[發(fā)明專利]設(shè)備點(diǎn)檢方法及裝置、設(shè)備自動(dòng)測試線、存儲(chǔ)介質(zhì)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811386816.7 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111208383A | 公開(公告)日: | 2020-05-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 吉同建 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | OPPO(重慶)智能科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/01 | 分類號(hào): | G01R31/01;H04M1/24 |
| 代理公司: | 北京派特恩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人: | 張振偉;張穎玲 |
| 地址: | 401120 重慶*** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 設(shè)備 點(diǎn)檢 方法 裝置 自動(dòng) 測試 存儲(chǔ) 介質(zhì) | ||
1.一種設(shè)備點(diǎn)檢方法,應(yīng)用于設(shè)備自動(dòng)測試線,所述設(shè)備自動(dòng)測試線至少包括:第一點(diǎn)檢設(shè)備和第二點(diǎn)檢設(shè)備,其特征在于,所述方法包括:
將待測試設(shè)備輸入所述第一點(diǎn)檢設(shè)備,并確定所述第一點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài);
如果所述第一點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài)表明第一點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)所述待測試設(shè)備測試完成,生成第一傳遞指令;
根據(jù)所述第一傳遞指令,將所述待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述第一傳遞指令,將所述待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備,包括:
響應(yīng)所述第一傳遞指令,控制所述設(shè)備自動(dòng)測試線的機(jī)械手將所述待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,在根據(jù)所述第一傳遞指令,將所述待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備之后,所述方法還包括:
確定所述第二點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài);
如果所述第二點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài)表明所述第二點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)所述待測試設(shè)備測試完成,且所述第二點(diǎn)檢設(shè)備為所述設(shè)備自動(dòng)測試線中的最后一個(gè)點(diǎn)檢設(shè)備,生成第一輸出指令;
根據(jù)所述第一輸出指令,將所述待測試設(shè)備從所述設(shè)備自動(dòng)測試線的出料口輸出。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
如果所述第二點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài)表明所述第二點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)所述待測試設(shè)備測試完成,且所述第二點(diǎn)檢設(shè)備不是所述設(shè)備自動(dòng)測試線中的最后一個(gè)點(diǎn)檢設(shè)備,生成第二傳遞指令;
根據(jù)所述第二傳遞指令,將所述待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)應(yīng)的下一個(gè)點(diǎn)檢設(shè)備;
如果最后一個(gè)點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài)表明所述最后一個(gè)點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)所述待測試設(shè)備測試完成,生成第二輸出指令;
根據(jù)所述第二輸出指令,將所述待測試設(shè)備從所述設(shè)備自動(dòng)測試線的出料口輸出。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法,其特征在于,所述第一點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)應(yīng)的所述待測試設(shè)備的部位與所述第二點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)應(yīng)的所述待測試設(shè)備的部位相同或不同。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述將待測試設(shè)備,輸入所述第一點(diǎn)檢設(shè)備,包括:
將所述待測試設(shè)備輸入所述設(shè)備自動(dòng)測試線的進(jìn)料口,以使所述待測試設(shè)備進(jìn)入所述設(shè)備自動(dòng)測試線;
采用所述機(jī)械手將所述待測試設(shè)備,輸入所述第一點(diǎn)檢設(shè)備。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
將M個(gè)待測試設(shè)備輸入所述進(jìn)料口;其中,M為大于等于2的整數(shù);
采用所述機(jī)械手將第i待測試設(shè)備,輸入所述第一點(diǎn)檢設(shè)備,并確定所述第一點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài);其中,i為大于0且小于等于M的整數(shù);
如果第一點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài)表明所述第一點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)所述第i待測試設(shè)備測試完成,生成第i傳遞指令;
根據(jù)所述第i傳遞指令,將第i待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備,并將第m待測試設(shè)備輸入所述第一點(diǎn)檢設(shè)備;其中,m為大于0且小于等于M的整數(shù),且m不等于i。
8.一種設(shè)備點(diǎn)檢裝置,其特征在于,所述裝置包括:第一確定模塊、第一生成模塊和第一傳遞模塊,其中:
所述第一確定模塊,用于將待測試設(shè)備輸入所述第一點(diǎn)檢設(shè)備,并確定所述第一點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài);
所述第一生成模塊,用于如果所述第一點(diǎn)檢設(shè)備的測試狀態(tài)表明第一點(diǎn)檢設(shè)備對(duì)所述待測試設(shè)備測試完成,生成第一傳遞指令;
所述第一傳遞模塊,用于根據(jù)所述第一傳遞指令,將所述待測試設(shè)備傳遞到所述第二點(diǎn)檢設(shè)備。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
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- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
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- 點(diǎn)檢計(jì)劃排程控制裝置
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