[發明專利]基于高溫通電的可靠性測試裝置

在審

• 申請號: 201811381326.8
• 申請日: 2018-11-20
• 公開（公告）號: CN109471010A
• 公開（公告）日: 2019-03-15
• 發明（設計）人: 黃寓洋;王煒鵬
• 申請（專利權）人: 蘇州蘇納光電有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 南京利豐知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 32256
• 代理人: 王鋒

本發明公開了一種基于高溫通電的可靠性測試裝置，所述裝置包括電路板、封裝于電路板上的若干TO管座和開關器件、以及與電路板相連的電源，所述電源用于提供可靠性試驗的電壓和/或電流，所述TO管座并聯連接于電源上，開關器件連接于TO管座和電源之間，開關器件和TO管座一一對應設置，每個開關器件用于控制對應的TO管座的通斷。本發明能夠實現基于高溫通電的可靠性測試，通過各個開關器件控制各個TO管座的通斷，從而進行光電探測器的可靠性測試。

技術領域

本發明涉及光半導體器件測試技術領域，特別是涉及一種基于高溫通電的可靠性測試裝置。

背景技術

光電器件由于噪聲的存在會使其輸出信號失真，影響后續系統測量與應用。然而由于其壽命較長穩定性較高，無法在短時間內得到其噪聲的長期演化規律，或者受使用環境限制無法去測量噪聲，這就需要用到加速老化實驗去利用實驗室環境來人工模擬光電器件長時間使用過程、或極端外界環境，從而得到噪聲的變化情況。

傳統的測試過程中無法監測TO管座的良率，只能在測試結束后逐個進行測試，得到的測試結果均為右刪失值，無法準確捕捉TO的失效時間，會造成可靠性試驗結果的誤差。另外，將光電探測器拔下至另一塊電路板進行測試，拔插過程中容易對器件造成靜電損傷(ESD)和其他物理損傷。

因此，針對上述技術問題，有必要提供一種基于高溫通電的可靠性測試裝置。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種基于高溫通電的可靠性測試裝置。

為了實現上述目的，本發明一實施例提供的技術方案如下：

一種基于高溫通電的可靠性測試裝置，所述裝置包括電路板、封裝于電路板上的若干TO管座和開關器件、以及與電路板相連的電源，所述電源用于提供可靠性試驗的電壓和/或電流，所述TO管座并聯連接于電源上，開關器件連接于TO管座和電源之間，開關器件和TO管座一一對應設置，每個開關器件用于控制對應的TO管座的通斷。

作為本發明的進一步改進，所述TO管座和開關器件封裝于同一個電路板上，TO管座和開關器件通過電路板上的線路層電性連接。

作為本發明的進一步改進，所述TO管座封裝于第一電路板上，開關器件封裝于第二電路板上，TO管座和開關器件通過第一電路板和第二電路板上的線路層電性連接。

作為本發明的進一步改進，所述TO管座包括與電源正極相連的第一管腳、以及與電源負極相連的第二管腳。

作為本發明的進一步改進，所述TO管座為基于TO-46標準的四腳插座。

作為本發明的進一步改進，所述開關器件連接于TO管座的第一管腳、第二管腳和電源正極、負極之間。

作為本發明的進一步改進，所述開關器件為六腳自鎖開關。

作為本發明的進一步改進，所述電路板、TO管座及開關器件采用耐高溫材料制備得到。

本發明的有益效果是：

本發明能夠實現基于高溫通電的可靠性測試，通過各個開關器件控制各個TO管座的通斷，從而進行光電探測器的可靠性測試；

短時間斷電過程不會對光電探測器造成傷害，也不會對可靠性試驗產生誤差，提高了測試準確性；

無需進行光電探測器的插拔，避免了光電探測器的的靜電損傷和其他物理損傷。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明中記載的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。