[發明專利]一種高精度雷達物位計

在審

• 申請號: 201811381910.3
• 申請日: 2018-11-20
• 公開（公告）號: CN109297565A
• 公開（公告）日: 2019-02-01
• 發明（設計）人: 陳雪中;陳光遠
• 申請（專利權）人: 江蘇華爾威科技集團有限公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種高精度雷達物位計，包括雷達物位計本體、控制器和空壓機，所述雷達物位計本體與料倉連接處設有高精度質量傳感器，所述高精度質量傳感器與控制器相連，所述控制器包括儲存芯片，所述雷達物位計本體上部的料倉上固定有外噴氣環，所述外噴氣環上設有若干噴嘴，所述雷達物位計本體上設有天線罩，所述天線罩內設有雷達波發射器，所述天線罩內壁上通過內噴氣環支架上設有內噴氣環，所述內噴氣環為中空結構且設有若干噴氣孔，其中一個內噴氣環支架為中空結構，該中空內噴氣環支架聯通內噴氣環與空壓機，所述空壓機與控制器相連。本發明可及時發現雷達物位計表面集聚的灰塵，并及時清理，保證測量工作的準確。

技術領域

本發明涉及儀器儀表領域，尤其涉及一種可自動清理天線表面灰塵的雷達物位計。

背景技術

雷達物位計是采用微波脈沖的測量方法對料倉內物料進行物位測量的儀器，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計具有對人體及環境均無傷害，不受介質比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現場校調等優點，不論是對工業需要，還是對顧客經濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。但是被測介質的產生的灰塵會在天線上聚集，此時會影響雷達波的發射，嚴重時雷達波甚至不能發出，從而影響正常的生產工作。

發明內容

為了克服雷達物位計在工作過程中，測量介質產生的灰塵會在天線上聚集，影響測量精度的問題，本發明提供一種高精度雷達物位計，該種高精度雷達物位計在表面灰塵過多時，可自動清理灰塵，從而保證測量工作準確的進行。

本發明解決其技術問題所采用的技術方案是：一種高精度雷達物位計，包括雷達物位計本體、控制器和空壓機，所述控制器設于料倉頂部，所述雷達物位計本體與料倉連接處設有高精度質量傳感器，所述高精度質量傳感器與控制器相連，所述控制器包括儲存芯片，所述雷達物位計本體上部的料倉上固定有外噴氣環，所述外噴氣環為中空結構，所述外噴氣環上設有若干噴嘴，所述外噴氣環通過氣管與空壓機相連，所述雷達物位計本體上設有天線罩，所述天線罩內設有雷達波發射器，所述天線罩內壁上設有內噴氣環支架，所述內噴氣環支架上設有內噴氣環，所述內噴氣環為中空結構，所述雷達波發射器位于內噴氣環上方，所述內噴氣環上設有若干噴氣孔，所述其中一個內噴氣環支架為中空結構，該中空內噴氣環支架一端與內噴氣環相通，另一端穿過天線罩通過氣管與空壓機相連，所述空壓機與控制器相連。

優選的所述控制器為單片機。

儲存芯片內預設有雷達物位計本體質量的允許最大值，當灰塵在雷達物位計表面集聚時，會導致雷達物位計本體質量升高，當高精度質量傳感器檢測到質量升高到預設值時，控制器會使空壓機噴出氣體，氣體從外面的噴嘴和內部噴氣孔噴出吹走內外表面的灰塵，雷達波發射器發射的雷達波存在波束角，故內噴氣環不會影響正常工作。

本發明的有益效果是：可及時發現雷達物位計表面集聚的灰塵，并及時清理，保證測量工作的準確。

附圖說明

下面結合附圖和實例對本發明作進一步的說明。

圖1是本發明的結構示意圖。

圖中1.外噴氣環，2，噴嘴，3.內噴氣環支架，4.噴氣孔，5.氣管，6.空壓機，7.控制器，8.內噴氣環，9.天線罩，10.雷達波發射器。

具體實施方式