[發明專利]像素電路、顯示器和方法

有效

• 申請號: 201811397642.4
• 申請日: 2018-11-22
• 公開（公告）號: CN110010066B
• 公開（公告）日: 2023-08-15
• 發明（設計）人: 阿拉什·莫拉迪;賈法爾·塔萊布扎德;何俊虎;唐舒俊
• 申請（專利權）人: 伊格尼斯創新公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 姚鵬;曹正建

1.一種顯示系統，其包括：

以行和列布置的像素電路陣列，每一所述像素電路包括驅動晶體管、存儲電容器和發光器件，所述顯示系統包括：控制器，所述控制器用于在所述像素電路的多個操作狀態下驅動每一所述像素電路，所述多個操作狀態包括用于使用所述顯示系統的數據線上提供的數據電壓對所述像素電路的所述存儲電容器進行編程的編程狀態和用于測量所述數據線上的來自所述像素電路的電流的至少兩個測量狀態；以及

所述像素電路陣列的所述像素電路，每一所述像素電路包括：

所述驅動晶體管，所述驅動晶體管包括能夠連接至所述數據線的第一端子；

所述存儲電容器，所述存儲電容器跨接至所述驅動晶體管的柵極端子和所述第一端子；

所述發光器件，所述發光器件能夠連接至所述驅動晶體管的所述第一端子；以及

第一晶體管，所述第一晶體管連接至所述驅動晶體管的所述第一端子，并串聯連接在所述驅動晶體管與所述發光器件之間，以用于在所述至少兩個測量狀態中的第一測量狀態期間將所述發光器件連接至所述驅動晶體管的所述第一端子，并用于在所述至少兩個測量狀態中的第二測量狀態期間斷開所述驅動晶體管的所述第一端子與所述發光器件的連接。

2.如權利要求1所述的顯示系統，其還包括讀出電路，所述讀出電路能夠連接至所述數據線，以用于測量所述數據線上的來自所述像素電路的所述電流。

3.如權利要求2所述的顯示系統，其中，所述讀出電路包括積分器和模數轉換器，所述積分器用于在所述測量的期間內對來自所述像素電路的所述電流進行積分并生成與積分后的所述電流對應的輸出電壓，所述模數轉換器用于將所述輸出電壓轉換成數字代碼輸出。

4.如權利要求2所述的顯示系統，其中，所述讀出電路不能經由與用于測量來自所述像素電路的所述電流的所述數據線不同的信號線連接至所述像素電路。

5.如權利要求1所述的顯示系統，其中，用于測量來自所述像素電路的電流的所述第一測量狀態包括：用于測量來自所述像素電路并經過所述發光器件的有機發光二極管電流的有機發光二極管測量狀態。

6.如權利要求5所述的顯示系統，其中，所述像素電路還包括參考線，所述參考線能夠連接至所述驅動晶體管的所述柵極端子，并且其中，在所述有機發光二極管測量狀態期間內，所述控制器將所述驅動晶體管的所述柵極端子連接至所述參考線并在所述參考線上提供足以使所述驅動晶體管完全斷開的參考電壓，并且所述控制器將所述發光器件連接至所述數據線并在所述數據線上提供足以使所述發光器件導通的數據電壓。

7.如權利要求6所述的顯示系統，其還包括讀出電路，所述讀出電路能夠連接至所述數據線以測量所述數據線上的來自所述像素電路的所述電流，所述讀出電路包括積分器和模數轉換器，所述積分器用于在所述測量的期間內對來自所述像素電路的所述有機發光二極管電流進行積分并生成相應的輸出電壓，所述模數轉換器用于將所述輸出電壓轉換成數字代碼輸出，其中，所述控制器使用所述像素電路中的第二晶體管將所述驅動晶體管的所述柵極端子連接至所述參考線，并且使用連接在所述驅動晶體管的所述第一端子與所述數據線之間的第三晶體管將所述發光器件連接至所述數據線。

8.如權利要求1所述的顯示系統，其中，用于測量來自所述像素電路的電流的所述第二測量狀態包括用于測量來自所述像素電路并經過所述驅動晶體管的像素電路電流的像素電路測量狀態，所述像素電路測量狀態在所述編程狀態之后。

9.如權利要求8所述的顯示系統，其中，在所述像素電路測量狀態的期間內，所述控制器使用所述第一晶體管斷開所述發光器件與所述驅動晶體管的所述第一端子的連接，并且所述控制器將所述驅動晶體管的所述第一端子連接至所述數據線。