[發(fā)明專利]蓄電設(shè)備的檢查方法和制造方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811380558.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-11-20 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109959873B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 后藤壯滋;小林極 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 豐田自動(dòng)車株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01R31/385 | 分類號(hào): | G01R31/385;H01M10/04;H01M10/44 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 11247 | 代理人: | 林娜;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 設(shè)備 檢查 方法 制造 | ||
一種蓄電設(shè)備的檢查方法和制造方法,蓄電設(shè)備的檢查方法包括:在蓄電設(shè)備的蓄電容量大的情況下將模擬寄生電阻值設(shè)定為小,并且在所述蓄電設(shè)備的所述蓄電容量小的情況下將模擬寄生電阻值設(shè)定為大的步驟;在對(duì)所述蓄電設(shè)備施加電壓的方向上將所述外部電源與充電完成的所述蓄電設(shè)備連接而形成所述電路,在設(shè)定了所述模擬寄生電阻值的狀態(tài)下取得在所述電路中流動(dòng)的電流的收斂后的電流值的步驟;以及基于所述電流值決定所述蓄電設(shè)備的好壞的步驟。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及判定蓄電設(shè)備的好壞的檢查方法。更詳細(xì)而言,涉及能夠基于放電電流量而不是蓄電設(shè)備的電壓下降量來(lái)迅速地進(jìn)行好壞判定的蓄電設(shè)備的檢查方法。另外,本發(fā)明也將包含該蓄電設(shè)備的檢查方法來(lái)作為工序的一環(huán)的蓄電設(shè)備的制造方法作為對(duì)象。
背景技術(shù)
一直以來(lái),提出了各種判定二次電池或其他蓄電設(shè)備的好壞的檢查方法。例如,在日本特開(kāi)2010-153275中,進(jìn)行在加壓狀態(tài)下放置作為判定對(duì)象的二次電池的放置工序并且在該放置工序的前后測(cè)定電池電壓。放置工序的前后的電池電壓之差即是伴隨著放置的電壓下降量。電壓下降量大的電池是自放電量多的電池。因此,能夠根據(jù)電壓下降量的大小判定二次電池的好壞。這樣的檢查方法有時(shí)也作為制造方法中的一個(gè)工序來(lái)進(jìn)行。
發(fā)明內(nèi)容
然而,在所述的現(xiàn)有的二次電池的好壞判定中,存在以下那樣的問(wèn)題點(diǎn)。好壞判定花費(fèi)時(shí)間。好壞判定花費(fèi)時(shí)間的原因在于,當(dāng)沒(méi)有將放置工序的放置時(shí)間設(shè)置得很長(zhǎng)時(shí),無(wú)法成為可以說(shuō)有意義的程度的電壓下降量。作為其原因,存在電壓測(cè)定時(shí)的接觸電阻。電壓測(cè)定中,通過(guò)將測(cè)定儀表連接在二次電池的兩端子間來(lái)進(jìn)行測(cè)定。此時(shí),不可避免地在二次電池側(cè)的端子與測(cè)定儀表側(cè)的端子之間存在接觸電阻,測(cè)定結(jié)果會(huì)受到接觸電阻的影響。而且,每當(dāng)使二次電池側(cè)的端子與測(cè)定儀表側(cè)的端子連接時(shí),接觸電阻都不同。因此,當(dāng)電壓下降量本身不大到某種程度時(shí),無(wú)法忽視每次接觸電阻的測(cè)定時(shí)的偏差。
并且,電壓測(cè)定的精度本身也不怎么高。這是由于,電壓測(cè)定一定會(huì)受到測(cè)定時(shí)的通電路徑中的電壓下降的影響。并且,由于二次電池側(cè)的端子與測(cè)定儀表側(cè)的端子的接觸位置在每次連接時(shí)多少有些不同,所以電壓下降的程度也在每次測(cè)定時(shí)存在偏差。因此,可考慮通過(guò)使用電流測(cè)定代替電壓測(cè)定,從而縮短自放電量的測(cè)定時(shí)間并提高測(cè)定精度。這是因?yàn)椋捎陔娏髟陔娐穬?nèi)的任意位置都一定,所以與電壓測(cè)定不同,基本上不會(huì)受到接觸位置的影響。但是,盡管如此,也并不是僅單純地將電壓測(cè)定置換為電流測(cè)定就能夠進(jìn)行良好的判定。這是由于,測(cè)定結(jié)果會(huì)受到二次電池的充電電壓、測(cè)定環(huán)境等各個(gè)條件的偏差影響。
本發(fā)明提供與各個(gè)條件的偏差無(wú)關(guān)地能夠迅速地進(jìn)行蓄電設(shè)備的好壞判定的蓄電設(shè)備的檢查方法和制造方法。
本發(fā)明的第一技術(shù)方案中的蓄電設(shè)備的檢查方法包括:以在蓄電設(shè)備的蓄電容量大的情況下與所述蓄電容量小的情況相比使模擬寄生電阻值小的方式設(shè)定模擬寄生電阻值,并且以在所述蓄電設(shè)備的所述蓄電容量小的情況下與所述蓄電容量大的情況相比使模擬寄生電阻值大的方式設(shè)定模擬寄生電阻值的工序,所述模擬寄生電阻值通過(guò)將外部電源的電壓值的相對(duì)于所述蓄電設(shè)備的初始電壓值的超過(guò)量除以電路的電流值而得到(模擬電阻設(shè)定工序);在對(duì)蓄電設(shè)備施加電壓的方向上將外部電源連接于充電完成的蓄電設(shè)備而形成電路,在設(shè)定了模擬寄生電阻值的狀態(tài)下取得在電路中流動(dòng)的電流的收斂后的電流值的工序(電流測(cè)定工序);以及基于所述電流值決定蓄電設(shè)備的好壞的工序(好壞決定工序)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于豐田自動(dòng)車株式會(huì)社,未經(jīng)豐田自動(dòng)車株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201811380558.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種基于單片機(jī)控制的蓄電池狀態(tài)在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及方法
- 下一篇:蓄電設(shè)備的評(píng)價(jià)方法、評(píng)價(jià)工具及蓄電設(shè)備的制造方法
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 傳感設(shè)備、檢索設(shè)備和中繼設(shè)備
- 簽名設(shè)備、檢驗(yàn)設(shè)備、驗(yàn)證設(shè)備、加密設(shè)備及解密設(shè)備
- 色彩調(diào)整設(shè)備、顯示設(shè)備、打印設(shè)備、圖像處理設(shè)備
- 驅(qū)動(dòng)設(shè)備、定影設(shè)備和成像設(shè)備
- 發(fā)送設(shè)備、中繼設(shè)備和接收設(shè)備
- 定點(diǎn)設(shè)備、接口設(shè)備和顯示設(shè)備
- 傳輸設(shè)備、DP源設(shè)備、接收設(shè)備以及DP接受設(shè)備
- 設(shè)備綁定方法、設(shè)備、終端設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)側(cè)設(shè)備
- 設(shè)備、主設(shè)備及從設(shè)備
- 設(shè)備向設(shè)備轉(zhuǎn)發(fā)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 氫燃料制造系統(tǒng)、氫燃料制造方法以及氫燃料制造程序
- 單元控制系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)以及控制方法
- 制造裝置及制造方法以及制造系統(tǒng)
- 一種三相異步電動(dòng)機(jī)制造工藝方法
- 制造設(shè)備、制造裝置和制造方法
- 用于監(jiān)測(cè)光學(xué)鏡片制造過(guò)程的方法
- 產(chǎn)品的制造系統(tǒng)、惡意軟件檢測(cè)系統(tǒng)、產(chǎn)品的制造方法以及惡意軟件檢測(cè)方法
- 一種面向制造服務(wù)的制造能力評(píng)估方法
- 一種基于云制造資源的制造能力建模方法
- 制造設(shè)備系統(tǒng)、制造設(shè)備以及制造方法





