[發(fā)明專利]一種基于循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁盤故障預(yù)測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811398445.4
• 申請日: 2018-11-22
• 公開（公告）號: CN109634790B
• 公開（公告）日: 2020-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 萬繼光;王中華;魯凱;李大平;鄭文凱;胡澤鑫;伍信一;瞿曉陽;張超;徐鵬;閆銳;譚志虎;謝長生
• 申請（專利權(quán)）人: 華中科技大學(xué)
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06N3/04;G06N3/08
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心 42201
• 代理人: 曹葆青;李智

1.一種基于循環(huán)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的磁盤故障預(yù)測方法，其特征在于，包括：

選取用戶定義的故障磁盤數(shù)據(jù)；

利用所述故障磁盤數(shù)據(jù)構(gòu)建雙層多輸出等級的GRU網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行磁盤故障預(yù)測；具體包括構(gòu)建第一層GRU網(wǎng)絡(luò)，輸出第一層等級預(yù)測結(jié)果，將預(yù)測結(jié)果按照距離損壞時(shí)間點(diǎn)的距離升序排列分為6個(gè)等級R1～R6，R1是最接近損壞時(shí)間點(diǎn)的等級，R6是距離損壞時(shí)間點(diǎn)最遠(yuǎn)的等級；構(gòu)建第二層GRU網(wǎng)絡(luò)，輸出第二層等級預(yù)測結(jié)果，將等級R1按照距離損壞時(shí)間點(diǎn)的距離升序排列分為3個(gè)等級R1-1～R1-3，R1-1是距離損壞點(diǎn)最近的等級，R1-3是距離損壞點(diǎn)最遠(yuǎn)的等級；

根據(jù)每個(gè)等級數(shù)據(jù)的時(shí)間長度劃分權(quán)重，確定訓(xùn)練步長；或按照每個(gè)等級包含的時(shí)間段長短復(fù)制數(shù)據(jù)量，實(shí)現(xiàn)每個(gè)等級數(shù)據(jù)量平衡。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述選取用戶定義的故障磁盤數(shù)據(jù)，包括：

遍歷SMART數(shù)據(jù)集，記錄所有屬性failure＝1的故障磁盤型號；

將所述故障磁盤數(shù)據(jù)按型號分類，每種型號的故障磁盤數(shù)據(jù)分為一類；

將所述每類故障磁盤數(shù)據(jù)按比例分成兩部分；

選取具有用戶定義的故障關(guān)鍵特征的磁盤數(shù)據(jù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述將所述每類故障磁盤數(shù)據(jù)按比例分成兩部分，包括：

將同一型號故障磁盤數(shù)據(jù)按照時(shí)間標(biāo)注故障等級，篩選掉SMART數(shù)據(jù)不全的和沒序號的數(shù)據(jù)；

在剩下的數(shù)據(jù)中進(jìn)行隨機(jī)采樣，前一部分的數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練數(shù)據(jù)集，后一部分的數(shù)據(jù)作為驗(yàn)證數(shù)據(jù)集。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述選取具有用戶定義的故障關(guān)鍵特征的磁盤數(shù)據(jù)，包括：

使用用戶定義的故障關(guān)鍵特征選出故障磁盤數(shù)據(jù)并將所述故障磁盤數(shù)據(jù)的關(guān)鍵特征值歸一化；

輸出所述故障磁盤數(shù)據(jù)的關(guān)鍵特征重要程度排序。