的2管腳連接電插鎖信號(hào)輸入模塊，1管腳通過(guò)電阻R37接直流電源，3管腳接地，4管腳分別連接電阻R38的一端和電容C20的一端，電阻R38的另一端連接電源VDD，電容C20的另一端接地，光耦U14的4管腳還連接處理器單元；
所述鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路包括第一鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路和第二鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路；所述第一鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路包括光耦U18，所述光耦U18的2管腳連接電插鎖信號(hào)輸入模塊，1管腳通過(guò)電阻R19接直流電源，3管腳接地，4管腳分別連接電阻R17的一端和電容C28的一端，電阻R17的另一端連接電源VDD，電容C28的另一端接地，光耦U18的4管腳還連接處理器單元；所述第二鎖舌狀態(tài)檢測(cè)電路包括光耦U19，所述光耦U19的2管腳連接電插鎖信號(hào)輸入模塊，1管腳通過(guò)電阻R20接直流電源，3管腳接地，4管腳分別連接電阻R18的一端和電容C29的一端，電阻R18的另一端連接電源VDD，電容C29的另一端接地，光耦U19的4管腳還連接處理器單元。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種電插鎖測(cè)試裝置，其特征是，所述顯示單元包括多個(gè)顯示電路，每個(gè)顯示電路均包括發(fā)光二極管，所述發(fā)光二極管的正極連接電源VDD，負(fù)極通過(guò)限流電阻連接處理器單元。
8.一種利用權(quán)利要求1所述電插鎖測(cè)試裝置進(jìn)行電插鎖測(cè)試的方法，其特征是，所述方法包括：
將電插鎖信號(hào)線接入測(cè)試裝置的電插鎖引腳接入端；
為測(cè)試裝置上電，在顯示工作狀態(tài)正常后，啟動(dòng)測(cè)試；
通過(guò)門鎖控制電路控制電插鎖的狀態(tài)，查看顯示單元的狀態(tài)，判斷測(cè)試結(jié)果。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種電插鎖測(cè)試方法，其特征是，通過(guò)向測(cè)試裝置發(fā)送測(cè)試指令的方式啟動(dòng)測(cè)試。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種電插鎖測(cè)試方法，其特征是，所述方法還包括：
將電插鎖放置于特定的測(cè)試環(huán)境中；
設(shè)置測(cè)試參數(shù)，所述測(cè)試參數(shù)包括測(cè)試次數(shù)、每次測(cè)試的間隔時(shí)間；
向測(cè)試裝置發(fā)送測(cè)試命令，啟動(dòng)測(cè)試，收集并顯示測(cè)試結(jié)果。
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G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
