[發明專利]基于圖像識別的二維微位移測量系統及檢測方法有效
| 申請號: | 201811423996.1 | 申請日: | 2018-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN109539997B | 公開(公告)日: | 2021-03-19 |
| 發明(設計)人: | 繆東晶;張帥;李建雙;李婷;鄭繼輝;李連福;赫明釗;蔣遠林;康瑤 | 申請(專利權)人: | 中國計量科學研究院 |
| 主分類號: | G01B11/02 | 分類號: | G01B11/02 |
| 代理公司: | 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606 | 代理人: | 趙永輝 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 圖像 識別 二維 位移 測量 系統 檢測 方法 | ||
1.一種基于圖像識別的二維微位移測量系統,其特征在于,包括:
第一底座(10),設置有第一孔位(110);
第二底座(20),設置有多個支撐座(210),所述多個支撐座(210)設置于所述第一底座(10)表面,且所述第二底座(20)設置有第二孔位(220),所述第二孔位(220)與所述第一孔位(110)相對設置;
環形光源(30),設置于所述第一底座(10)與所述第二底座(20)之間,可拆卸安裝于所述第一底座(10),且所述環形光源(30)與所述第一孔位(110)同心設置;
變焦鏡頭(410),可拆卸安裝于所述第二底座(20),且通過所述第二孔位(220)與所述環形光源(30)相對,所述環形光源(30)卡扣于所述變焦鏡頭(410);
拍攝裝置(40),安裝于遠離所述環形光源(30)的所述變焦鏡頭(410)一端;
標定模片(50),設置于被測物體,所述標定模片(50)表面設置有至少一個標記(510),且所述標定模片(50)與所述第一孔位(110)相對,用以使得所述拍攝裝置(40)通過所述變焦鏡頭(410)與所述環形光源(30)對所述被測物體進行測量;
所述標定模片(50)包括四個直徑不同的圓形輪廓標記(510),且每兩個所述標記(510)的圓心設置在同一條直線;
支撐架(60),設置于遠離所述第一底座(10)的所述第二底座(20)表面;
處理器(70),設置于所述支撐架(60),且所述拍攝裝置(40)與所述處理器(70)的通訊接口電連接;
無線通信模塊(80),設置于所述支撐架(60),所述處理器(70)與所述無線通信模塊(80)的通訊接口電連接,且所述無線通信模塊(80)與客戶端通過無線通信方式連接;
供電裝置(90),設置于遠離所述第一底座(10)的所述第二底座(20)表面,且所述供電裝置(90)與所述環形光源(30)電連接,所述供電裝置(90)與所述拍攝裝置(40)電連接,所述供電裝置(90)與所述處理器(70)電連接,所述供電裝置(90)與所述無線通信模塊(80)電連接;
其中,提供一個激光干涉儀,并將所述標定模片(50)移動至所述拍攝裝置(40)的拍攝范圍內,將所述激光干涉儀復位;所述標定模片(50)包括四個尺寸不同的圓形,且每兩個圓形的圓心在一條直線上;
根據所述拍攝裝置(40)采集所述標定模片(50)的移動前圖像,并根據所述處理器(70)將所述移動前圖像進行圖像處理,獲取所述標記(510)的移動前中心點坐標像素(xj,yj),其中j=0,1,2,3,…n;
在所述拍攝裝置(40)拍攝范圍內移動所述標定模片(50),并獲取所述激光干涉儀的數值,獲取所述標定模片(50)移動的微位移量大小ΔD;
根據所述拍攝裝置(40)采集所述標定模片(50)的移動后圖像,并根據所述處理器(70)將所述移動后圖像進行圖像處理,獲取所述標記(510)的移動后中心點坐標像素,其中j=0,1,2,3,…n;
根據所述移動前中心點坐標像素(xj,yj)與所述移動后中心點坐標像素,計算中心點坐標像素變化量;
根據所述微位移量大小ΔD與所述中心點坐標像素變化量ΔP,獲得標定系數;
獲取所述標定模片(50)的標定系數,并將所述標定模片(50)固定于被測物體,以所述標定模片(50)構建坐標系;
根據所述拍攝裝置(40)采集所述標定模片(50)的第一圖像;
根據所述處理器(70)將所述第一圖像進行圖像處理,獲取所述標記(510)的第一中心點坐標像素(xi,yi),其中i=0,1,2,3,…n;
移動所述被測物體,并根據所述拍攝裝置(40)采集移動后的所述標定模片(50)的第二圖像;
根據所述處理器(70)將所述第二圖像進行圖像處理,獲取移動后的所述標記(510)的第二中心點坐標像素(x’i,y’i),其中i=0,1,2,3,…n;
根據所述第一中心點坐標像素(xi,yi)與所述第二中心點坐標像素(x’i,y’i)計算所述被測物體移動前后的所述標記(510)的中心點坐標像素變化量ΔP;
根據所述中心點坐標像素變化量ΔP與所述標定系數,獲取所述被測物體發生的微位移量,其中,所述微位移量的大小為ΔD=Δp×α,所述微位移量的方向角,其中i=0,1,2,3,…n。
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